一种EMC性能测试设备制造技术

本实用新型专利技术属于EMC测试技术领域，具体为一种EMC性能测试设备，包括：下箱体和上箱罩，所述下箱体为中空且上下侧开口的形状，所述上箱罩为中空且下部开口的形状，所述上箱罩可拆卸连接在下箱体的上部开口处，所述下箱体的下部开口处设置有底板；吸波材料层，所述吸波材料层设置在下箱体和上箱罩的内壁上；抗干扰旋转台，所述抗干扰旋转台安装在底板上；EMC测试仪器，所述EMC测试仪器安装在上箱罩的内壁上。采用抗干扰旋转台，在测试过程，对内侧被测试的产品干扰较小，降低影响，保证测试结果的准确性；通过下箱体和上箱罩的组合方式，在运输过程可拆卸运输，运输稳定性较好。运输稳定性较好。运输稳定性较好。

【技术实现步骤摘要】
一种EMC性能测试设备


[0001]本技术涉及EMC测试
，具体为一种EMC性能测试设备。

技术介绍

[0002]EMC(电磁兼容性)(ElectroMagneticCompatibility)，是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对其环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此，EMC包括两个方面的要求：一方面是指设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值；另一方面是指器具对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即电磁敏感性。
[0003]通常将被测产品置于暗室内进行EMC性能测试，目前的暗室对于产品测试时，将产品置于转台上，由于转台自身在驱动旋转时也会产生干扰，对测试结果产生影响，目前多采用将转台驱动机构置于暗室外部，但是这样占用空间大。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种EMC性能测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种EMC性能测试设备，包括：
[0006]下箱体和上箱罩，所述下箱体为中空且上下侧开口的形状，所述上箱罩为中空且下部开口的形状，所述上箱罩可拆卸连接在下箱体的上部开口处，所述下箱体的下部开口处设置有底板；
[0007]吸波材料层，所述吸波材料层设置在下箱体和上箱罩的内壁上；
[0008]抗干扰旋转台，所述抗干扰旋转台安装在底板上；
[0009]EMC测试仪器，所述EMC测试仪器安装在上箱罩的内壁上。
[0010]进一步地，所述下箱体的下侧边缘处与底板采用焊接连接或螺栓固定连接。
[0011]进一步地，所述上箱罩的下部开口处与下箱体的上部开口处通过卡槽配合连接，且下箱体和上箱罩的配合处内外侧平整。
[0012]进一步地，所述下箱体的侧壁上开设有门洞，所述门洞上设置有开合门。
[0013]进一步地，所述EMC测试仪器安装在上箱罩内腔左右前后侧壁及内腔上侧壁。
[0014]进一步地，所述抗干扰旋转台包括安装在底板上侧的抗干扰壳体和位于抗干扰壳体上侧的承载板，所述抗干扰壳体内设置有用于对承载板驱动旋转的驱动机构。
[0015]进一步地，所述驱动机构包括转动连接在底板上的转轴，所述转轴的上端与承载板下表面固定连接，所述抗干扰壳体内设置有驱动马达，所述驱动马达的输出轴与转轴之间通过齿轮副连接。
[0016]进一步地，所述底板上开设有走线孔，所述走线孔位于抗干扰壳体内侧，所述承载板的上表面均匀设置有支撑凸块。
[0017]进一步地，所述下箱体的外壁下边缘处向外延伸形成连接板。
[0018]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0019]1)采用抗干扰旋转台，在测试过程，对内侧被测试的产品干扰较小，降低影响，保证测试结果的准确性；
[0020]2)通过下箱体和上箱罩的组合方式，在运输过程可拆卸运输，运输稳定性较好。
附图说明
[0021]图1为本技术结构示意图；
[0022]图2为本技术下箱体、上箱罩的内部结构示意图；
[0023]图3为本技术抗干扰旋转台的内部结构示意图。
[0024]图中：1下箱体、11连接板、12开合门、13底板、2上箱罩、3吸波材料层、4EMC测试仪器、5抗干扰旋转台、51抗干扰壳体、52承载板、53转轴、54驱动马达、55齿轮副、56走线孔、57支撑凸块。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0027]实施例：
