本实用新型专利技术提供高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，涉及测试仪领域。该高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪包括测试仪本体，所述测试仪本体一侧设置有齿条，所述齿条一侧啮合连接有齿轮，所述齿轮内部固定连接有蜗杆，所述蜗杆顶部啮合连接有蜗轮，所述蜗轮内部固定连接有转动杆。该高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，齿轮转动带动蜗杆转动，蜗杆转动带动蜗轮转动，蜗轮转动带动转动杆转动，转动杆转动带动测试仪本体转动，同时通过蜗杆带动蜗轮转动，便于在测试仪本体调节完角度之后使测试仪本体固定，此结构有益于对测试仪本体进行角度调节，便于对测试仪本体从不同角度进行观测，结构简单，操作方便。操作方便。操作方便。
【技术实现步骤摘要】
高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪
[0001]本技术涉及一种综合测试仪，具体为高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，属于测试仪
技术介绍
[0002]目前，随着电器产品的普及和人们对电器产品使用安全意识的提高，生产企业逐渐使用安全性能综合测试仪对生产电器产品进行安全性能的测试。安全性能综合测试仪是集交直流耐压、接地电阻、绝缘电阻、泄漏电流等测试为一体，能快速准确地完成上述性能指标的测试，是各电器生产厂家和质检部门重要的检测设备。为此，安全性能综合测试仪的校准就显得尤为重要，为了确保安全性能综合测试仪测试数据的准确度，需要定期对安全性能综合测试仪计量参数进行校准。
[0003]传统的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪在进行安全性能测试的时候，一般测试仪都是直接放置在桌面上的，角度不能调节，在读数的时候不够方便，需要工作人员一直低头去观察读数，进而造成工作人员的工作不便，同时降低了工作效率。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，以解决现有技术中在进行安全性能测试的时候，一般测试仪都是直接放置在桌面上的，角度不能调节，在读数的时候不够方便，需要工作人员一直低头去观察读数，进而造成工作人员的工作不便，同时降低了工作效率的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体一侧设置有齿条，所述齿条一侧啮合连接有齿轮，所述齿轮内部固定连接有蜗杆，所述蜗杆顶部啮合连接有蜗轮，所述蜗轮内部固定连接有转动杆，所述测试仪本体顶部设置有升降组件。
[0008]优选地，所述升降组件包括套筒，所述套筒固定连接于测试仪本体顶部，所述套筒内部滑动连接有螺纹杆，所述螺纹杆顶部转动连接有支撑块，通过设置有螺纹杆，进而便于调节测试仪本体的高度，以便于方便工作人员进行读数。
[0009]优选地，所述套筒内部开设有滑槽，所述螺纹杆外侧固定连接有滑块，所述滑块滑动接触于滑槽内部，通过设置有滑块，进而便于带动螺纹杆边转动边向上运动，进而可以调节测试仪本体的高度。
[0010]优选地，所述测试仪本体一侧设置有支板，所述支板螺纹连接于螺纹杆外侧，所述支板底部固定连接有支撑板，通过设置有支板，进而便于对螺纹杆进行支撑，以此带动螺纹杆进行转动对测试仪本体进行固定。
[0011]优选地，所述支撑板顶部固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆顶部固定连接有固定块，
所述转动杆的数量设置为两个，其中一个所述转动杆转动连接于固定块内部，另外一个所述转动杆转动连接于支撑块内部，两个所述转动杆分别固定连接于测试仪本体两侧，通过设置有伸缩杆，进而便于对测试仪本体进行支撑和限位，以此对测试仪本体进行角度调节，方便工作人员进行读取数据。
[0012]优选地，所述测试仪本体一侧分别安装有插座和显示屏，所述插座设置于显示屏一侧，通过设置有显示屏，进而便于显示测试仪本体测试的读数。
[0013]优选地，所述支撑块顶部开设有条形槽，所述支撑块滑动连接于齿条外侧，所述支撑块转动连接于蜗杆外侧，通过设置有支撑块，进而便于对齿条和蜗杆进行支撑，便于齿条带动齿轮转动，齿轮转动带动转动杆转动，转动杆转动带动测试仪本体转动，增加测试仪本体的实用性。
[0014]本技术提供了高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，其具备的有益效果如下：
