本实用新型专利技术公开了一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，包括：发射组件，用于发射出可被雪崩管接收的激光光束；安装组件，包括开有用于限制雪崩管本体位置的安装孔的对接块、用于限制雪崩管引脚位置的雪崩管支架和用于电连接雪崩管的接收电路板，所述雪崩管支架位于对接块和接收电路板之间；控制电路组件，与接收电路板电连接。发射组件发出的激光光束会被安装在安装组件上的雪崩管接收，雪崩管接收到激光光束后产生的电信号通过接收电路板传输至控制电路组件以测量其灵敏度高低。本实用新型专利技术可直观、准确、快速的判断出雪崩管灵敏度的高低，且有效提高了雪崩管灵敏度检测的效率，极大地提升了生产效率。极大地提升了生产效率。极大地提升了生产效率。
【技术实现步骤摘要】
一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置
[0001]本技术涉及半导体器件检测
，尤其涉及一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置。
技术介绍
[0002]探测器雪崩管的灵敏度是脉冲型激光测距机的一个重要指标，在实际的生产应用中，需要对探测器的雪崩管的灵敏度进行测量，从而筛选出灵敏度较高的雪崩管用于生产制造。雪崩管全称为雪崩光电二极管(APD)，其包括雪崩管本体和设在雪崩管本体底部的多个雪崩管引脚。
[0003]目前，在对雪崩管进行筛选时，由于其灵敏度不可视，需要直接将雪崩管装配成探测器，用探测器来检测一个光源发出的光，通过增加衰减片，就可以判断出这个雪崩管的灵敏度。若灵敏度不满足使用要求，还需重新装配。这种检测方式操作复杂，需耗费大量的人力物力，且检测效率很低。
技术实现思路
[0004]针对现有技术存在的不足，本技术提供了一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，其可直观、准确、快速的判断出雪崩管灵敏度的高低，且有效提高了雪崩管灵敏度检测的效率，极大地提升了生产效率。
[0005]本技术为解决上述技术问题所采用的技术方案是：一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，包括：
[0006]发射组件，用于发射出可被雪崩管接收的激光光束；
[0007]安装组件，包括开有用于限制雪崩管本体位置的安装孔的对接块、用于限制雪崩管引脚位置的雪崩管支架和用于电连接雪崩管的接收电路板，所述雪崩管支架位于对接块和接收电路板之间；
[0008]控制电路组件，与接收电路板电连接，用于测量雪崩管的灵敏度高低。
[0009]有益效果：通过安装组件中的对接块和雪崩管支架，可快速准确地将雪崩管安装固定，满足了大批量测量的需求；通过接收电路板和控制电路组件，可将雪崩管的灵敏度进行数字化，进而更加直观、准确、快速的判断出雪崩管灵敏度的高低，以便筛选出灵敏度较高的雪崩管；有效提高雪崩管灵敏度检测的效率，极大地提升生产效率。
[0010]进一步的，所述发射组件和安装组件之间还设有光学系统组件，所述光学系统组件用于对发射组件发出的激光光束进行整形和匀化。
[0011]有益效果：通过光学系统组件对激光光束进行整形和匀化，以提高激光光束质量。
[0012]进一步的，所述光学系统组件和安装组件之间还设有衰减组件，所述衰减组件用于对穿过光学系统组件之后的激光光束的能量进行衰减。
[0013]有益效果：通过衰减组件对激光光束的能量进行衰减，从而控制雪崩管接收到的光信号的大小。
[0014]进一步的，还包括壳体和设在壳体上的上盖，所述发射组件、光学系统组件、衰减组件和控制电路组件均位于壳体内，所述安装组件设于壳体上一侧，所述上盖上设有与控制电路组件电连接的显示屏。
[0015]有益效果：通过壳体将发射组件、光学系统组件、衰减组件和安装组件整合在一块，结构紧凑、布局合理；通过显示屏可直观地判断出雪崩管的灵敏度是否满足使用要求。
[0016]进一步的，所述接收电路板包括接收放大模块和用于对雪崩管进行供电的供电模块，所述接收放大模块用于接收并放大处理由雪崩管接收到激光光束而产生的电信号。
[0017]进一步的，所述控制电路组件包括与接收放大模块电连接的接收输入模块、与接收输入模块电连接的高速比较电路和与高速比较电路电连接的数字信号输出电路，所述高速比较电路电连接有用于提供阈值电压的数字电位计，高速比较电路用于将接收输入模块输入的电信号与阈值电压进行比较以判断雪崩管的灵敏度高低。
