本发明专利技术涉及质量检测技术领域，且公开了一种存储芯片用低功耗质量检测设备，包括滑道，所述滑道的内壁滑动连接有电路板，所述滑道的前部和后部均固定连接有滑板，所述滑板的上表面固定连接有分离装置，所述滑道的前部设置有收集装置，所述滑道的内壁固定连接有隔板，所述滑道的内壁分别滑动连接有前支撑板和后支撑板，所述滑道的前部和后部分别开设有前出料口和后出料口，所述滑道的内壁固定连接有挡板，所述后支撑板的前部固定连接有卸料弹片，本发明专利技术将电路板放入滑道中，通过重力时电路板表面的芯片与挡板撞击，通过芯片的撞击来实现芯片的检测，只需工人将电路板放入即可，设备无需电力控制，进而减少检测成本。进而减少检测成本。进而减少检测成本。
【技术实现步骤摘要】
一种存储芯片用低功耗质量检测设备
[0001]本专利技术涉及质量检测
，具体为一种存储芯片用低功耗质量检测设备。
技术介绍
[0002]质量检测：是指检查和验证产品或服务质量是否符合有关规定的活动，它分为空气质量检测、工程质量检测、产品质量检测、环境质量检测等，质量检测有时也可以称测试或实验，是指对给定的产品、材料、设备、生物体、物理现象、工艺过程或服务，按照规定的程序确定一个或多个特性或性能的技术操作，为确保检测结果准确到一定程度，必须在规定的检测范围内，按照规定程序进行方可，检测结果应记录在案，通常是采用检测报告或检测证书等方式。
[0003]目前市场的芯片焊接在电路板上后都会直接进行装机使用，可若焊接装置发生问题，很可能导致这一批次的产品出现芯片虚焊或者脱焊的问题，这时就需要对焊接完成后的产品进行检测，而已有的检测大多依靠人工敲击或者机器进行敲击，人工敲击力度尚可把控，而机器敲击力度若是调整不当，则会导致电路板及芯片发生损坏，进而影响使用，并且两种都会消耗大量的人力和电力，增加了成本的投入，故而提出一种存储芯片用低功耗质量检测设备来解决上述所提出的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供了一种存储芯片用低功耗质量检测设备。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是：一种存储芯片用低功耗质量检测设备，包括滑道，所述滑道的内壁滑动连接有电路板，所述滑道的前部和后部均固定连接有滑板，所述滑板的上表面固定连接有分离装置，所述滑道的前部设置有收集装置，所述滑道的内壁固定连接有隔板，所述滑道的内壁分别滑动连接有前支撑板和后支撑板，所述滑道的前部和后部分别开设有前出料口和后出料口，所述滑道的内壁固定连接有挡板，所述后支撑板的前部固定连接有卸料弹片。
[0006]优选的，所述滑板位于收集装置的下方，所述隔板位于电路板的下方，所述挡板位于电路板和隔板之间，所述前支撑板和后支撑板分别位于隔板的前部和后部。
[0007]优选的，所述前支撑板和后支撑板的底部均通过弹簧与滑道的内壁活动连接，所述卸料弹片的表面与前支撑板的后部相互接触，所述挡板和隔板的顶部设置有圆角。
[0008]优选的，所述分离装置包括有滑料弹片，所述滑料弹片的上表面固定连接有弹性杆，所述滑料弹片的上表面固定连接有绳索一，所述滑道的前部固定连接有支撑块。
[0009]优选的，所述绳索一的表面固定连接有绳索二，所述绳索二的表面缠绕有旋转块。
[0010]优选的，所述滑料弹片的表面与滑板的上表面固定连接，所述滑料弹片的表面开设有若干个通孔，所述绳索一的表面与支撑块的内壁滑动连接。
[0011]优选的，所述绳索二的表面分别与支撑块和滑道的内壁滑动连接，所述旋转块的
表面通过扭簧与滑道的内壁转动连接。
[0012]优选的，所述收集装置包括有收集箱，所述收集箱的顶部固定连接有限位板，所述限位板的内壁固定连接有挡片，所述收集箱的内壁滑动连接有移动板，所述移动板的顶部固定连接有海绵，所述移动板的底部固定连接有弹性件，所述弹性件的表面固定连接有推板。
[0013]优选的，所述收集箱的后部与滑道的前部固定连接，所述海绵的表面与收集箱的内壁滑动连接，所述移动板的底部与绳索一的顶端固定连接，所述收集箱的内壁与绳索一的表面滑动连接，所述推板的表面分别与收集箱和挡板的内壁滑动连接。
[0014]本专利技术采用上述技术方案，能够带来如下有益效果：
[0015]1、该存储芯片用低功耗质量检测设备，将电路板放入滑道中，通过重力时电路板表面的芯片与挡板轻微撞击，通过芯片的撞击来实现芯片的检测，而电路板都在同一高度落下，即芯片撞击受力均相同，防止芯片的受力不均进而影响检测结果，并且只需工人将电路板放入即可，设备无需电力控制，进而可以大大减少检测成本的投入，实现低功耗。
[0016]2、该存储芯片用低功耗质量检测设备，芯片与挡板撞击后，若芯片焊接牢固，则芯片会通过挡板表面的圆角向后方滑动，进而使电路板滑进隔板后方的滑道中，若芯片脱焊则会直接掉落，这时电路板将直接从隔板前方的滑道滑下，从而实现合格的电路板与不合格的电路板进行分类，方便对不合格电路板进行返工。