[0015]1、该高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，齿轮转动带动蜗杆转动，蜗杆转动带动蜗轮转动，蜗轮转动带动转动杆转动，进而转动杆转动带动测试仪本体转动，同时通过蜗杆带动蜗轮转动，进而便于在测试仪本体调节完角度之后使测试仪本体固定，此结构有益于对测试仪本体进行角度调节，便于对测试仪本体从不同角度进行观测，结构简单，操作方便。
[0016]2、该高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，套筒转动带动螺纹杆转动，套筒转动带动螺纹杆边转动边向上运动，此时由于支撑块转动连接于螺纹杆顶部，进而螺纹杆转动向上运动带动支撑块向上运动，由于转动杆转动连接于支撑块内部，进而支撑块向上运动带动转动杆向上运动，转动杆向上运动带动测试仪本体向上运动，进而可以调节测试仪本体的高度，进而便于对测试仪本体进行观测数据，同时方便插入插头。
附图说明
[0017]图1为本技术的整体结构示意图；
[0018]图2为本技术套筒结构示意图；
[0019]图3为本技术齿轮结构示意图；
[0020]图4为本技术螺纹杆结构示意图。
[0021]图中：1、测试仪本体；2、齿条；3、齿轮；4、蜗杆；5、蜗轮；6、转动杆；7、套筒；8、螺纹杆；9、滑槽；10、滑块；12、支撑块；13、条形槽；14、插座；15、显示屏；16、支撑板；17、伸缩杆；18、支板。
具体实施方式
[0022]本技术实施例提供高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪。
[0023]请参阅图1、图2、图3和图4，包括测试仪本体1，测试仪本体1一侧设置有齿条2，齿条2一侧啮合连接有齿轮3，齿轮3内部固定连接有蜗杆4，蜗杆4顶部啮合连接有蜗轮5，蜗轮5内部固定连接有转动杆6，测试仪本体1顶部设置有升降组件，升降组件包括套筒7，套筒7固定连接于测试仪本体1顶部，套筒7内部滑动连接有螺纹杆8，螺纹杆8顶部转动连接有支撑块12，套筒7内部开设有滑槽9，螺纹杆8外侧固定连接有滑块10，滑块10滑动接触于滑槽9
内部，支撑块12顶部开设有条形槽13，支撑块12滑动连接于齿条2外侧，支撑块12转动连接于蜗杆4外侧。
[0024]具体地：当需要使用该测试仪本体1时，一般测试仪本体1是直接放置在桌面上的，直接平视读数包括插头不够方便，此时可以转动套筒7，由于滑块10滑动连接于滑槽9内部，进而套筒7转动带动螺纹杆8转动，由于支板18螺纹连接于螺纹杆8外侧，进而套筒7转动带动螺纹杆8边转动边向上运动，此时由于支撑块12转动连接于螺纹杆8顶部，进而螺纹杆8转动向上运动带动支撑块12向上运动，由于转动杆6转动连接于支撑块12内部，进而支撑块12向上运动带动转动杆6向上运动，转动杆6向上运动带动测试仪本体1向上运动，进而可以调节测试仪本体1的高度，进而便于对测试仪本体1进行观测数据，同时方便插入插头。
[0025]具体地：为了方便对数据进行观测，此时可以向下按压齿条2，由于齿轮3啮合连接于齿条2一侧，进而齿条2向下运动带动齿轮3转动，由于蜗杆4固定连接于齿轮3内部，进而齿轮3转动带动蜗杆4转动，由于蜗轮5啮合连接于蜗杆4顶部，进而蜗杆4转动带动蜗轮5转动，由于转动杆6固定连接于蜗轮5内部，进而蜗轮5转动带动转动杆6转动，由于测试仪本体1固定连接于转动杆6外侧，进而转动杆6转动带动测试仪本体1转动，同时通过蜗杆4带动蜗轮5转动，进本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)一侧设置有齿条(2)，所述齿条(2)一侧啮合连接有齿轮(3)，所述齿轮(3)内部固定连接有蜗杆(4)，所述蜗杆(4)顶部啮合连接有蜗轮(5)，所述蜗轮(5)内部固定连接有转动杆(6)，所述测试仪本体(1)顶部设置有升降组件。2.根据权利要求1所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，其特征在于：所述升降组件包括套筒(7)，所述套筒(7)固定连接于测试仪本体(1)顶部，所述套筒(7)内部滑动连接有螺纹杆(8)，所述螺纹杆(8)顶部转动连接有支撑块(12)。3.根据权利要求2所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，其特征在于：所述套筒(7)内部开设有滑槽(9)，所述螺纹杆(8)外侧固定连接有滑块(10)，所述滑块(10)滑动接触于滑槽(9)内部。4.根据权利要求1所述的高密度智能手机用集成电路校准综合测试仪，其特征在于：所述测试仪本体(1)一侧设置...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪晓波，凌晨，
申请(专利权)人：博测通讯科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：
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