一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法技术

本发明专利技术公开了一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法，包括：采集信号发生器发射的电压信号，分别生成被测模数转换器采集结果从0跳变到1时的第一外部电压值，以及被测模数转换器采集结果从N

【技术实现步骤摘要】
一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法


[0001]本专利技术涉及模数转换器测试
，特别涉及一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法。

技术介绍

[0002]混合信号电路是连接模拟域和数字域的重要桥梁。ADC(模拟数字转换器)和DAC(数字模拟转换器)则是混合信号领域最为典型的代表。当前，高精度ADC的精确、高效测试评估成为了芯片和相应的混合信号系统可靠性应用的瓶颈，ADC的测试成本在芯片制造成本中所占的比例甚至已经超过ADC设计和工艺所占的成本总和。因此，如何在实现对ADC特别是高精度ADC的快速、精确测试的同时，尽可能降低所需测试成本已经成为了国内外研究的热点。
[0003]ADC是用于将模拟形式的连续信号转换为数字形式的离散信号的一类设备。偏移与增益误差是ADC的两项测试参数，这两项参数的绝对值越小，ADC的性能越好。常规测试ADC(英语：Analog
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digital converter，即模拟数字转换器)的偏移误差(offset error)与增益误差(gain error)的方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、采集信号发生器发射的电压信号，分别生成被测模数转换器采集结果从0跳变到1时的第一外部电压值，以及所述被测模数转换器采集结果从N
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1跳变到N时的第二外部电压值；所述N为所述被测模数转换器转换结果的最大值；S2、根据所述第一外部电压值，以及所述被测模数转换器的分辨率和基准电压，计算所述被测模数转换器的偏移误差；S3、根据所述第一外部电压值和第二外部电压值，以及所述被测模数转换器的分辨率和基准电压，计算所述被测模数转换器的增益误差。2.如权利要求1所述的一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法，其特征在于，所述步骤S1中，采集信号发生器发射的电压信号，生成被测模数转换器采集结果从0跳变到1时的第一外部电压值，包括：采集信号发生器发射的第一电压信号；所述第一电压信号基于所述信号发生器发射的外部电压生成；所述外部电压从0V开始以预设单位为步进逐渐升高；针对每个所述第一电压信号，通过所述被测模数转换器采集预设次数，生成第一外部电压值序列；求出所述第一外部电压值序列的平均值，直至所述平均值大于0.5时停止采集所述第一电压信号；选择与0.5之差的绝对值最小的两个所述第一外部电压值序列的平均值，计算输出第一外部电压值；在所述两个平均值中，一个大于0.5，另一个小于0.5。3.如权利要求2所述的一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法，其特征在于，还包括：通过所述被测模数转换器采集预设次数，当采集结果为0时，数值取0；当采集结果大于0时，数值取1。4.如权利要求2所述的一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法，其特征在于，选择与0.5之差的绝对值最小的两个第一外部电压值序列的平均值，计算输出第一外部电压值，包括：分别获取所述两个平均值对应的所述信号发生器发射的外部电压值，生成两组数据；所述每组数据均包括：所述外部电压值和相对应的所述第一外部电压值序列的平均值；将所述两组数据代入如下公式中，分别求出斜率参数和截距参数：Y＝K*X+B上式中，Y表示所述外部电压值；X表示相对应的所述第一外部电压值序列的平均值；K表示斜率参数；B表示截距参数；根据所述斜率参数和截距参数，求出当所述X为0.5时，所述Y的值，所述Y的值即为第一外部电压值。5.如权利要求1所述的一种测试模数转换器偏移与增益误差的方法，其特征在于，所述步骤S1中，采集信号发生器发射的电压信号，生成被测模数转换器采集结果从N
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1跳变到N时的第二外部电压值，包括：采集信号发生器发射的第二电压信号；所述第二电压信号基于所述信号发生器发射的外部电压生成；所述外部电压从预设电压值开始以预设单位为步进逐渐升高；针对每个所述第二电...

【专利技术属性】
技术研发人员：乔玉，
申请(专利权)人：北京微芯区块链与边缘计算研究院，
类型：发明
国别省市：