点灯治具制造技术

本发明专利技术提供了一种点灯治具，所述点灯治具包括：底座，盖板与探针组件，所述底座与所述盖板围合形成一面板容置空间；所述探针组件位于所述面板容置空间内，包括设置于所述底座靠近所述盖板的一侧的第一探针组与设置于所述盖板靠近所述底座一侧的第二探针组，所述第一探针组用于向底发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，所述第二探针组用于向顶发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，同型号的顶发射显示面板与底发射显示面板可共用一种点灯治具进行点灯测试，或双面发光型显示面板两个显示面仅需一种点灯治具进行点灯测试，从而实现测试效率的提升，以及治具成本的降低。治具成本的降低。治具成本的降低。

【技术实现步骤摘要】
点灯治具


[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种点灯治具。

技术介绍

[0002]目前，有源矩阵有机发光二极管(AMOLED，Active
‑
matrix Organic Light Emitting Diode)型显示面板包括三种发光模式，顶部发光(顶发射)、底部发光(底发射)或双面发光。
[0003]在点灯测试时，点灯治具中的探针需接触显示面板上中特定的测试端子(Pad)从而灌入测试信号，目前，常规的点灯治具均是针对单侧发光的显示面板进行设计，即，一种点灯治具只能对应其一种方式的产品，不能实现顶发射显示面板与底发射显示面板或双面显示面板的共用，导致测试效率低以及治具成本的增加，进而增加了显示面板的制造成本与制造周期，故，亟需开发一款新的点灯治具来改善这一缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种点灯治具，可兼容底发射型显示面板与底发射型显示面板的点灯测试、以及双面发光型显示面板的两个显示面的点灯测试。
[0005]为解决上述问题，本专利技术提供一种点灯治具，所述点灯治具包括：
[0006]底座；
[0007]盖板，与所述底座相对设置，且所述底座与所述盖板围合形成一面板容置空间；
[0008]探针组件，位于所述面板容置空间内，且包括第一探针组与第二探针组，其中，所述第一探针组设置于所述底座靠近所述盖板的一侧所述第二探针组设置于所述盖板靠近所述底座的一侧。
[0009]在一实施例所提供的点灯治具中，所述第一探针组包括多个第一探针，所述第二探针组包括多个第二探针；
[0010]所述点灯治具包括多个测试单元，一所述测试单元包括一所述第一探针和一所述第二探针，一所述测试单元内，所述第一探针和所述第二探针用于传输相同的测试信号。
[0011]在一实施例所提供的点灯治具中，所述面板容置空间包括相互垂直的第一对称轴与第二对称轴，且所述第一对称轴和第二对称轴与所述盖板平行；
[0012]任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第一对称轴对称设置；或
[0013]任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第二对称轴对称设置。
[0014]在一实施例所提供的点灯治具中，所述第一探针组和所述第二探针组位于所述面板容置空间内，且设置于所述面板容置空间的边缘。
[0015]在一实施例所提供的点灯治具中，所述盖板包括一与所述面板容置空间设置的可视窗，所述第二探针组设置于所述可视窗外围。
[0016]在一实施例所提供的点灯治具中，所述点灯治具还包括设置于所述底座上的电源供给模组，所述第一探针组与所述第二探针组通过一连接线路与所述电源供给模组连接。
[0017]在一实施例所提供的点灯治具中，所述连接线路包括多条分别与所述电源供给模组电性连接的信号线，任一所述测试单元内，一所述第一探针与所述第二探针与同一所述的信号线电性连接。
[0018]在一实施例所提供的点灯治具中，所述电源供给模组包括第一电源部与第二电源部，部分的所述信号线电性连接所述第一电源部，剩余部分的所述信号线电性连接所述第二电源部。
[0019]在一实施例所提供的点灯治具中，所述盖板的第一侧边与所述底座铰接。
[0020]在一实施例所提供的点灯治具中，所述盖板的第二侧边上设有第一连接件，所述底座上设有与所述第一连接件可拆卸连接的第二连接件。
[0021]有益效果：本专利技术提供了一种点灯治具，通过在底座与盖板上分别各设置独立的第一探针组与第二探针组，所述第一探针组用于向底发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，所述第二探针组用于向顶发射型显示面板的测试端子灌入信号而进行点灯测试，同型号的顶发射显示面板与底发射显示面板可共用一种点灯治具进行点灯测试，或双面发光型显示面板的两个显示面仅需一种点灯治具进行点灯测试，从而实现测试效率的提升，以及治具成本的降低。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是本专利技术实施例提供一种点灯治具在打开状态下的结构示意图；
[0024]图2是本专利技术实施例提供一种点灯治具在盖合状态下的结构示意图；
[0025]图3是本专利技术实施例提供一组待测试顶发射显示面板与待测试底发射显示面板的点灯测试端子的分布示意图；
[0026]图4是本专利技术实施例提供另一组待测试顶发射显示面板与待测试底发射显示面板的点灯测试端子的分布示意图；
[0027]图5是本专利技术实施例提供另一种点灯治具在打开状态下的结构示意图。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描
述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0030]在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本专利技术，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本专利技术。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本专利技术的描述变得晦涩。因此，本专利技术并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
[0031]本专利技术实施例提供一种点灯治具，以下结合图1示出的该点灯治具进行详细说明。
[0032]所述点灯治具包括底座110、盖板120以及探针组件T，所述盖板120与所述底座110相对设置，且所述底座110与所述盖本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种点灯治具，其特征在于，所述点灯治具包括：底座；盖板，与所述底座相对设置，且所述底座与所述盖板围合形成一面板容置空间；探针组件，位于所述面板容置空间内，且包括第一探针组与第二探针组，其中，所述第一探针组设置于所述底座靠近所述盖板的一侧所述第二探针组设置于所述盖板靠近所述底座的一侧。2.根据权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，所述第一探针组包括多个第一探针，所述第二探针组包括多个第二探针；所述点灯治具包括多个测试单元，一所述测试单元包括一所述第一探针和一所述第二探针，一所述测试单元内，所述第一探针和所述第二探针用于传输相同的测试信号。3.根据权利要求2所述的点灯治具，其特征在于，所述面板容置空间包括相互垂直的第一对称轴与第二对称轴，且所述第一对称轴和第二对称轴与所述盖板平行；任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第一对称轴对称设置；或任一所述测试单元内，所述第一探针在所述底座上的正投影与所述第二探针在所述底座上的正投影相较所述第二对称轴对称设置。4.根据权利要求1所述的点灯治具，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖溪，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：