一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质，所述的方法包括：获取检测设备与激光设备之间的标准高度差，标准高度差为预先配置的；获取激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下，激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和激光设备在第一预设位置的第一显示数据；将标准高度差、第一距离和第一显示数据进行加和处理，得到检测设备处于第一状态时相对于预设标定原点的第一高度，第一状态为检测设备的下表面与待检测工件的上表面接触的状态；将第一高度和预设检测距离作差处理，得到检测设备检测待检测工件时相对于预设标定原点的相对高度；本申请自适应性强且灵活性高，测量精度高，节约成本，生产效率高。生产效率高。生产效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及检测系统的高度标定
，尤其涉及一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]检测设备在测量待检测工件的产品数据前，需要确认检测设备与待检测工件之间的距离；例如，高斯探头在测量待检测产品的高斯数据前，需要确认高斯探头与待检测产品之间距离；现有技术中，在进行距离确认时通过用户操作塞尺进行测量；然而，不同人员用塞尺确认探头与待检测产品之间的距离时的手感不同；进而造成探头和待检测产品之间的距离会有较大的差异。若探头与待检测产品之间的距离不同，则用探头测量待检测产品的高斯数据时也会存在较大差异。且这种检测方式不仅检测误差大，且使得不同机台之间的相关性较难对应。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本申请公开了一种设备高度标定方法，自适应性强且灵活性高，操作方便快捷，且测量精度高，减少标定误差，节约了时间成本，提高了生产效率。
[0004]为了达到上述专利技术目的，本申请提供了一种设备高度标定方法，所述的方法包括：
[0005]获取检测设备与激光设备之间的标准高度差，所述标准高度差为预先配置的；
[0006]获取所述激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下，所述激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和所述激光设备在所述第一预设位置的第一显示数据，所述第一显示数据表征所述激光设备的激光发射位与待检测工件上表面之间的垂直距离；
[0007]将所述标准高度差、所述第一距离和所述第一显示数据进行加和处理，得到所述检测设备处于第一状态时相对于所述预设标定原点的第一高度，其中，所述第一状态为所述检测设备的下表面与所述待检测工件的上表面接触的状态；
[0008]将所述第一高度和预设检测距离作差处理，得到所述检测设备检测所述待检测工件时相对于所述预设标定原点的相对高度。
[0009]在一些实施方式中，在所述获取检测设备与激光设备之间的标准高度差之前，还包括：
[0010]获取检测设备位于位移检测装置上方第二预设位置的情况下，所述检测设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第二距离；
[0011]获取激光设备位于所述位移检测装置上方第三预设位置的情况下，所述激光设备相对于所述预设标定原点在竖直方向上的第三距离以及所述激光设备在所述第三预设位置的第二显示数据；
[0012]基于所述第二距离、所述第三距离和所述第二显示数据进行加减计算，得到所述检测设备与所述激光设备之间的标准高度差。
[0013]在一些实施方式中，在所述获取检测设备位于位移检测装置上方第二预设位置的情况下，所述检测设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第二距离之前，所述方法还包括：
[0014]获取检测设备的当前位置；
[0015]在所述检测设备位于所述当前位置的情况下，判断所述检测设备的下表面与所述位移检测装置的上表面是否接触；
[0016]若是，则判定所述检测设备的当前位置为所述位移检测装置上方第二预设位置。
[0017]在一些实施方式中，在所述获取激光设备位于所述位移检测装置上方第三预设位置的情况下，所述激光设备相对于所述预设标定原点在竖直方向上的第三距离以及所述激光设备在所述第三预设位置的第二显示数据之前，所述方法还包括：
[0018]获取激光设备的激光发射位的第一当前位置；
[0019]获取所述第一当前位置与所述位移检测装置的上表面在竖直方向上的第一距离信息；
[0020]判断所述第一距离信息是否满足所述激光设备的预设工作距离；
[0021]若是，则判定所述激光设备位于所述位移检测装置上方第三预设位置。
[0022]在一些实施方式中，所述基于所述第二距离、所述第三距离和所述第二显示数据进行加减计算，得到所述检测设备与所述激光设备之间的标准高度差包括：
[0023]将所述第二距离与所述第三距离相减，得到第一差值；
[0024]将所述第一差值与所述第二显示数据进行加和处理，得到所述标准高度差。
[0025]在一些实施方式中，在所述获取所述激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下，所述激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和所述激光设备在所述第一预设位置的第一显示数据之前，所述方法还包括：
[0026]获取激光设备的激光发射位的第二当前位置；
[0027]获取所述第二当前位置与所述待检测工件的上表面在竖直方向上的第二距离信息；
[0028]判断所述第二距离信息是否满足所述激光设备的预设工作距离；
