一种FLASH芯片检测设备及其检测方法技术

技术编号:33435567 阅读:27 留言:0更新日期:2022-05-19 00:24
本发明专利技术公开了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法,涉及芯片检测技术领域。包括检测装置、连接插口和连接插头,所述检测装置的顶部固定有芯片插块,所述检测装置的底部固定有固定座,所述固定座的底部固定有移动底座。该FLASH芯片检测设备及其检测方法,当对检测装置进行移动时,通过将连接插头插进连接插口中,进而可以启动气缸,使活塞杆向下移动,进而使吸盘向下移动与地面贴合对检测装置进行支撑,当吸盘远离推杆时,因第二弹簧处于压缩状态,通过限位机构的配合,使限位块向上移动,使限位块对连接座的右侧进行限位,防止不小心有人拉扯到连接插头的连接线,使连接插头从连接插口中脱离,影响芯片的检测。影响芯片的检测。影响芯片的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种FLASH芯片检测设备及其检测方法


[0001]本专利技术涉及芯片检测
,具体为一种FLASH芯片检测设备及其检测方法。

技术介绍

[0002]主板上的BIOS大多使用Flash Memory制造,翻译成中文就是“闪动的存储器”,通常把它称作“闪存储器”,简称“闪存”。闪存盘是一种移动存储产品,可用于存储任何格式数据文件便于随身携带,是个人的“数据移动中心”。闪存盘采用闪存存储介质和通用串行总线接口,具有轻巧精致、使用方便、便于携带、容量较大、安全可靠、时尚潮流等特征,是大家理想的便携存储工具。
[0003]然而现有的FLASH芯片检测设备在进行检测时,需要外接电源对检测设备进行通电,然而工作人员不小心拉扯连接插头的连接线时,可能会使连接插头从检测装置的连接插口中脱离出来,使检测装置断电,进而会影响对芯片的检测作业。鉴于此,我们提出了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法,解决了上述
技术介绍
提到的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案予以实现:一种FLASH芯片检测设备,包括检测装置、连接插口和连接插头,所述检测装置的顶部固定有芯片插块,所述检测装置的底部固定有固定座,所述固定座的底部固定有移动底座,所述移动底座的底部开设有第一槽孔,所述第一槽孔的内壁固定有气缸,所述气缸内活塞连接有活塞杆,所述活塞杆的底部固定有吸盘,所述连接插头的侧壁固定有连接座,所述第一槽孔的内壁固定有支撑块,所述支撑块的侧壁滑动安装有第一齿条,所述第一齿条与齿轮呈相互啮合状,所述齿轮的内壁固定有转动杆,所述齿轮与第二齿条呈相互啮合状,所述固定座内设置有控制机构,所述检测装置上设置有限位机构。
[0008]优选的,所述第二齿条远离气缸的一侧固定有连杆,所述连杆远离第二齿条的一端固定有滑板,所述滑板滑动安装在第二槽孔的内壁,所述滑板的底部固定有万向轮,所述滑板的顶部固定有第一弹簧,所述第一弹簧的顶部固定在第二槽孔的内壁。
[0009]优选的,所述控制机构包括推杆,所述推杆的顶部铰接有第一活动杆,所述第一活动杆远离推杆的一端铰接有传动杆,所述传动杆远离第一活动杆的一端铰接有第二活动杆,所述第二活动杆远离传动杆的一端铰接有连接块,所述连接块远离第二活动杆的一侧固定有L型连接杆,所述L型连接杆远离连接块的一端固定有限位块。
[0010]优选的,所述推杆靠近气缸的一侧固定有固定块,所述固定块的顶部固定有第二弹簧,所述第二弹簧的顶部固定在第一槽孔的内壁。
[0011]优选的,所述检测装置的侧壁开设有滑槽,所述滑槽内滑动连接有滑块,所述滑块远离气缸的一侧固定有挡板,所述挡板上开设有限位槽。
[0012]优选的,所述限位机构包括套筒,所述套筒的内壁固定有第三弹簧,所述第三弹簧远离检测装置的一侧固定有套杆,所述套杆的底部固定有固定杆,所述固定杆的底部固定有限位杆。
[0013]优选的,所述第一弹簧设置有两组,且两组第一弹簧以移动底座竖直方向上的中心线为对称轴对称设置。
[0014]优选的,所述检测装置的顶部固定有报警器。
[0015]一种FLASH芯片检测方法,该FLASH芯片检测方法包括以下步骤:
[0016]S1、当对芯片进行检测时,将检测装置移动到指定位置时,通过外接电源,将连接插头插进检测装置的连接插口中,进行通电。
[0017]S2、通过启动气缸,控制活塞杆向下移动,使吸盘向下移动,使吸盘与地面紧密贴合,对检测装置进行支撑。
[0018]S3、当吸盘向下移动时,会使吸盘远离推杆,因第二弹簧处于压缩状态,进而使推杆向下移动,通过第一活动杆,使传动杆向左移动,通过第二活动杆,进而使连接块向上移动,使连接块带动L型连接杆向上移动,进而使限位块向上移动,使限位块移动到连接座的右侧,进而可以对连接座进行限位;
[0019]S4、当检测装置固定好后,通过将芯片放置到芯片插块内,进而可以启动检测装置对芯片进行检测。
[0020]S5、当检测结束后,通过启动气缸,使活塞杆带动吸盘远离地面,进而使吸盘移动到第一槽孔内,使吸盘的顶部挤压第一齿条,通过齿轮,使第二齿条向下移动,进而使连杆带动滑板向下移动,使万向轮从第二槽孔中移出,进而可以通过万向轮对检测装置进行移动。
[0021]S6、当吸盘向上移动,会使吸盘挤压推杆向上移动,通过第一活动杆、传动杆和第二活动杆的配合,使连接块带动L型连接杆向下移动,使限位块向下移动,解除对连接座的限位,进而可以将连接插头从连接插口中拔出,对检测装置进行断电。
