【技术实现步骤摘要】
一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置和方法
[0001]本专利技术属于绝对光谱响应度校准
，具体涉及一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置和方法。
技术介绍
[0002]高分辨率光学载荷发射前的绝对光谱响应度校准是任何航天产品研制中必不可少的重要环节，是衡量产品能否正常应用的关键步骤。在高分辨率光学载荷研制计划中，大口径超大面阵高分辨率光学载荷由于其研制难度大、反复性高，在发射前开展相应的绝对光谱响应度校准工作，是其研制过程中必不可少的一个环节，尤其是高精度的校准更为重要。采用宽光谱超大面阵高分辨率光学载荷绝对光谱响应度校准技术，可以保证高分辨率光学载荷获取数据的准确性，这对后期数据的实际应用有着重大意义，是高分辨率光学载荷研制过程中不可或缺的重要环节。同时，通过校准技术可以及时发现高分辨率光学载荷研制过程中存在的缺陷，减少其研制过程中的反复，节省研制经费，缩短研制周期，保障整个计划的顺利开展。
[0003]目前我国还没有建立一个完整的宽光谱超大面阵高分辨率光学载荷绝对光谱响应度校准装置，现有光学载荷绝对光谱响应度校...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置，其特征在于，包括准直光学系统、隔振光学平台、标准成像辐射计、扫描控制系统、待测载荷、综合控制和数据处理系统、单色仪和宽光谱光源，所述的准直光学系统、标准成像辐射计、扫描控制系统、待测载荷、单色仪和宽光谱光源安装在隔振光学平台上，所述的宽光谱光源产生光束射入所述的单色仪，所述单色仪对所述光束进行分解，形成波长一定的单色光束，当所述的单色光束经过所述准直光学系统反射后，成像在无穷远处，通过所述的标准成像辐射计后，所述的标准成像辐射计获得单色光束的强度信号，并输出给所述的综合控制和数据处理系统；当所述的单色光束不通过所述的标准成像辐射计，直接被待测载荷接收，所述的待测载荷将获得的单色光束强度信号输出给所述的综合控制和数据处理系统，所述的待测载荷安装在所述的扫描控制系统上，所述的扫描控制系统控制所述的待测载荷进行移动，保证所述的单色光束扫描到待测载荷的每一个待测点，将扫描到的像元空间位置信息传输给综合控制和数据处理系统，所述的综合控制和数据处理系统将待测载荷获得的单色光束强度信号和像元空间位置信息进行配对，并结合标准成像辐射计获得的单色光束强度信号利用绝对光谱响应度校准公式进行计算，获得待测光学载荷每个像元的绝对光谱响应度。2.根据权利要求1所述的一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置，其特征在于，所述的光学载荷绝对光谱响应度校准装置还包括二维平移控制台，所述的标准成像辐射计安装在所述的二维平移控制台上，可以被切入到平行光路中，并能够在垂直于光轴的截面内进行二维运动。3.根据权利要求2所述的一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置，其特征在于，所述的光学载荷绝对光谱响应度校准装置还包括匀化靶标，所述的匀化靶标安装在隔振光学平台上，位于准直光学系统焦面位置，将所述的单色光束的辐射亮度均匀化处理。4.根据权利要求1到3中任一所述的一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置，其特征在于，所述的标准成像辐射计包括消杂光光阑、红外探测分系统、可见光探测分系统、可见光观瞄分系统和数据采集器，所述的消杂光光阑将射入的单色光束消除杂光后传送给红外探测分系统、可见光探测分系统和可见光观瞄分系统；所述的红外探测分系统、可见光探测分系统和可见光观瞄分系统将检测的结果传送给数据采集器，所述的数据采集器将采集到的数据传送给数据采集与综合控制系统。5.根据权利要求4所述的一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置，其特征在于，所述的红外探测分系统包括光学会聚单元、分光镜一、斩波器、前置放大器和红外探测器，所述的可见光探测分系统包括所述光学会聚单元、所述分光镜一、分光镜二和可见光探测器，所述的可见光观瞄分系统包括所述光学会聚单...
【专利技术属性】
技术研发人员：翟思婷，王加朋，张鑫，杜继东，赵丹，
申请(专利权)人：北京振兴计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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