一种显示面板画质测试方法及装置制造方法及图纸

技术编号:33444850 阅读:22 留言:0更新日期:2022-05-19 00:30
本发明专利技术公开了一种显示面板画质测试方法及装置,涉及显示面板画质测试技术领域,主要目的在于提高显示面板画质测试所需数据的丰富度的同时,提高显示面板画质测试的效率;主要技术方案包括:在显示面板中依次显示N个图像帧;每显示一个图像帧,采集当前显示的图像帧中的M个目标像素坐标对应的灰阶值,其中,M和N为不相同的正整数;基于所采集的灰阶值以及灰阶值对应的目标数据,生成显示面板画质测试数据,其中,所述目标数据为灰阶值对应的采集时间点和/或目标像素坐标。集时间点和/或目标像素坐标。集时间点和/或目标像素坐标。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板画质测试方法及装置


[0001]本专利技术涉及显示面板画质测试
,特别是涉及一种显示面板画质测试方法及装置。

技术介绍

[0002]随着显示技术的不断发展,液晶显示面板因具有高画质、轻薄等优点,而被广泛应用于手机、电视、便携式电脑等各电子产品中。
[0003]为了满足用户对显示面板的画质要求,在显示面板的生产过程中需要针对显示面板进行画质测试,以基于画质测试结果对显示面板的画质进行改善。对显示面板画质测试时,需要定位出画质不良位置,从而根据不良位置分析不良原因。目前,显示面板不良位置数据的定位完全通过测试人员观看显示面板中显示的图像帧的方式来完成。此种方式,受限于测试人员的主观经验,导致获取的显示面板画质测试所需数据的丰富度较低,且造成显示面板画质测试的效率低下。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术提出了一种显示面板画质测试方法及装置,主要目的在于提高显示面板画质测试所需数据的丰富度的同时,提高显示面板画质测试的效率。
[0005]第一方面,本专利技术提供了一种显示面板画质测试方法,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板画质测试方法,其特征在于,所述方法包括:在显示面板中依次显示N个图像帧;每显示一个图像帧,采集当前显示的图像帧中的M个目标像素坐标对应的灰阶值,其中,M和N均为正整数,且M和N不同时为1;基于所采集的灰阶值以及灰阶值对应的目标数据,生成显示面板画质测试数据,其中,所述目标数据为灰阶值对应的采集时间点和/或目标像素坐标。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,N为多个时,每显示一个图像帧,采集当前显示的图像帧中的M个目标像素坐标对应的灰阶值,包括:在显示所述N个图像帧中的首个图像帧时,将当前显示的图像帧中对应于光标位置的像素坐标确定为一个目标像素坐标,采集当前显示的图像帧中所述目标像素坐标对应的灰阶值,其中,所述光标位置为光标点在当前显示的图像帧中的停留位置;在显示所述N个图像帧中的其余图像帧时,采集当前显示的图像帧中所述目标像素坐标对应的灰阶值。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,N为一个时,每显示一个图像帧,采集当前显示的图像帧中的M个目标像素坐标对应的灰阶值,包括:在显示所述图像帧时,将当前显示的图像帧中对应于光标位置的像素坐标确定为第一像素坐标,其中,所述光标位置为光标点在当前显示的图像帧中的停留位置;基于所述第一像素坐标从当前显示的图像帧中选取所述M个目标像素坐标,M大于1;采集当前显示的图像帧中所述M个目标像素坐标对应的灰阶值。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,N为多个时,每显示一个图像帧,采集当前显示的图像帧中的M个目标像素坐标对应的灰阶值,包括:在显示所述N个图像帧中的首个图像帧时,将当前显示的图像帧中对应于光标位置的像素坐标确定为第一像素坐标,基于所述第一像素坐标从当前显示的图像帧中选取所述M个目标像素坐标,采集当前显示的图像帧中所述M个目标像素坐标对应的灰阶值,其中,所述光标位置为光标点在当前显示的图像帧中的停留位置,M大于1;在显示所述N个图像帧中的其余图像帧时,采集当前显示的图像帧中所述M个目标像素坐标对应的灰阶值。5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,基于所述第一像素坐标从当前显示的图像帧中选取所述M个目标像素坐标,包括:将如下中的至少一种选取为所述M个目标像素坐标:...

【专利技术属性】
技术研发人员:白王静龚敬文张松鹤王英
申请(专利权)人:北京奕斯伟计算技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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