显示面板及测试该显示面板的方法技术

公开了显示面板及测试该显示面板的方法。该显示面板包括：显示器，包括电连接至数据线的像素列；非显示区域，邻近显示器；测试电路，配置为接收经过非显示区域的至少一部分的点亮测试信号，并响应于测试控制信号将点亮测试信号传送至数据线；以及开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将数据信号传送至数据线。传送至数据线。传送至数据线。

【技术实现步骤摘要】
显示面板及测试该显示面板的方法
[0001]本申请是申请日为2016年3月1日、申请号为201610115702.3、名称为“显示面板及测试该显示面板的方法”的专利技术专利申请的分案申请。


[0002]本专利技术的示例实施例涉及显示设备和/或显示面板及测试该显示设备和/或显示面板的方法。

技术介绍

[0003]通常，有机发光显示设备包括显示图像的显示面板、向显示面板提供扫描信号的扫描驱动器、向显示面板提供数据信号的数据驱动器，以及向显示面板提供发射控制信号的发射控制驱动器。
[0004]显示面板通常通过复杂的半导体制造工艺制造。在制造期间，在诸如刻蚀工艺、切割工艺等制造工艺步骤期间，在各种部件、布线和基板中可能出现裂痕(或缺陷)。
[0005]裂痕可能导致诸如面板驱动故障、面板收缩等问题。例如，在可折叠显示面板或可卷曲显示面板的情况下，随着显示面板被折叠/展开或卷曲/铺开，可能出现(或显现)因外力而导致的严重裂痕。
[0006]可利用点亮测试(lighting test)来检测在显示面板的制造过程期间出现的显示面板的内部裂痕(或内部缺陷)(例如，检测包括在显示面板中的布线的损坏)。然而，对于检测微小裂痕，点亮测试具有局限性。另外，点亮测试可能在驱动集成电路被安装在显示面板之前执行，从而点亮测试可能无法检测驱动集成电路被安装在显示面板之后出现的裂痕。

