一种深度测量系统及方法技术方案

本申请提供了一种深度测量系统及方法，处理器获取分辨率需求指标并生成相应的液晶状态设置指令；发射模组通过斑点投影器提供输出光，以及通过液晶按照液晶状态设置指令触发相应物理状态后向目标物体投射发射光；采集模组通过TOF像素阵列采集反射光信号，并根据反射光信号生成电信号；处理器基于电信号计算目标物体的深度值。通过本申请方案的实施，根据深度测量场景所要求的分辨率适应性调整发射模组中液晶的物理状态，以改变发射光的形态来弥补TOF像素的光信号采集局限性，从而使得深度测量系统在近距和远距均能保证较高的测量精度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
一种深度测量系统及方法


[0001]本申请涉及机器视觉
，尤其涉及一种深度测量系统及方法。

技术介绍

[0002]深度测量系统可以用来获取物体的深度图像，进一步可以进行3D建模、骨架提取、人脸识别等，在3D测量以及人机交互领域有着非常广泛的应用。目前的深度测量技术主要有TOF测距技术、结构光测距技术等。
[0003]TOF测距技术是一种通过测量光脉冲在发射/接收装置和目标物体间的往返飞行时间来实现精确测距技术，分为直接测距技术和间接测距技术。其中，间接测距技术测量反射光信号相对于发射光信号的相位延迟，再由相位延迟对飞行时间进行计算，按照调制解调类型方式的不同可以分为连续波(Continuous Wave，CW)调制解调方法和脉冲调制(Pulse Modulated，PW)调制解调方法。
[0004]然而，现有的TOF测距技术仅在特定探测距离内具有良好的测距表现，测距应用场景较为局限。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种深度测量系统及方法，至少能够解决相关技术中所提供的TOF测距技术仅在特定探测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种深度测量系统，其特征在于，包括：发射模组、采集模组以及处理器，所述发射模组包括斑点投影器以及液晶；所述发射模组用于通过所述斑点投影器提供输出光，以及通过所述液晶按照所述处理器发送的液晶状态设置指令触发相应物理状态后向目标物体投射发射光；其中，所述物理状态包括扩散态、透明态；所述采集模组用于通过TOF像素阵列采集所述反射光信号，并根据所述反射光信号生成电信号；所述处理器用于获取分辨率需求指标并生成相应的所述液晶状态设置指令，以及基于所述电信号计算所述目标物体的深度值；其中，所述分辨率需求指标关联于测量距离。2.根据权利要求1所述的深度测量系统，其特征在于，所述采集模组具体用于：在初始状态下通过EVS像素阵列采集所述目标物体反射回的反射光信号，并根据所述反射光信号生成事件信号，以及响应于所述处理器发送的TOF像素激活指令，通过TOF像素阵列采集所述反射光信号，并根据所述反射光信号生成电信号；所述处理器具体用于：根据所述事件信号生成事件图像，并在识别到所述事件图像中所述目标物体为有效测量对象时，向所述采集模组发送所述TOF像素激活指令，然后基于所述电信号计算所述目标物体的深度值。3.根据权利要求2所述的深度测量系统，其特征在于，所述采集模组包括可切换像素阵列，所述可切换像素阵列在所述初始状态下为所述EVS像素阵列；所述采集模组在执行所述响应于所述处理器发送的TOF像素激活指令，通过TOF像素阵列采集所述反射光信号的功能时，具体用于：响应于所述处理器发送的TOF像素激活指令，控制所述EVS像素阵列切换为TOF像素阵列；通过所述TOF像素阵列采集所述反射光信号。4.根据权利要求2所述的深度测量系统，其特征在于，所述采集模组包括单独设置在同一图像传感器上的EVS像素阵列以及TOF像素阵列。5.根据权利要求1所述的深度测量系统，其特征在于，所述斑点投影器包括光源以及光学元件；所述发射模组在执行通过所述斑点投影器提供输出光的功能时，具体用于：通过所述光源输出光束，并通过所述光学元件对所述光束进行光学调制后提供输出光。6.根据权利要求1所述的深度测量系统，其特征在于，所述发射模组在执行通...

【专利技术属性】
技术研发人员：万小芳，邓坚，
申请(专利权)人：深圳锐视智芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：