本实用新型专利技术公开了一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台，所述工作台上固定安装有固定架，所述固定架和工作台之间转动安装有丝杆，所述丝杆的丝杆座上固定连接有连接板，所述连接板的下端通过连接杆安装有检测头，所述工作台上固定安装有底座，所述底座上安装有压力传感器，所述压力传感器上设置有支撑座，所述支撑座上开设有凹槽，所述支撑座上滑动安装有两组L形的支架，所述支架的内壁滑动安装有压板，本实用新型专利技术在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度。进而提高了测试结果的精度。进而提高了测试结果的精度。
【技术实现步骤摘要】
一种具有数据分析的半导体载荷测试装置
[0001]本技术涉及载荷测试
，具体为一种具有数据分析的半导体载荷测试装置。
技术介绍
[0002]载荷测试是指按桩的使用功能，分别在桩顶逐级施加轴向压力、轴向上拔力或在桩基承台底面标高一致处施加水平力，观测桩的相应检测点随时间产生的沉降、上拔位移或水平位移，根据荷载与位移的关系(即Q
‑
S曲线)判定相应的单桩竖向抗压承载力、单桩竖向抗拔承载力或单桩水平承载力的试验方法，载荷在极短的时间内作用在构件上，在构件中所引起的应力可能很大，而材料的强度性质也与静载荷作用时不同，这种应力成为冲击应力。此外，当载荷作用在构件上时，如果载荷的大小经常作周期性的改变，材料的强度性质也将不同，这种载荷作用下的应力称为交变应力。
[0003]现有技术中用于半导体的载荷测试装置在测试半导体的荷载时对半导体的夹紧限位效果不好，检测头下压的过程中，半导体可能会发生位置上的偏移，降低了测试结果的精度，因此我们需要提出一种具有数据分析的半导体载荷测试装置。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台，所述工作台上固定安装有固定架，所述固定架和工作台之间转动安装有丝杆，所述丝杆的丝杆座上固定连接有连接板，所述连接板的下端通过连接杆安装有检测头，所述工作台上固定安装有底座，所述底座上安装有压力传感器，所述压力传感器上设置有支撑座，所述支撑座上开设有凹槽，所述支撑座上滑动安装有两组L形的支架，所述支架的内壁滑动安装有压板。
[0006]优选的，所述工作台的下端固定安装有电机，所述电机输出轴一端通过联轴器固定连接于丝杆的端部。
[0007]优选的，所述连接板的侧部固定连接有套环，所述固定架和工作台之间固定连接有立柱，所述套环滑动套设于立柱上。
[0008]优选的，所述支撑座上开设有第二滑槽，所述支架的下端固定连接有第二滑块，所述第二滑块滑动安装于第二滑槽的内部。
[0009]优选的，所述支架的内壁开设有第一滑槽，所述压板的侧部固定连接有第一滑块，所述第一滑块滑动安装于第一滑槽的内部。
[0010]优选的，所述压板上通过轴承转动连接有螺杆，所述支架上开设有螺纹孔，所述螺杆转动安装于螺纹孔的内部。
[0011]优选的，所述固定架的一侧固定安装有显示屏和PLC控制器，PLC控制器分别和显示屏与压力传感器电性连接。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]通过支架、压板和螺杆的设计，支架设置为L形的支架，推动支架，使两组支架相向移动，第二滑块滑动安装于第二滑槽的内部，第二滑块设置为截面为梯形的滑块，防止其在滑动的过程中脱离第二滑槽，且半导体抵触在支架的内壁上，螺杆带动压板向下移动，且压板紧紧的抵触在半导体的表面，对其起到限位的作用，压板的底部安装有橡胶垫，增加对半导体的限位效果，本技术在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度。
附图说明
[0014]图1为本技术的主视结构示意图；
[0015]图2为本技术图1中A部的结构放大示意图；
[0016]图3为本技术凹槽、支架、螺杆、压板和第二滑槽的结构示意图。
