采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质，该方法包括以下步骤：响应于设置指令，在当前温度位于预设的第一温度范围内的情况下，每间隔预设的第一温度，对每一个ADC通道进行采样处理，以得到每一个ADC通道的多个采样参数，采样参数包括第一功率参数和第一温度参数；根据每一个ADC通道的所有采样参数，拟合得到每一个ADC通道的拟合函数，并将所有拟合函数保存至存储单元；响应于诊断指令，利用拟合函数，对每一个ADC通道进行诊断处理，以确定ADC通道是否异常。本发明专利技术公开的采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质，能够及时发现异常，并且能够诊断得更准确，并降低诊断成本，有利于提高可靠性。有利于提高可靠性。有利于提高可靠性。

【技术实现步骤摘要】
采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及通信
，特别涉及一种采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在各种工程应用中，当需要将模拟信号转换为数字信号时，通常采用ADC芯片来实现。为了保证信号的质量、去除杂讯，在模拟信号转化为数字信号的过程中，通常需要在ADC芯片的前端增加各种无源器件，例如滤波器。虽然无源器件的故障率较低，但是在实际使用过程中，仍然可能存在损坏，从而影响信号的转换，导致信号失真，进而导致系统失效。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种采样通道异常诊断方法，能够及时发现异常，有利于提高可靠性。
[0004]本专利技术还提出一种包括上述采样通道异常诊断方法的采样通道异常诊断装置。
[0005]本专利技术还提出一种包括上述采样通道异常诊断方法的设备。
[0006]本专利技术还提出一种包括上述采样通道异常诊断方法的存储介质。
[0007]根据本专利技术一方面实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采样通道异常诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：响应于设置指令，在当前温度位于预设的第一温度范围内的情况下，每间隔预设的第一温度，对每一个ADC通道进行采样处理，以得到每一个所述ADC通道的多个采样参数，所述采样参数包括第一功率参数和第一温度参数；根据每一个所述ADC通道的所有所述采样参数，拟合得到每一个所述ADC通道的拟合函数，并将所有所述拟合函数保存至存储单元；响应于诊断指令，利用所述拟合函数，对每一个所述ADC通道进行诊断处理，以确定所述ADC通道是否异常；所述采样处理包括以下步骤：控制DAC通道发送耦合信号至所述ADC通道；当所述ADC通道接收到所述耦合信号，采集所述ADC通道的所述第一功率参数和所述第一温度参数。2.根据权利要求1所述的采样通道异常诊断方法，其特征在于，所述诊断处理包括以下步骤：控制所述DAC通道发送激励信号至外部设备，以使所述外部设备返回采样信号至所述ADC通道；当所述ADC通道接收到所述采样信号，采集所述ADC通道的实际功率参数和实际温度参数；根据所述实际温度参数和所述拟合函数，计算得到所述ADC通道的理论功率参数；根据所述实际功率参数、所述理论功率参数和预设的计算公式，计算得到所述ADC通道的通道损耗；根据所述通道损耗，确认所述ADC通道是否异常。3.根据权利要求2所述的采样通道异常诊断方法，其特征在于，所述根据所述通道损耗，确认所述ADC通道是否异常，包括以下步骤：将所述通道损耗与预设的损耗阈值进行比较；当所述通道损耗大于所述损耗阈值，确认所述ADC通道异常。4.根据权利要求1所述的采样通道异常诊断方法，其特征在于，还包括以下步骤：记录所述ADC通道的异常数量，并将所述异常数量与预设的异常阈值进行比较；当所述异常数量大于所述异常阈值，确认所述DAC通道异常。5.一种采样通道异常诊断装置，其特征在于，包括：配置模块，用于接收并存储预设的第一温度范围和预设的第一温度，以及用于存储拟合函数；采样模块，用于控制DAC通道发送耦合信号至ADC通道，并当所述ADC通道接收到所述耦合信号，采集所述ADC通道的所述第一功率参数和所述第一温度参数；设置模块，用于响应于设置指令，在当前温度位于所述第一温度范围内的情况下，每间隔所...

【专利技术属性】
技术研发人员：包晓军，刘远曦，李琳，刘航，徐挚仁，韦小军，
申请(专利权)人：广东纳睿雷达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：