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本申请提供了一种深度测量系统及方法，处理器获取分辨率需求指标并生成相应的液晶状态设置指令；发射模组通过斑点投影器提供输出光，以及通过液晶按照液晶状态设置指令触发相应物理状态后向目标物体投射发射光；采集模组通过TOF像素阵列采集反射光信号，并...
该专利属于深圳锐视智芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳锐视智芯科技有限公司授权不得商用。

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