斜面对称度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种斜面对称度测量装置，包括第一测量机构、第二测量机构、校验机构以及基准分中机构，所述第一测量机构包括具有第一探针的第一千分表，所述第二测量机构包括具有第二探针的第二千分表，所述基准分中机构设于第一千分表与所述第二千分表之间，所述第一探针与所述第二探针位于同一水平线上，所述第一探针朝向远离所述第二千分表的方向，所述第二探针朝向远离所述第一千分表的方向；所述基准分中机构包括水平载物台，所述水平载物台用于承载所述校验机构或待测产品。该斜面对称度测量装置的测量过程简单快捷，且可保证相对两个斜面(第一待测斜面与第二待测斜面)上的取点在同一水平线上。点在同一水平线上。点在同一水平线上。

【技术实现步骤摘要】
斜面对称度测量装置


[0001]本技术涉及斜面对称度测量
，特别是涉及一种斜面对称度测量装置。

技术介绍

[0002]如图1所示，其为现有的一种框形产品1a，该产品1a的内壁常形成有若干斜面11a，在应用时需保证相对的两个斜面11a(如图1中示出的斜面111a与斜面112a)是关于产品1a的中心对称的。因此，在产品1a应用前，通常需对相对的两个斜面11a间的对称度进行检测。然而，由于产品1a基准处(采用分中基准的方式)公差大且检测面为斜面11a，目前只能三次元测量，无法实现检具快速检测。此外，在进行对称度检测时，相对的两个斜面11a上的取点必须保证在同一水平线上,而现有技术中对于水平点位取点的实现较为困难。

技术实现思路

[0003]基于此，本技术提供一种斜面对称度测量装置，先通过所述校验机构对所述第一千分表及所述第二千分表进行校验归零，再将待测产品置于所述水平载物台上，通过对所述第一千分表及所述第二千分表的测量值进行对比，达到检测斜面对称度的目的。
[0004]一种斜面对称度测量装置，包括第一测量机构、第二测量机构、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种斜面对称度测量装置，其特征在于：包括第一测量机构、第二测量机构、校验机构以及基准分中机构，所述第一测量机构包括具有第一探针的第一千分表，所述第二测量机构包括具有第二探针的第二千分表，所述基准分中机构设于第一千分表与所述第二千分表之间，所述第一探针与所述第二探针位于同一水平线上，所述第一探针朝向远离所述第二千分表的方向，所述第二探针朝向远离所述第一千分表的方向；所述基准分中机构包括水平载物台，所述水平载物台用于承载所述校验机构或待测产品；所述水平载物台上承载有所述校验机构时，所述第一千分表及所述第二千分表可通过所述校验机构进行校验归零；所述水平载物台上承载有待测产品时，所述第一探针朝向待测产品内壁的第一待测斜面，所述第二探针朝向待测产品内壁的与第一待测斜面相对的第二待测斜面。2.根据权利要求1所述的斜面对称度测量装置，其特征在于：所述基准分中机构还包括第一侧滑块、第二侧滑块以及中心滑块，所述第一侧滑块、所述第二侧滑块及所述中心滑块均设于所述水平载物台上，所述第一侧滑块滑动连接在所述中心滑块朝向所述第一千分表的一侧，所述第二侧滑块滑动连接在所述中心滑块朝向所述第二千分表的一侧；所述中心滑块沿高度方向运动时，可使所述第一侧滑块与所述第二侧滑块向靠近彼此或远离彼此的方向运动；所述第一探针设于所述中心滑块朝向所述第一侧滑块一侧，所述第二探针设于所述中心滑块朝向所述第二侧滑块一侧。3.根据权利要求2所述的斜面对称度测量装置，其特征在于：所述中心滑块朝向所述第一千分表的一侧形成有第一凸起，所述第一凸起的延伸方向与高度方向相交；所述第一侧滑块上形成有与所述第一凸起适配的第一滑槽，所述第一滑槽与所述第一凸起滑动连接。4.根据权利要求2所述的斜面对称度测量装置，其特征在于：所述中心滑块朝向所述第二千分表的一侧形成有第二凸起，所述第二凸起的延伸方向与高度方向相交；所述第二侧滑块上形成有与所述第二凸起适配的第二滑槽，所述第二滑槽与所述第二凸起滑动连接。5.根据权利要求2所述的斜面对称度测量装置，其特征在于：所述基准分中机构还包括中心按键以及中心弹性件，所述中心按键设于所述中心滑块上；所述斜面对称度测量装置还包括底板，所述水平载物台设于所述底板上，所述中心弹性件的一端穿过所述水平载物台与所述中心滑块弹性抵接，所述中心弹性件的另一端与所述底板弹性抵接。6.根据权利要求5所述的斜面对称度测量装...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍拥军，王斌，
申请(专利权)人：东莞市新美洋技术有限公司，
类型：新型
国别省市：