【技术实现步骤摘要】
用于电路设计的确定测试覆盖率的方法及信息处理系统
[0001]本专利技术大体上涉及电子电路设计领域，并且更具体地说，涉及确定集成电路设计的低测试覆盖率区域。
技术介绍
[0002]超大规模(VLSI)集成电路(IC)等电子系统的设计和制造是个极复杂且周密的过程。当今芯片/电路的设计尺寸和复杂度使得几乎不可能设计芯片而不出任何错误或制造没有任何缺陷的芯片。因此，IC设计者实施各种测试工具和方法来帮助确保芯片的逻辑设计符合芯片的功能规格以及在芯片制造好之后可标识制造缺陷。这些测试工具和方法的例子包括功能验证和可测试性设计(DFT)技术。功能验证工具可用于通过对逻辑设计执行静态验证、功能模拟、原型设计和/或模仿操作来确认芯片设计的功能和逻辑行为。可利用DFT技术将DFT逻辑等可测试性特征添加到芯片设计。DFT逻辑允许对制造的芯片执行在设计流的DFT阶段生成的测试，以确认芯片的制造组件是否无缺陷。
[0003]芯片设计/制造测试的一个重要目标是在尽可能多的设计/芯片上运用测试。因此，设计者利用测试覆盖率分析工具来获得指示其测...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电路设计的确定测试覆盖率的方法，其特征在于，所述方法包括：获得电路设计中多个节点中的每个节点的节点可测试性数据和物理位置数据；基于所述多个节点中的每个节点的所述节点可测试性数据和所述物理位置数据，确定所述电路设计内包括未测试节点的一个或多个低测试覆盖率区域；以及生成用于所述电路设计的测试覆盖率数据，所述测试覆盖率数据包括所述一个或多个低测试覆盖率区域的至少一个标识。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：基于在所述测试覆盖率数据中标识的所述一个或多个低测试覆盖率区域来更新所述电路设计，其中更新所述电路设计会增大所述一个或多个低测试覆盖率区域中的至少一个低测试覆盖率区域中的测试覆盖率。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，生成所述电路设计的测试覆盖率数据包括：基于所述节点可测试性数据和所述物理位置数据来确定所述一个或多个低测试覆盖率区域内所述电路设计的一组模块或一组子模块中的至少一个模块或子模块，其中所述一组模块或一组子模块中的至少一个模块或子模块包括所述未测试节点；以及将所述一组模块或一组子模块中的至少一个模块或子模块的至少一个标识包括在所述测试覆盖率数据中。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定一个或多个低测试覆盖率区域包括：至少基于所述物理位置数据来标识所述电路设计的一个或多个区域中的多个未测试节点集群。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：至少基于所述多个未测试节点集群中的每个未测试节点集群内的未测试节点的数目，对每个未测试节点集群进行优先级排序。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：针对已优先级排序的未测试节点集群中的一个或多个已优先级排序的未测试节点集群，基于所述节点可测试性数据或所述物理位置数据中的至少一个来确定所述电路设计中向已优先级排序的未测试节点集群中的所述一个或多个已优先级排序的未测试节点集群贡献未测试节点的一组模块或一组子模块中的至少一个模块或子模块。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：基于所述一组模块或一组子模块中的至少一个模块或子模块向已优先级排序的未测试节点集群中的所述一个或多个已优先级排序的未测试节点集群贡献的未测试节点的数目，对所述一组模块或一组子模块中的至少一个模块或子模块进行优先级排序。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，生成所述测试覆盖率数据包括：在所述测试覆盖率数据内包括以下中的至少一个：与所述多个未测试节点集群中已优先级排序的未测试节点集群中的一个或多个已优先级排序的未测试节点集群相关联的数据；以及与一组模块或一组子模块中的已优先级排序的所述至少一个模块或子模块相关联的数据。9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述一个或多个低测试覆盖率区域包
括：基于所述节点可测试性数据来标识所述电路设计内的多个未测试节点；基于所述物理位置数据来确定所述电路设计中包括来自所述多个未测试节点的未测试节点集群的一个或多个区域；以及将所述电路设计中包括未测试节点集群的所述一个或多个区域中的至少一个区域标识为所述一个或多个低测试覆盖率区域。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，确定包括所述未测试节点集群的所述一个或多个区域包括：从所述多个未测试节点中标识各自满足一个或多个集群准则的未测试节点群组，其中将满足所述一个或多个集群准则的每个未测试节点群组确定为未测试节点集群。11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，确定包括所述未测试节点集群的所述一个或多个区域包括：至少基于所述物理位置数据来生成与所述电路设计相关联的绘图数据，其中所述绘图数据表示来自所述多个未测试节点的在电路设计内某一物理位置处的未测试节点；将所述绘图数据分割成包括给定大小的数个单元的网格；以及确定所述数个单元中包括未测试节点的多个单元；以及将所述多个单元标识为多个集群。12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，还包括：确定所述多个集群中的每个集群内的未测试节点密度；基于所述多个集群中的集群具有最高未测试节点密度，将所述集群标示为参考集群；基于所述参考集群来确定所述多个集群中包括大于或等于未测试节点阈值数目的未测试节点计数的一个或多个集群；以及将与所述一个或多个集群相关联的数据包括在所述测试覆盖率数据中。13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，还包括：确定所述多个集群中的每个集群内的未测试节点密度；基于总数目的未测试节点在所述多个集群中的均匀分布，确定所述多个集群中的每个集群的所述未测试节点密度的标准偏差；基于针对所述多个集群中的每个集群确定的所述标准偏差，将优先级指派给所述集群；以及基于指派给所述多个集群的一个或多个集群的所述优先级，将与所述一个或多个集群相关联的数据包括在所述测试覆盖率数据中。14.一种用于电路设计的确定测试覆盖率的信息处理系统，其特征在于，所述信息处理系统包括：处理器；存储器，所述存储器以通信...
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