[0029]若是，则判定所述激光设备位于所述待检测工件上方第一预设位置。
[0030]在一些实施方式中，所述获取所述激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下，所述激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和所述激光设备在所述第一预设位置的第一显示数据包括：
[0031]在所述激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下，计算所述激光设备的激光发射位与所述预设标定原点在z轴方向上的距离，得到所述激光设备相对于所述预设标定原点的第一距离；
[0032]读取所述激光设备照射所述待检测工件上表面时所述激光设备的当前显示数据，得到所述激光设备在所述第一预设位置的第一显示数据。
[0033]本申请还提供了一种设备高度标定装置，所述的装置包括：
[0034]第一获取模块，用于获取检测设备与激光设备之间的标准高度差，所述标准高度差为预先配置的；
[0035]第二获取模块，用于获取所述激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况
下，所述激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和所述激光设备在所述第一预设位置的第一显示数据，所述第一显示数据表征所述激光设备的激光发射位与待检测工件上表面之间的垂直距离；
[0036]第一处理模块，用于将所述标准高度差、所述第一距离和所述第一显示数据进行加和处理，得到所述检测设备处于第一状态时相对于所述预设标定原点的第一高度，其中，所述第一状态为所述检测设备与所述待检测工件的上表面接触的状态；
[0037]第二处理模块，用于将所述第一高度和预设检测距离作差处理，得到所述检测设备检测所述待检测工件时相对于所述预设标定原点的相对高度。
[0038]本申请还提供了一种高度标定设备，所述设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令或至少一段程序，所述至少一条指令或所述至少一段程序由所述处理器加载并执行以实现如上述所述的设备高度标定方法。
[0039]本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令或至少一段程序，所述至少一条指令或所述至少一段程序由处理器加载并执行如上述所述的设备高度标定方法。
[0040]实施本申请实施例，具有如下有益效果：
[0041]本申请公开的设备高度标定方法，通过检测设备与激光设备之间的位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备高度标定方法，其特征在于，所述的方法包括：获取检测设备与激光设备之间的标准高度差，所述标准高度差为预先配置的；获取所述激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下，所述激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和所述激光设备在所述第一预设位置的第一显示数据，所述第一显示数据表征所述激光设备的激光发射位与待检测工件上表面之间的垂直距离；将所述标准高度差、所述第一距离和所述第一显示数据进行加和处理，得到所述检测设备处于第一状态时相对于所述预设标定原点的第一高度，其中，所述第一状态为所述检测设备的下表面与所述待检测工件的上表面接触的状态；将所述第一高度和预设检测距离作差处理，得到所述检测设备检测所述待检测工件时相对于所述预设标定原点的相对高度。2.根据权利要求1所述的设备高度标定方法，其特征在于，在所述获取检测设备与激光设备之间的标准高度差之前，还包括：获取检测设备位于位移检测装置上方第二预设位置的情况下，所述检测设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第二距离；获取激光设备位于所述位移检测装置上方第三预设位置的情况下，所述激光设备相对于所述预设标定原点在竖直方向上的第三距离以及所述激光设备在所述第三预设位置的第二显示数据；基于所述第二距离、所述第三距离和所述第二显示数据进行加减计算，得到所述检测设备与所述激光设备之间的标准高度差。3.根据权利要求2所述的设备高度标定方法，其特征在于，在所述获取检测设备位于位移检测装置上方第二预设位置的情况下，所述检测设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第二距离之前，所述方法还包括：获取检测设备的当前位置；在所述检测设备位于所述当前位置的情况下，判断所述检测设备的下表面与所述位移检测装置的上表面是否接触；若是，则判定所述检测设备的当前位置为所述位移检测装置上方第二预设位置。4.根据权利要求2所述的设备高度标定方法，其特征在于，在所述获取激光设备位于所述位移检测装置上方第三预设位置的情况下，所述激光设备相对于所述预设标定原点在竖直方向上的第三距离以及所述激光设备在所述第三预设位置的第二显示数据之前，所述方法还包括：获取激光设备的激光发射位的第一当前位置；获取所述第一当前位置与所述位移检测装置的上表面在竖直方向上的第一距离信息；判断所述第一距离信息是否满足所述激光设备的预设工作距离；若是，则判定所述激光设备位于所述位移检测装置上方第三预设位置。5.根据权利要求2所述的设备高度标定方法，其特征在于，所述基于所述第二距离、所述第三距离和所述第二显示数据进行加减计算，得到所述检测设备与所述激光设备之间的标准高度差包括：将所述第二距离与所述第三距离...

【专利技术属性】
技术研发人员：燕福生，段永超，
申请(专利权)人：苏州佳祺仕信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：