一种测试夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试夹具，通过在底座上设置槽孔，使连接器垫片具有多个固定位置，从而可以在更换测试电路板时，通过调节连接器垫片的位置，使固定在连接器垫片上的连接器连接更换后测试电路板的传输线。进而提高测试夹具的通用性，降低测试成本，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试夹具


[0001]本技术涉及电子器件测试
，尤其涉及一种测试夹具。

技术介绍

[0002]相关技术的用于非焊接式微波器件测试的测试夹具，根据微波器件的型号规格进行单独适配设计，不具有通用性。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术的目的在于提出一种测试夹具。
[0004]基于上述目的，本技术提供了一种测试夹具，包括：
[0005]底座，用于承载测试电路板，底座设置至少一个槽孔；连接器垫片，用于承载连接器，连接器垫片设置第一固定孔；以及第一固定组件；
[0006]其中，测试电路板设置至少一条传输线；当连接器垫片固定在底座上时，第一固定组件穿过第一固定孔和槽孔，连接器连接传输线；连接器垫片的位置根据传输线位置不同而不同。
[0007]从上面所述可以看出，本技术提供的测试夹具，通过在底座上设置槽孔，使连接器垫片具有多个固定位置，从而可以在更换测试电路板时，通过调节连接器垫片的位置，使固定在连接器垫片上的连接器连接更换后测试电路板的传输线。进而提高测试夹具的通用性，降低测试成本，提高测试效率。
附图说明
[0008]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0009]图1为本技术实施例的测试夹具的结构示意图。
[0010]图2为本技术实施例的底座的结构示意图。
[0011]图3为本技术实施例的连接器固定在连接器垫片上的结构示意图。
[0012]图4为本技术实施例的连接器的结构示意图。
[0013]图5为本技术实施例的测试电路板的结构示意图。
[0014]图6为本技术实施例的第一连接器垫片和第二连接器垫片的结构示意图。
[0015]图7为本技术实施例的定位片的结构示意图。
[0016]图8为本技术实施例的线束固定组件固定在底座上的结构示意图。
[0017]图9为本技术实施例的线束固定组件的结构示意图。
[0018]图10为本技术实施例的校准电路板支架固定在底座上的结构示意图。
[0019]其中的附图标记包括：底座1、连接器垫片2、连接器3、测试电路板4、定位片5、校准
电路板支架6、校准电路板7、线束固定组件8、支撑块9、槽孔1
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1、第四固定孔1
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2、凹陷区域1
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3、第一线束过孔1
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4、定位组件避让孔1
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5、第一固定孔2
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1、第一定位孔2
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2、接口3
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1、第二定位孔4
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1、第三固定孔4
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2、第三定位孔5
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1、第二固定孔5
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2、第二线束过孔8
‑
1。
具体实施方式
[0020]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本技术进一步详细说明。
[0021]需要说明的是，除非另外定义，本技术实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0022]微波器件作为通用元器件的一个细分领域，包含种类众多，如放大器、检波器、分频器、滤波器、射频变压器、衰减器、环形器、功分器等等。在可靠性筛选与实际测试中，由于其具有射频参数特性，测试较为复杂且单只测试时间较长。在进行测试时，通常进行非焊接式(压接)测试，压接属于非永久性连接，在测试后可以无损地取下微波器件，因此得到广泛应用。
[0023]用于微波器件压接测试的印制电路板种类众多，但对于不同型号规格的微波器件，压接测试用印制电路板的边缘均有一个或多个不定位置的微带线引出，其需要连接SMA(超小型A)射频连接器，用于引出微波信号至测试分析仪器或连接处结构。因为不同的测试用印制电路板的SMA射频连接器固定位置不一致，相关技术中针对不同型号规格的微波器件单独设计测试夹具。
[0024]对于专业的元器件可靠性筛选机构而言，实际所面对的测试器件种类、封装形式众多，批量批次不定。如果针对每种微波器件均单独设计测试夹具，可能需要几千种测试夹具工装，因为专用适配夹具设计费用高，且工装库存管理也需要消耗大量资源，所以会大幅提高测试成本。
[0025]基于上述的相关技术的测试夹具不具有通用型，本技术提出了一种测试夹具。
[0026]本技术提供的测试夹具，通过在底座上设置槽孔，使连接器垫片具有多个固定位置，从而可以在更换测试电路板时，通过调节连接器垫片的位置，使固定在连接器垫片上的连接器连接更换后测试电路板的传输线。进而提高测试夹具的通用性，降低测试成本，提高测试效率。
[0027]图1示出了本技术实施例所提供的测试夹具的结构示意图。图2示出了本技术实施例所提供的底座1的结构示意图。图3示出了本技术实施例所提供的连接器3固定在连接器垫片2上的结构示意图。
[0028]如图1所示，本技术实施例提供了一种测试夹具，该测试夹具包括底座1、连接器垫片2和第一固定组件(例如螺栓螺母结构)。如图2所示，底座1设置至少一个槽孔1
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1，例如，图2中的底座1在每个侧面均设置四个槽孔1
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1。如图3所示，连接器3固定在连接器垫片2上，连接器垫片2设置第一固定孔2
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1，从而通过第一固定组件穿过第一固定孔2
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1和槽孔1
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1，将连接器垫片2固定在底座1上。
[0029]在进行测试时，通过下压装置将微波器件压接在测试电路板4上，因为测试电路板4的主要材质(例如薄铜板)较软，所以要对测试电路板4进行承载与支撑。参考图，底座1可以用于承载测试电路板4，防止测试电路板4产生损坏。
[0030]本实施例中，测试电路板4设置至少一条传输线，测试时连接器垫片2的位置根据传输线位置不同而不同，通过传输线将微波器件的微波信号导出，再通过连接器3连接传输线和测试分析仪器，将微波信号传输至测试分析仪器进行对微波器件的测试。可选地，传输线可以为微带线，对于传输线的选择，本技术实施例不作限定。
[0031]图4示出了本技术实施例所提供的连接器3的结构示意图。可选地，连接器3可以为SMA连接器，对于连接器3的选择，本实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具，其特征在于，包括：底座，用于承载测试电路板，所述底座设置至少一个槽孔；连接器垫片，用于承载连接器，所述连接器垫片设置第一固定孔；以及第一固定组件；其中，所述测试电路板设置至少一条传输线；当所述连接器垫片固定在所述底座上时，所述第一固定组件穿过所述第一固定孔和所述槽孔，所述连接器连接所述传输线；所述连接器垫片的位置根据所述传输线位置不同而不同。2.如权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，还包括第一定位组件；所述连接器垫片设置第一定位孔，所述测试电路板上设置至少一个第二定位孔；当所述连接器垫片定位在所述测试电路板上时，所述第一定位组件穿过所述第一定位孔和所述第二定位孔，所述连接器的接口对准所述传输线。3.如权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，根据所述连接器在所述连接器垫片上的固定位置不同，所述连接器垫片包括第一连接器垫片和第二连接器垫片；所述第一连接器垫片和所述第二连接器垫片上，所述连接器的固定位置分别位于所述第一固定孔的两侧。4.如权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，还包括定位片，所述定位片设置适配待测试器件的第三定位孔；以及第二固定组件；所述定位片设置至少一个第二固定孔，所述测试电路板设置至少一个第三固定孔，所述底座设置至少一个第四固定孔；当所述定位片固定在所述测试电路板上时，...

【专利技术属性】
技术研发人员：康立鹏，高鹏鹏，李静，马帅帅，苗仲菁，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：