[0017]3、该存储芯片用低功耗质量检测设备，当不合格电路板从隔板前方滑道滑下并与前支撑板接触后会带动其下移，当前支撑板下移而后支撑板不动时，后支撑板前部的卸料弹片会复位，并将前支撑板上的电路板推出，这时电路板还有部分在滑道中，但被卸料弹片推动，因此电路板会顺时针旋转，使电路板的背面向下进行出料，防止电路板正面向下，进而导致正面焊接的电器元件与滑板接触，进而导致电器元件发生损坏，进而导致电路板无法进行返工而直接报废，而合格电路板会直接落在后支撑板上，通过后支撑板被压动下移时，电路板前部漏出后出料口时，电路板顶部向外旋转并落下，也会使背面向下，防止损坏正面的电器元件。
[0018]4、该存储芯片用低功耗质量检测设备，当电路板背面向下出料时会落在滑料弹片上，进而压动滑料弹片形变，而滑料弹片可以对其进行缓冲，使其缓慢落在滑板上，防止其直接撞击在滑板上进而导致电路板背面引脚损坏。
[0019]5、该存储芯片用低功耗质量检测设备，当电路板背面向下落在滑料弹片上时，弹性杆会与电路板接触，而电路板背面的引脚将不会与滑料弹片接触，从而可以防止引脚与滑料弹片接触，进而导致引脚发生弯折，进而导致两两引脚直接接触，在后续使用时，可能会导致电路板发生短路。
[0020]6、该存储芯片用低功耗质量检测设备，当脱焊的芯片撞击在挡板上时，芯片会与电路板脱离，这时芯片会落入收集箱中，进而方便收集，进而后续的返工。
[0021]7、该存储芯片用低功耗质量检测设备，收集箱上的限位板可以对飞出的芯片进行阻挡，确保其可以落入收集箱中，同时限位板中的挡片可以对飞出的芯片进行缓冲，防止芯片直接与限位板撞击，进而发生损坏防止其报废。
[0022]8、该存储芯片用低功耗质量检测设备，当电路板落在滑料弹片上使其形变，滑料弹片的形变会拉动绳索一下移，绳索一下移会拉动移动板下移，移动板下移会带动弹性件
形变，在电路板出料后，滑料弹片复位时弹性件也会复位，进而带动移动板复位，移动板的复位会带动其表面上的芯片进行晃动，防止有的芯片竖直放置，进而影响其他芯片的放置，而晃动可以使其平躺并摊开，可以减少空间的占用，进而容纳更多的芯片。
[0023]9、该存储芯片用低功耗质量检测设备，移动板上的海绵可以对落下的芯片进行二次缓冲，也防止其与收集箱之间刚性接触，进而发生磨损，而海绵上的斜面可以使芯片进行倾斜放置，方便晃动时芯片的摊开。
[0024]10、该存储芯片用低功耗质量检测设备，当移动板被绳索一下拉时会带动弹性件形变，弹性件形变会带动推板插进挡板中，推板会在挡板与滑道之间进行阻挡，防止员工放入电路板过快，导致前一个电路板还没有出料完成，可能会使两个电路板发生撞击，进而发生损坏。
本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片用低功耗质量检测设备，包括滑道(1)，其特征在于：所述滑道(1)的内壁滑动连接有电路板(2)，所述滑道(1)的前部和后部均固定连接有滑板(3)，所述滑板(3)的上表面固定连接有分离装置(4)，所述滑道(1)的前部设置有收集装置(5)，所述滑道(1)的内壁固定连接有隔板(6)，所述滑道(1)的内壁分别滑动连接有前支撑板(7)和后支撑板(8)，所述滑道(1)的前部和后部分别开设有前出料口(9)和后出料口(10)，所述滑道(1)的内壁固定连接有挡板(11)，所述后支撑板(8)的前部固定连接有卸料弹片(12)。2.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述滑板(3)位于收集装置(5)的下方，所述隔板(6)位于电路板(2)的下方，所述挡板(11)位于电路板(2)和隔板(6)之间，所述前支撑板(7)和后支撑板(8)分别位于隔板(6)的前部和后部。3.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述前支撑板(7)和后支撑板(8)的底部均通过弹簧与滑道(1)的内壁活动连接，所述卸料弹片(12)的表面与前支撑板(7)的后部相互接触，所述挡板(11)和隔板(6)的顶部设置有圆角。4.根据权利要求1所述的一种存储芯片用低功耗质量检测设备，其特征在于：所述分离装置(4)包括有滑料弹片(41)，所述滑料弹片(41)的上表面固定连接有弹性杆(42)，所述滑料弹片(41)的上表面固定连接有绳索一(43)，所述滑道(1)的前部固定连接有支撑块(46)。5.根据权利要求4所述的一种存储...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾小帅，位明明，郭中祥，曾团结，
申请(专利权)人：视旗科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。