一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，涉及集成电路测试技术领域，包括测试装置主体，所述测试装置主体包括有旋钮、显示屏和支脚，所述显示屏固定安装在测试装置主体的正面上，所述支脚固定安装在测试装置主体的底部，所述测试装置主体的侧面固定安装有制冷装置，所述测试装置主体的内部设置有夹持机构。本实用新型专利技术通过利用照明管的照明，测试人员可以随时通过观察窗，对测试过程的监察，利用伸缩杆和夹持板对集成电路进行夹持固定，测试过程中，集成电路所漏出的电流可以通过绝缘组件进行吸收消化，在测试过程中产生的一些震动可以通过弹簧进行缓冲，从而达到了提高装置工作效率的效果。率的效果。率的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置


[0001]本技术涉及集成电路测试
，具体涉及一种集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]针对现有技术存在以下问题：
[0004]1、现有的集成电路测试装置在使用时，在测试多个集成电路时，装置内部的热量无法进行散发，影响测试进行，已损坏电子配件，导致装置的利用效率和使用效率降低的问题；
[0005]2、现有的集成电路测试装置在使用时，因某些外界因素，在测试的过程中，不能确保其稳定性，影响了集成电路的测试中断，导致装置的工作效率和实用性降低的问题。

技术实现思路

[0006]本技术提供一种集成电路测试装置，其中一种目的是为了具备散热制冷的能力，解决在测试多个集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括测试装置主体(1)，所述测试装置主体(1)包括有旋钮(11)、显示屏(12)和支脚(13)，所述显示屏(12)固定安装在测试装置主体(1)的正面上，所述支脚(13)固定安装在测试装置主体(1)的底部，其特征在于：所述测试装置主体(1)的侧面固定安装有制冷装置(2)，所述测试装置主体(1)的内部设置有夹持机构(3)；所述制冷装置(2)包括有制冷装置箱体和制冷机(24)，所述制冷机(24)设置在制冷装置箱体的内部；所述夹持机构(3)包括有伸缩杆(33)和夹持板(34)，所述伸缩杆(33)固定安装在测试装置主体(1)的内腔侧面。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述制冷装置箱体的内部设置有鼓风机(21)，所述鼓风机(21)固定安装在制冷装置箱体的内腔一侧，所述鼓风机(21)的出风端固定连接有导风管(22)，所述导风管(22)的一端延伸至制冷机(24)的内部。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述制冷机(24)的侧面固定连接有固定柱(23)，所述制冷机(24)的底部设置有电机(25)，所述电机(25)包括有电机壳体，所述电机壳体的内部设置有减震座(26)，所述电机(25)通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵义辉，
申请(专利权)人：赵义辉，
类型：新型
国别省市：