温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

可通过获得电路设计中多个节点中的每个节点的节点可测试性数据和物理位置数据来确定所述电路设计的测试覆盖率。基于所述多个节点中的每个节点的所述节点可测试性数据和所述物理位置数据，确定所述电路设计内的一个或多个低测试覆盖率区域包括未测试节点。生成...
该专利属于恩智浦美国有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩智浦美国有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。