[0022]S7、通过拉动固定杆,进而使限位杆从限位槽中移出,解除对挡板的限位,因重力,进而使挡板向下移动,使挡板向下移动对连接插口进行遮挡,防止在不使用检测装置时有灰尘进入到连接插口中。
[0023](三)有益效果
[0024]本专利技术提供了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法。具备以下有益效果:
[0025](1)、该FLASH芯片检测设备及其检测方法,当对检测装置进行移动时,通过将连接插头插进连接插口中,进而可以启动气缸,使活塞杆向下移动,进而使吸盘向下移动与地面贴合对检测装置进行支撑,当吸盘远离推杆时,因第二弹簧处于压缩状态,通过限位机构的配合,使限位块向上移动,使限位块对连接座的右侧进行限位,防止不小心有人拉扯到连接插头的连接线,使连接插头从连接插口中脱离,影响芯片的检测。
[0026](2)、该FLASH芯片检测设备及其检测方法,当对检测装置进行移动时,通过启动气缸,控制活塞杆向上移动,使吸盘远离地面,使吸盘挤压第一齿条向上移动,通过齿轮、转动杆、第二齿条、连杆和滑板的配合,使万向轮从第二槽孔中移出,进而可以通过万向轮检测
装置进行移动。
[0027](3)、该FLASH芯片检测设备及其检测方法,当将连接插头从连接插口中拔出时,通过拉动固定杆,使限位杆从限位槽中移出,因重力,进而使挡板向下移动,使挡板对连接插口进行遮挡,防止在不使用检测装置时有灰尘等东西进入到检测装置的连接插口中,容易造成检测装置的连接插口处损坏。
附图说明
[0028]图1为本专利技术整体装置的结构示意图;
[0029]图2为本专利技术正视的结构示意图;
[0030]图3为本专利技术图2的A结构放大示意图;
[0031]图4为本专利技术图2的B结构放大示意图;
[0032]图5为本专利技术图2的C结构放大示意图;
[0033]图6为本专利技术限位块和L型连接杆的一种结构示意图。
[0034]图中:1、检测装置;2、芯片插块;3、报警器;4、固定座;5、移动底座;7、连接插口;8、连接插头;9、连接座;10、第一槽孔;11、气缸;12、活塞杆;13、吸盘;14、第一齿条;15、支撑块;16、齿轮;17、本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种FLASH芯片检测设备,包括检测装置(1)、连接插口(7)和连接插头(8),其特征在于:所述检测装置(1)的顶部固定有芯片插块(2),所述检测装置(1)的底部固定有固定座(4),所述固定座(4)的底部固定有移动底座(5),所述移动底座(5)的底部开设有第一槽孔(10),所述第一槽孔(10)的内壁固定有气缸(11),所述气缸(11)内活塞连接有活塞杆(12),所述活塞杆(12)的底部固定有吸盘(13),所述连接插头(8)的侧壁固定有连接座(9),所述第一槽孔(10)的内壁固定有支撑块(15),所述支撑块(15)的侧壁滑动安装有第一齿条(14),所述第一齿条(14)与齿轮(16)呈相互啮合状,所述齿轮(16)的内壁固定有转动杆(17),所述齿轮(16)与第二齿条(18)呈相互啮合状,所述固定座(4)内设置有控制机构(23),所述检测装置(1)上设置有限位机构(28)。2.根据权利要求1所述的一种FLASH芯片检测设备,其特征在于:所述第二齿条(18)远离气缸(11)的一侧固定有连杆(19),所述连杆(19)远离第二齿条(18)的一端固定有滑板(20),所述滑板(20)滑动安装在第二槽孔(29)的内壁,所述滑板(20)的底部固定有万向轮(22),所述滑板(20)的顶部固定有第一弹簧(21),所述第一弹簧(21)的顶部固定在第二槽孔(29)的内壁。3.根据权利要求1所述的一种FLASH芯片检测设备,其特征在于:所述控制机构(23)包括推杆(231),所述推杆(231)的顶部铰接有第一活动杆(234),所述第一活动杆(234)远离推杆(231)的一端铰接有传动杆(235),所述传动杆(235)远离第一活动杆(234)的一端铰接有第二活动杆(236),所述第二活动杆(236)远离传动杆(235)的一端铰接有连接块(237),所述连接块(237)远离第二活动杆(236)的一侧固定有L型连接杆(238),所述L型连接杆(238)远离连接块(237)的一端固定有限位块(239)。4.根据权利要求1所述的一种FLASH芯片检测设备,其特征在于:所述推杆(231)靠近气缸(11)的一侧固定有固定块(232),所述固定块(232)的顶部固定有第二弹簧(233),所述第二弹簧(233)的顶部固定在第一槽孔(10)的内壁。5.根据权利要求1所述的一种FLASH芯片检测设备,其特征在于:所述检测装置(1)的侧壁开设有滑槽(24),所述滑槽(24)内滑动连接有滑块(25),所述滑块(25)远离气缸(11)的一侧固定有挡板(26),所述挡板(26)上开设有限位槽(27)。6.根据权利要求1所述的一种FLASH芯片检测设备,其特征在于:所述限位机构(28)包括套筒(281),所述套筒(28...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾小帅汪艳许光明郭中祥曾团结位明明
申请(专利权)人:视旗科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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