技术实现思路

[0007]本专利技术示例实施例涉及显示设备。例如，本专利技术实施例涉及检测内部裂痕(或内部缺陷)的显示面板以及测试该显示面板的方法。
[0008]一些示例实施例提供一种显示面板，其中内部裂痕(或内部缺陷)可被检测，同时结构和/制造该显示面板的过程的变化得以最小化。
[0009]一些示例实施例提供一种测试显示面板的方法，所述方法能够在驱动集成电路被安装在显示面板中之后以及在驱动集成电路被安装在显示面板中之前检测显示面板的内部裂痕。
[0010]根据示例实施例，一种显示面板包括：显示器，包括电连接至数据线的像素列；非显示区域，邻近所述显示器；测试电路，配置为接收经过所述非显示区域的至少一部分的点亮测试信号，并响应于测试控制信号将所述点亮测试信号传送至数据线；以及开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将所述数据信号传送至数据线。
[0011]显示面板可进一步包括驱动集成电路，该驱动集成电路可配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，并将参考信号供应至所述开关。
[0012]驱动集成电路可配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，以将所述点亮测
试信号和所述参考信号交替供应至所述数据线。
[0013]所述测试电路可包括点亮测试线，该点亮测试线经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸，并经由所述数据线电连接至所述显示器的最外侧处的一个像素列。
[0014]所述显示器可包括：第一像素列，其中发射第一颜色的光的第一像素和发射第二颜色的光的第二像素交替排布；第二像素列，其中所述第一像素和所述第二像素以与所述第一像素列相反的顺序交替排布；以及第三像素列，其中排布有发射第三颜色的光的第三像素，其中所述点亮测试线电连接至所述第三像素列。
[0015]显示器可进一步包括第四像素列，在所述第四像素列中排布有所述第三像素，所述第四像素列经由电阻器电连接至所述测试电路，所述电阻器的电阻等于所述点亮测试线的电阻。
[0016]所述测试电路可进一步包括测试晶体管，该测试晶体管配置为响应于所述测试控制信号将所述点亮测试线与数据线电连接。
[0017]所述开关可包括配置为选择性地将所述数据信号供应至所述像素列的数据分配电路。
[0018]所述开关可包括配置为响应于所述开关信号将所述数据信号传送至所述数据线的开关晶体管。
[0019]所述开关可在驱动集成电路中实现。
[0020]所述显示面板可进一步包括预测试电路，该预测试电路并联电连接至所述开关，并配置为响应于预测试控制信号将预点亮测试信号供应至所述数据线。
[0021]所述预测试电路可包括经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸的预点亮测试线。
[0022]所述数据线可在第一时段期间通过所述点亮测试信号被初始化，并且所述预点亮测试信号可在不同于所述第一时段的第二时段期间被写入到所述数据线中。
[0023]根据本专利技术的一些示例实施例，显示面板包括显示器和非显示区域，该显示器包括电连接至数据线的像素列，非显示区域邻近显示器；第一测试电路，配置为接收经过所述非显示区域的至少一部分的第一点亮测试信号，并且响应于第一测试控制信号将所述第一点亮测试信号传送至所述数据线；开关，配置为从外部部件接收数据信号，并且响应于开关信号将所述数据信号传送至所述数据线；第二测试电路，并联电连接至所述开关，并配置为响应于第二测试控制信号将第二点亮测试信号供应至所述数据线；以及驱动集成电路，配置为生成所述第一测试控制信号、所述第二测试控制信号和所述开关信号。
[0024]所述驱动集成电路可配置为使用所述第二点亮测试信号将所述第二测试电路控制在关断状态，所述驱动集成电路可配置为使用所述第一测试控制信号控制所述第一测试电路在第一时段期间将所述第一点亮测试信号供应至所述数据线，并且所述驱动集成电路可配置为使用所述开关信号控制所述开关在不同于所述第一时段的第二时段期间将参考信号供应至所述数据线。
[0025]所述显示面板可进一步包括：扫描驱动器，配置为控制所述像素列在第二时段期间从所述数据线接收所述参考信号。
[0026]所述第二测试电路可包括经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸的第二点亮测试线。
[0027]根据本专利技术的一些示例实施例，在测试显示面板的方法中，所述显示面板包括显示器和非显示区域，该显示器包括电连接至数据线的像素列，该非显示区域邻近该显示器，该方法包括：将经过非显示部分的至少一部分的第一点亮测试信号供应至向数据线传送第一点亮测试信号的第一测试电路；使用开关将从驱动集成电路供应的参考信号传送至所述数据线；以及使用所述第一测试电路将所述第一点亮测试信号传送至数据线。
[0028]给所述第一测试电路供应所述第一点亮测试信号可包括：将第二测试电路控制在关断状态，并且所述第二测试电路可并联电连接至所述开关，并给所述数据线供应经过所述非显示区域的所述至少一部分的第二点亮测试信号。
[0029]传送所述第一点亮测试信号可包括：将第一测试控制信号供应至所述第一测试电路；以及响应于所述第一测试控制信号将所述第一点亮测试信号传送至所述数据线。
[0030]因此，根据示例实施例的显示面板通过包括排布在所述显示面板的外部区域中的点亮测试线，可相对容易地检测显示面板的内部裂痕，同时使得结构和/或制造显示面板的过程的改变得以最小化或减少，其中所述显示面板的点亮状态响应于点亮测试线的电阻变化而改变。
[0031]另外，根据示例实施例的测试显示面板的方法通过使用测试电路部分和开关部分给所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括：显示器，包括电连接至数据线的像素列；非显示区域，邻近所述显示器；测试电路，配置为接收通过点亮测试线的点亮测试信号，所述点亮测试线经由所述非显示区域的至少一部分延伸并且配置为响应于测试控制信号将所述点亮测试信号施加到所述像素列中的一个像素列，其中所述点亮测试线的一侧电连接到传送所述点亮测试信号的布线，所述点亮测试线的对侧电连接到晶体管，并且所述晶体管电连接在所述点亮测试线的所述对侧与所述一个像素列之间；开关，配置为从外部部件接收数据信号，并响应于开关信号将所述数据信号传送至所述数据线；以及驱动集成电路，配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，并向所述开关供应参考信号。2.如权利要求1所述的显示面板，其中所述驱动集成电路配置为生成所述测试控制信号和所述开关信号，以将所述点亮测试信号和所述参考信号交替供应至所述数据线。3.如权利要求1所述的显示面板，其中所述点亮测试线经由所述数据线电连接至所述显示器的最外侧处的一个像素列。4.如权利要求3所述的显示面板，其中所述显示器包括：第一像素列，在所述第一像素列中，发射第一颜色的光的第一像素和发射第二颜色的光的第二像素交替排布；第二像素列，在所述第二像素列中，所述第一像素和所述第二像素以与所述第一像素列相反的顺序交替排布；以及第三像素列，在所述第三像素列中，排布有发射第三颜色的光的第三像素，其中所述点亮测试线电连接至所述第三像素列。5.如权利要求1所述的显示面板，进一步包括：预测试电路，并联电连接至所述开关，并配置为响应于预测试控制信号将预点亮测试信号供应至所述数据线。6.如权利要求5所述的显示面板，其中所述预测试电路包括经由所述非显示区域的所述至少一部分延伸的预点亮测试线。7.如权利要求5所述的显示面板，其中所述数据线在第一时段期间通过所述点亮测试信号被初始化，并且所述预点亮测试信号在不同于所述第一时段的第二时...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭源奎，张桓寿，李丞珪，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：