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本发明提供一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置和方法，包括准直光学系统、隔振光学平台、标准成像辐射计、扫描控制系统、待测载荷、综合控制和数据处理系统、单色仪和宽光谱光源，宽光谱光源产生光束射入单色仪生成单色光束，当经过准直光学系统反射后通过标...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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