一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法与装置制造方法及图纸

技术编号:33352110 阅读:867 留言:0更新日期:2022-05-08 10:00
本申请涉及一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。获取第一测量位置测量的电场强度、第二测量位置测量的电场强度;根据高斯定理确定第一导体、第二导体分别在第一测量位置、第二测量位置产生的电场强度表达式;根据电场强度、第一几何关系以及第二几何关系,确定电场关系表达式;根据电场强度表达式以及电场关系表达式进行求解,得到第一导体的电压以及第二导体的电压。本方法基于高斯定理,利用围绕在两个带电导体周围的电场传感芯片测量电场,通过电场传感芯片的位置关系和测量的电场强度值可以反演出带两个电导体的电压值,通过非接触式的电场测量实现了两个待测导体电压的测量,简单高效。简单高效。简单高效。

【技术实现步骤摘要】
一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法与装置


[0001]本申请涉及电力测量
,特别是涉及一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]针对电力系统中普遍存在的电压测量需求,目前主要通过电压互感器来测量电压。
[0003]在电力领域实际的电压测量场景中,往往需要同时测量两个导体的电压值,而目前基于电压互感器的测量手段,只能测量单个导体的电压值。电力领域中双导体电压测量的问题亟需解决。

技术实现思路

[0004]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够简单高效地测量双导体电压的基于电场传感芯片的双导体电压测量方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0005]第一方面,本申请提供了一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法。
[0006]该方法包括:
[0007]获取第一测量位置测量的电场强度以及第二测量位置测量的电场强度,第一测量位置和第二测量位置分别位于中轴线的两侧,中轴线为第一导体和第二导体之间的中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于电场传感芯片的双导体电压测量方法,其特征在于,所述方法包括:获取第一测量位置测量的电场强度以及第二测量位置测量的电场强度,所述第一测量位置和所述第二测量位置分别位于中轴线的两侧,所述中轴线为第一导体和第二导体之间的中轴线;根据高斯定理确定所述第一导体、所述第二导体分别在所述第一测量位置、第二测量位置产生的电场强度表达式;根据所述电场强度、第一几何关系以及第二几何关系,确定电场关系表达式,其中,所述第一几何关系为所述第一导体与所述第一测量位置以及所述第二测量位置之间的几何关系,所述第二几何关系为所述第二导体与所述第一测量位置以及所述第二测量位置之间的几何关系;根据所述电场强度表达式以及所述电场关系表达式进行求解,得到所述第一导体的电压以及所述第二导体的电压。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取第一测量位置测量的电场强度以及第二测量位置测量的电场强度包括:获取第一测量位置测量的第一电场强度和第二电场强度;获取第二测量位置测量的第三电场强度和第四电场强度。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据高斯定理确定所述第一导体、所述第二导体分别在所述第一测量位置、第二测量位置产生的电场强度表达式包括:根据高斯定理确定所述第一导体在所述第一测量位置产生的第一电场强度表达式;根据所述高斯定理确定所述第一导体在所述第二测量位置产生的第二电场强度表达式;根据所述高斯定理确定所述第二导体在所述第一测量位置产生的第三电场强度表达式;根据所述高斯定理确定所述第二导体在所述第二测量位置产生的第四电场强度表达式;归集所述第一电场强度表达式、所述第二电场强度表达式、所述第三电场强度表达式以及所述第四电场强度表达式,得到电场强度表达式。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述电场强度、第一几何关系以及第二几何关系,确定电场关系表达式包括:根据所述第一电场强度、所述第一导体与所述第一测量位置的几何关系、所述第二导体与所述第一测量位置的几何关系,确定第一电场关系表达式;根据所述二电场强度、所述第一导体与所述第一测量位置的几何关系、所述第二导体与所述第一测量位置的几何关系,确定第二电场关系表达式;根据所述第三电场强度述第一导体与所述第二测量位置的几何关系、所述第二导体与所述第二测量位置的几何关系,确定第三电场关系表达式;根据所述第四电场强度、所述第一导体与所述第二测量位置的几何关系、所述第二导体与所述第二测量位置的几何关系,确定第四电场关系表达式;归集所述第一电场关系表达式、所述第二电场关系表...

【专利技术属性】
技术研发人员:辛明勇徐长宝高吉普王宇陈敦辉田兵刘仲谭则杰吕前程骆柏锋
申请(专利权)人:南方电网数字电网研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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