【技术实现步骤摘要】
一种集成续流沟道二极管的垂直GaN MOSFET
[0001]本专利技术属于功率半导体
,涉及一种集成续流沟道二极管的垂直GaN MOSFET。
技术介绍
[0002]功率MOSFET与双极器件相比具有更好的开关性能,因此被广泛应用于高频功率开关领域。在许多功率开关电路中,例如逆变器和DC
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DC转换器,功率晶体管通常与续流二极管反并联,电路通过续流二极管实现反向电流传导。功率场效应晶体管寄生的PN结体二极管能够反向传导电流,可做功率变换器反向续流使用。然而,GaN较大的禁带宽度,导致GaN MOSFET寄生PN结体二极管开启电压较大,同时,反向续流时漂移区中注入的少子会影响反向恢复特性,造成较大的功率损耗。外部二极管不仅会增加成本,还会引入额外的寄生电感和电容;另一种方案是集成肖特基二极管,但是肖特基接触增大了器件的泄漏电流,同时温度对肖特基二极管性能影响较大。
技术实现思路
[0003]针对上述问题,本专利技术提出一种集成沟道续流二极管的垂直GaN MOSFET。
[000 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成续流沟道二极管的垂直GaN MOSFET,沿器件垂直方向自下而上包括:第一导电材料(1)、GaN衬底(2)、N型GaN漂移区(3)、势垒层(4)、P型GaN沟道层(5)、N型高掺杂GaN层(6),在GaN漂移区(3)内且距离其顶部一定距离设置有P型GaN埋层结构;器件中部设置有槽栅结构,所述槽栅结构由表面垂直贯穿N型高掺杂GaN层(6)、P型GaN沟道层(5)并嵌入势垒层(4)中,由覆盖于槽底部和侧壁的介质层(71)及填充于槽内的第二导电材料(8)构成;沿器件横向方向,两端设置有槽型源极结构;其特征在于:所述P型GaN埋层结构由间断的P型GaN阻挡层(10)与P型屏蔽层(11)构成,且P型GaN阻挡层(10)位于器件两端,P型屏蔽层(11)由位于槽栅下方间断的两段构成;所述槽型源极结构垂直贯穿N型高掺杂GaN层(6)、P型GaN沟道层(5)以及势垒层(4),底部与N型GaN漂移区(3)顶部接触,由位于槽型源极结构底部和侧壁的介质层(72)与覆盖于介质层(72)之上以及填充于槽内的第三导...
【专利技术属性】
技术研发人员:魏杰,廖德尊,张成,邓思宇,贾艳江,孙涛,郗路凡,赵智家,罗小蓉,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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