[0018]进一步的，所述对接块可拆卸连接在壳体上，所述雪崩管支架可拆卸连接在对接块上，雪崩管支架上开有多个用于限制雪崩管引脚位置的第一圆形通孔。
[0019]有益效果：通过雪崩管支架可对雪崩管引脚进行限位，保证了雪崩管引脚与接收电路板之间电气连接的正确性；安装孔用于对雪崩管本体进行限位，以保证雪崩管安装之后能正对激光光束中心。
[0020]进一步的，所述雪崩管支架外侧设有固定外壳，所述固定外壳用于固定雪崩管支架和接收电路板的位置。
[0021]进一步的，所述光学系统组件包括安装座、第二透镜、第一透镜和匀光片，所述第二透镜、第一透镜和匀光片均设在安装座内，所述第二透镜和第一透镜用于对发射组件发出的激光光束进行整形。
[0022]进一步的，所述第一透镜位于第二透镜和匀光片之间位置处，所述匀光片位于安装座内靠近衰减组件的一端。
附图说明
[0023]图1为本技术实施例的立体结构示意图；
[0024]图2为图1除去上盖的俯视示意图；
[0025]图3为图2的剖视示意图；
[0026]图4为本技术实施例中光学系统组件的剖视示意图；
[0027]图5为本技术实施例中安装组件的剖视示意图；
[0028]图6为本技术实施例中雪崩管支架的结构示意图；
[0029]图7为本技术实施例中壳体的结构示意图；
[0030]图8为本技术实施例中控制电路组件的控制框图。
[0031]图中标记：1、接线端子，2、上盖，21、显示屏，3、壳体，31、第一过孔，4、安装组件，41、固定外壳，42、对接块，43、雪崩管支架，44、插接件，45、接收电路板，46、安装孔，5、衰减组件，51、下安装块，6、光学系统组件，61、匀光片，62、第一压圈，63、第一透镜，64第二压圈，65、第二透镜，66、安装座，67、第二孔段，68、第三孔段、69、第六孔段，7、发射组件，8、控制电路组件。
具体实施方式
[0032]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术，即所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0033]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0034]需要说明的是，术语“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，其特征在于：包括：发射组件（7），用于发射出可被雪崩管接收的激光光束；安装组件（4），包括开有用于限制雪崩管本体位置的安装孔（46）的对接块（42）、用于限制雪崩管引脚位置的雪崩管支架（43）和用于电连接雪崩管的接收电路板（45），所述雪崩管支架（43）位于对接块（42）和接收电路板（45）之间；控制电路组件（8），与接收电路板（45）电连接，用于测量雪崩管的灵敏度高低。2.根据权利要求1所述的一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，其特征在于：所述发射组件（7）和安装组件（4）之间还设有光学系统组件（6），所述光学系统组件（6）用于对发射组件（7）发出的激光光束进行整形和匀化。3.根据权利要求2所述的一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，其特征在于：所述光学系统组件（6）和安装组件（4）之间还设有衰减组件（5），所述衰减组件（5）用于对穿过光学系统组件（6）之后的激光光束的能量进行衰减。4.根据权利要求3所述的一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，其特征在于：还包括壳体（3）和设在壳体（3）上的上盖（2），所述发射组件（7）、光学系统组件（6）、衰减组件（5）和控制电路组件（8）均位于壳体（3）内，所述安装组件（4）设于壳体（3）上一侧，所述上盖（2）上设有与控制电路组件（8）电连接的显示屏（21）。5.根据权利要求1所述的一种可快速测量探测器雪崩管灵敏度的测量装置，其特征在于：所述接收电路板（45）包括接收放大模块和用于对雪崩管进行供电的供电模块，所述接收放大模块用于接收并放大处理由雪崩管接收到激...
【专利技术属性】
技术研发人员：董涛，张凯祥，陈勇，
申请(专利权)人：洛阳壹扬机电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。