【技术实现步骤摘要】
一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法
[0001]本专利技术涉及飞秒激光扫描
,特别涉及一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法。
技术介绍
[0002]自从激光技术诞生以来,传统的线性光学已经满足不了人们的需要。非线性光学的发展打破了这一窘境,非线性光学主要研究介质在强相干光作用下产生的非线性现象及其应用。随着非线性光学的发展,激光、全光开关、光学微制作、非线性光学成像、光信息处理、光通信等领域成为了研究的热点。因此,寻求非线性光学效应强和响应快的新材料成了研究的重点。
[0003]紧接着诞生了各种非线性光学表征技术,总的来说,这些非线性光学表征技术可以分成两大类:光波混频和透射法。在光波混频方法中,非线性光学效应的产生过程由一束或多束光完成,而探测过程则由另一束光承担。如简并四波混频、非线性于涉法圆偏振法、Mach
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Zehnder干涉测量法和非线性图像法等多种测量方法。而在透射测量方法中,非线性光学效应的产生过程和探测过程由同一束光承担,利用单光束测量材料的非线性光学 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置,其特征在于,包括设置于电动位移平台一侧的激光发射装置、设置于电动位移平台另一侧的激光接收装置和光谱探测装置,所述激光发射装置包括顺次设置的激光器、第一分光镜、连续可调衰减片、第一凸透镜、凹透镜、第一反射镜、第二反射镜和第二凸透镜;所述激光接收装置包括并列的第二分光镜、第三分光镜、第三反射镜,所述第二分光镜后依次设置光阑、第一衰减片和第一探测器,所述第三反射镜后依次设置第四凸透镜、第二衰减片和第二探测器,所述光谱探测装置包括设置于所述第三分光镜后的第三凸透镜和光谱仪,所述第一探测器和第二探测器连接示波器,所述示波器连接计算机;所述电动位移平台上设置样品夹持器。2.根据权利要求1所述的一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置,其特征在于,所述激光器为飞秒激光器,发射的飞秒激光脉宽为35fs,重复频率为1KHz。3.根据权利要求1所述的一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置,其特征在于,所述电动位移平台的移动精度为3.125μm/step,移动距离最大300mm。4.根据权利要求1所述的一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置,其特征在于,所述样品夹持器包括薄膜夹持器和比色皿夹持器两种。5.根据权利要求1所述的一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置,其特征在于,所述第一分光镜、第二分光镜、第三分光镜分别与主光轴呈45
°
角设置,...
【专利技术属性】
技术研发人员:韩克利,宋李莹,李紫荆,李晓晓,金兵,
申请(专利权)人:山东大学,
类型:发明
国别省市:
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