[0017]图中：1、工作台；2、电机；3、丝杆；4、显示屏；5、连接板；6、套环；7、立柱；8、连接杆；9、检测头；10、固定架；11、底座；12、压力传感器；13、支撑座；14、凹槽；15、支架；16、螺杆；17、压板；18、第一滑块；19、第一滑槽；20、第二滑块；21、第二滑槽。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]在不同附图中以相同标号来标示相同或类似组件；另外请了解文中诸如“第一”、“第二”、“第三”、“上”、“下”、“前”、“后”、“内”、“外”、“端”、“部”、“段”、“宽度”、“厚度”、“区”等等及类似用语仅便于看图者参考图中构造以及仅用于帮助描述本技术而已，并非是对本技术的限定。
[0020]请参阅图1
‑
3，本技术提供一种技术方案：一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台1，工作台1上固定安装有固定架10，固定架10设置为U形的固定架，固定架10和工作台1之间转动安装有丝杆3，丝杆3垂直设置，工作台1的下端固定安装有电机2，电机2设置为正反转电机，电机2输出轴一端通过联轴器固定连接于丝杆3的端部，电机2带动丝杆3转动；
[0021]丝杆3的丝杆座上固定连接有连接板5，丝杆3带动连接板5上下移动，连接板5的下端通过连接杆8安装有检测头9，连接板5的侧部固定连接有套环6，固定架10和工作台1之间固定连接有立柱7，套环6滑动套设于立柱7上，连接板5上下移动的过程中带动套环6在立柱7上滑动；
[0022]工作台1上固定安装有底座11，底座11上安装有压力传感器12，固定架10的一侧固定安装有显示屏4和PLC控制器，PLC控制器分别和显示屏4与压力传感器12电性连接，PLC控制器中有信号转换模块，可将压力传感器12传来的电信号转化为数字信号，并传输至显示
屏4上，且显示屏4可显示半导体受到的压力值的变化曲线，压力传感器12上设置有支撑座13，支撑座13上开设有凹槽14，凹槽14和检测头9对应设置，支撑座13上滑动安装有两组L形的支架15；
[0023]支撑座13上开设有第二滑槽21，支架15的下端固定连接有第二滑块20，第二滑块20滑动安装于第二滑槽21的内部，第二滑块20设置为截面为梯形的滑块，防止其在滑动的过程中脱离第二滑槽21，支架15的内壁滑动安装有压板17，压板17的底部安装有橡胶垫，增加对半导体的限位效果，支架15的内壁开设有第一滑槽19，压板17的侧部固定连接有第一滑块18，第一滑块18滑动安装于第一滑槽19的内部，压板17上通过轴承转动连接有螺杆16，支架15上开设有螺纹孔，螺杆16转动安装于螺纹孔的内部，拧动螺杆16可带动压板17上下移动。
[0024]在使用本装置时，将待测试的半导体放置在支撑座13上，且半导体覆盖在凹槽14上，然后推动支架15，使两组支架15相向移动，且半导体抵触在支架15的内壁上，然后拧动螺杆16，螺杆16带动压板17向本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)上固定安装有固定架(10)，所述固定架(10)和工作台(1)之间转动安装有丝杆(3)，所述丝杆(3)的丝杆座上固定连接有连接板(5)，所述连接板(5)的下端通过连接杆(8)安装有检测头(9)，所述工作台(1)上固定安装有底座(11)，所述底座(11)上安装有压力传感器(12)，所述压力传感器(12)上设置有支撑座(13)，所述支撑座(13)上开设有凹槽(14)，所述支撑座(13)上滑动安装有两组L形的支架(15)，所述支架(15)的内壁滑动安装有压板(17)。2.根据权利要求1所述的一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，其特征在于：所述工作台(1)的下端固定安装有电机(2)，所述电机(2)输出轴一端通过联轴器固定连接于丝杆(3)的端部。3.根据权利要求1所述的一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，其特征在于：所述连接板(5)的侧部固定连接有套环(6)，所述固定架(10)和工作台(1)之间固定连接有立...
【专利技术属性】
技术研发人员：李睿，成树华，李龙，蒋中能，
申请(专利权)人：成都方昇科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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