[0028]请参阅图1
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3，本技术提供一种技术方案：一种EMC性能测试设备，包括：
[0029]下箱体1和上箱罩2，所述下箱体1为中空且上下侧开口的形状，所述上箱罩2为中空且下部开口的形状，所述上箱罩2可拆卸连接在下箱体1的上部开口处，所述下箱体1的下部开口处设置有底板13；如图1、2所示，下箱体1和上箱罩2组合时，下箱体1和上箱罩2的外表面和内表面均为平整状态。
[0030]吸波材料层3，所述吸波材料层3设置在下箱体1和上箱罩2的内壁上；吸波材料层3的材料由工作频率范围在30MHz～1000MHz的单层铁氧体片以及锥形含碳海绵吸波材料构成，锥形含碳海绵吸波材料是由聚氨酯泡沫塑料在碳胶溶液中渗透而成，具有较好的阻燃特性(现有技术，此处不做赘述)。
[0031]抗干扰旋转台5，所述抗干扰旋转台5安装在底板13上；抗干扰旋转台5能够防止内部的驱动机构产生对测试结果影响的干扰。
[0032]EMC测试仪器4，所述EMC测试仪器4安装在上箱罩2的内壁上。EMC测试仪器4采用现有的一些测试仪器或测试电路的组合，能够对被测产品的EMI(ElectroMagneticInterference，电磁干扰)和EMS(ElectroMagnetic Susceptibility，电磁抗扰度)进行测试的仪器，采用现有技术，此处不做赘述。
[0033]优选的，所述下箱体1的下侧边缘处与底板13采用焊接连接或螺栓固定连接。
[0034]优选的，所述上箱罩2的下部开口处与下箱体1的上部开口处通过卡槽配合连接，且下箱体1和上箱罩2的配合处内外侧平整。
[0035]优选的，所述下箱体1的侧壁上开设有门洞，所述门洞上设置有开合门12。开合门12的设置，方便进出和对被测试产品的更换。
[0036]优选的，所述EMC测试仪器4安装在上箱罩2内腔左右前后侧壁及内腔上侧壁。多个方位对被测试产品进行检测，准确度较高，将各个EMC测试仪器4测试的数据集中并作出对比。
[0037]优选的，所述抗干扰旋转台5包括安装在底板13上侧的抗干扰壳体51和位于抗干扰壳体51上侧的承载板52，所述抗干扰壳体51内设置有用于对承载板52驱动旋转的驱动机构。
[0038]优选的，所述驱动机构包括转动连接在底板13上的转轴53，所述转轴53的上端与承载板52下表面固定连接，所述抗干扰壳体51内设置有驱动马达54，所述驱动马达54的输出轴与转轴53之间通过齿轮副55连接。齿轮副包括安装在驱动马达54输出轴上的主动齿轮和转轴53上的从动齿轮，驱动马达54通过主动齿轮带动从动齿轮、转轴53、承载板52本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种EMC性能测试设备，其特征在于，包括：下箱体(1)和上箱罩(2)，所述下箱体(1)为中空且上下侧开口的形状，所述上箱罩(2)为中空且下部开口的形状，所述上箱罩(2)可拆卸连接在下箱体(1)的上部开口处，所述下箱体(1)的下部开口处设置有底板(13)；吸波材料层(3)，所述吸波材料层(3)设置在下箱体(1)和上箱罩(2)的内壁上；抗干扰旋转台(5)，所述抗干扰旋转台(5)安装在底板(13)上；EMC测试仪器(4)，所述EMC测试仪器(4)安装在上箱罩(2)的内壁上。2.根据权利要求1所述的一种EMC性能测试设备，其特征在于：所述下箱体(1)的下侧边缘处与底板(13)采用焊接连接或螺栓固定连接。3.根据权利要求1所述的一种EMC性能测试设备，其特征在于：所述上箱罩(2)的下部开口处与下箱体(1)的上部开口处通过卡槽配合连接，且下箱体(1)和上箱罩(2)的配合处内外侧平整。4.根据权利要求1所述的一种EMC性能测试设备，其特征在于：所述下箱体(1)的侧壁上开设有门洞，所述门洞上设置有开合门(12)。5.根据权利要求1所述的一种EMC性能测...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪晓波，凌晨，
申请(专利权)人：博测通讯科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：