【技术实现步骤摘要】
一种MCU兼容性检测装置
[0001]本申请涉及程序检测领域,特别涉及一种程序检测装置和电子设备。
技术介绍
[0002]单片机(MCU)被广泛应用于仪器仪表、家用电器、医疗设备、智能设备及自动化控制等设备领域,该设备上通常需要安装和运行应用程序以实现指定的功能。由于单片机的类型多样化和应用程序的多样化,例如不同生产厂家提供的单片机类型不一致,对应的应用程序的配置类型也不同,使得该设备运行应用程序时,单片机与应用程序之间的兼容性是影响该设备的单片机是否处于正常工作状态或达到最佳工作状态的因素之一。也就是说,该应用程序的配置值需要与该单片机的相关配置相匹配,才能够使该设备正常运行该应用程序或达到最佳运行状态等。
[0003]而在现有技术中,主要采用人工查找应用程序的配置值,然后将该程序的配置值与单片机的相关配置进行比较和判断该程序是否兼容于该单片机,耗时较久,检测效率较低,易出现人为失误而发生检测出错或漏检等现象,人工成本较高。
技术实现思路
[0004]本申请提供了一种程序检测装置和电子设备,能够检测待测 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种MCU兼容性检测装置,其特征在于,包括:存储器,其存储有MCU运行需要配置模块的标准配置值和/或预设配置值范围;连接端口,用于建立通信连接,接收用于MCU的待测程序,该待测程序中包含MCU运行需要配置模块的第一配置值;检测电路,包括配置值寻址电路,所述配置值寻址电路从该待测程序中查找该MCU运行需要配置模块的第一配置值,所述检测电路将该MCU运行需要配置模块的第一配置值与所述存储器中存储的MCU运行需要配置模块的标准配置值和/或预设配置值范围进行比较,基于比较结果确定该待测程序是否兼容于MCU;输出单元,输出该待测程序是否兼容于MCU的兼容性检测结果,所述连接端口与所述存储器电连接,所述检测电路与所述存储器电连接,所述输出单元与所述检测电路电连接。2.根据权利要求1所述的MCU兼容性检测装置,其特征在于,MCU运行需要配置模块包括Flash,所述存储器存储的Flash的标准配置值和/或预设配置值范围为基于系统频率设置的Flash等待周期,所述检测电路比较该待测程序的Flash的第一配置值与Flash等待周期的对应关系,确定该待测程序是否兼容于MCU。3.根据权利要求1所述的MCU兼容性检测装置,其特征在于,MCU运行需要配置模块包括IO,所述存储器存储的IO的标准配置值和/或预设配置值范围包括IO进入浮空输入模式的配置值,所述检测电路比较该待测程序的IO的第一配置值与IO进入浮空输入模式的配置值,确定该待测程序是否兼容于MCU。4.根据权利要求1所述的MCU兼容性检测装置,其特征在于,MCU运行需要配置模块包括串口,所述存储器存储的串口的标准配置值和/或预设配置值范围包括串口进入输入模式的配置值,所述检测电路比较该待测程序的串口的第一配置值与串口进入输入模式的配置值,确定该待测程序是否兼容于MCU。5.根据权利要求1至4任一项所述的MCU兼容性检测装置,其特征在于,所述检测电路还包括累加/累减运算器,所述配置值寻...
【专利技术属性】
技术研发人员:汪栋杰,区健庆,孙万里,杜云辉,
申请(专利权)人:珠海极海半导体有限公司,
类型:新型
国别省市:
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