本发明专利技术提供一种超声波探头晶元测量装置，包括测试机柜和自动测试平台，自动测试平台包括运动测试头模组、转换连接治具和承载平台，承载平台设置在测试机柜的柜体上，运动测试头模组设置在承载平台上，转换连接治具设置在承载平台上，转换连接治具包括转换连接电路板和测试夹具，转换连接电路板夹放于测试夹具中，转换连接电路板上具有测试标准区域和产品转接区域，测试标准区域上规则排列设置有阵列PAD点，产品转接区域上设置有晶元接触单元，晶元接触单元用来连接超声波探头晶元，晶元接触单元与测试标准区域的PAD点通过印刷导线对应连接。使用该设备对超声波探头晶元进行检测，能极大提高整体生产效率，完全满足自动化生产线的成本控制。线的成本控制。线的成本控制。
【技术实现步骤摘要】
一种超声波探头晶元测量装置
[0001]本专利技术属于自动化检测领域，具体涉及一种超声波探头晶元测量装置。
技术介绍
[0002]超声波感应晶元作为超声波探头的核心元件，为防止有功能不合格的产品流入成品组装工序，在组装前需要做功能测试，以便清楚每个晶元的电学特性，确定感应晶元功能达到合格标准才能地进入下一工艺制程。
[0003]目前，传统的测试方式是依靠人工用LCR测量仪器手动探测，并手工记录每个通道的测试结果是Pass或是Fail，这种测试方式存在以下几点问题：1、人工测量记录，测试效率低下，测试每个产品大约需要20分钟。2、测量记录的真实性受人为的因素影响较大。3、人工测量会受人为操作习惯的影响，导致出现偏差，不能精确反映晶元的特性。4、正常的超声波探头通道数量要在128通道以上，由此会导致的人工测试劳动强度太大。
技术实现思路
[0004]鉴于以上，本专利技术提供一种超声波探头晶元测量装置，使用该设备对超声波探头晶元进行自动检测，能极大提高整体生产效率，完全满足自动化生产线的成本控制。
[0005]具体技术方案如下：一种超声波探头晶元测量装置，其特征在于：包括测试机柜和自动测试平台，自动测试平台包括运动测试头模组、转换连接治具和承载平台，承载平台设置在测试机柜的柜体上，运动测试头模组设置在承载平台上，包括三轴运动机构和设置于其上的测试头，转换连接治具可拆卸的设置在承载平台上，转换连接治具包括转换连接电路板和用于夹持固定转换连接电路板的测试夹具，转换连接电路板夹放于测试夹具中，转换连接电路板上具有测试标准区域和产品转接区域，测试标准区域上规则排列设置有阵列式焊盘PAD点，产品转接区域上设置有晶元接触单元，晶元接触单元用来连接超声波探头晶元，晶元接触单元与测试标准区域的焊盘PAD点通过印刷导线对应连接。
[0006]进一步，测试夹具上层盖板上开有测试窗口和产品连接口，测试标准区域对应位于测试夹具的测试窗口处，所述测试夹具上的测试窗口并列的设置有两个，测试标准区域的数量与测试窗口相同；产品转接区域对应位于测试夹具的产品连接口处。
[0007]进一步，所述晶元接触单元可以设置成插槽结构或贴片接触式结构。
[0008]进一步，测试标准区域一侧设置有校准接头，显露于测试窗口处。
[0009]进一步，所述三轴运动机构包括X轴直线位移模组、Y轴直线位移模组和Z轴直线位移模组，X轴直线位移模组直接设置在承载平台上，且位于转换连接治具的一侧，X轴直线位移模组上设置有两个Y轴直线位移模组，每个Y轴直线位移模组上均设置有Z轴直线位移模组，Z轴直线位移模组上配置测试头，可在转换连接治具的上方各自独立运动。
[0010]进一步，所述测试头上具有一组测试针，规则的排列在测试头的底部，用来接触转换连接电路板。
[0011]进一步，所述承载平台上设置有支撑座，用于支撑转换连接治具，支撑座的端部设置有肘夹，方便支撑转换连接治具的拆卸和固定；支撑座上方还设置有挡板。
[0012]进一步，所述测试机柜的柜体上还设置有工控机、测量仪和显示器，互相与自动测试平台电连接，用于控制、测量和显示自动测试平台的测试过程。
[0013]进一步，所述测试头通过测试线连接测量仪，其中通过射频切换开关控制测试头信号的输入和切换。本专利技术的超声波探头晶元测量装置，设置转换连接治具，转换连接治具中安装转换连接电路板，转换连接电路板为一种专门设计的PCB板，作为中转，将超声波探头晶元模组的通道信号转换到转换连接电路板的测试标准区域的焊盘PAD点上，从而测试焊盘PAD点即可得到超声波探头晶元通道的电特性了，此方式对于测量众多通道的晶元来说更为便利和准确，而且转换连接治具可拆卸的设置，可以随时根据检测产品的规格更换对应的转换连接电路板，以次适应范围更广。另外本装置的测试运动方面还设置有两个测试头，当一组测试头接触测试时，另一组测试头定位寻找下一组测试点的位置，两个测试头交替测量，测量信号由射频切换开关适时进行切换，顺畅的实现被测晶元产品和测量仪之间的连接和各通道电学性能信号的测量，极大地提高了整体效率。
[0014]本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0015]本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1所示为超声波探头晶元测量装置的整体结构示意图：图2所示为自动测试平台的整体结构示意图（图未示产品连接口）；图3所示为转换连接治具的一种实施例示意图；图4所示为转换连接治具的一种实施例的分解示意图；图5所示为转换连接治具中转换连接电路板的一种实施例示意图；图6所示为转换连接治具的其他实施例示意图；图7所示为转换连接治具中转换连接电路板的其他实施例示意图。
具体实施方式
[0016]下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能解释为对本专利技术的限制。
[0017]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0018]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”等应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个
元件内部的连通。对于本领域的技术人员而言，是可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义的。
[0019]如图1
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图2，一种超声波探头晶元测量装置，包括测试机柜100和自动测试平台200，自动测试平台200包括运动测试头模组、转换连接治具300和承载平台221，承载平台221设置在测试机柜的柜体101上，运动测试头模组设置在承载平台221上，包括三轴运动机构和设置于其上的测试头213，三轴运动机构用来移动测试头213精准走位。
[0020]如图2，展示的是除去自动测试平台上方罩体后的内部结构，转换连接治具300可拆卸的设置在承载平台221上，承载平台221上设置有支撑座222，用于支撑转换连接治具300，支撑座222的端部设置有肘夹224，方便支撑转换连接治具300的拆卸和固定；支撑座222上方还设置有挡板223，防止转换连接治具放到支撑座上跑偏。
[0021]进一步如图3
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图4，转换连接治具300包括转换连接电路板313和用于夹持固定转换连接电路板313的测试夹具，转换连接电路板313夹放于测试夹具中，转换连接电路板313为一种专门设计的PCB板，其上具有测试标准区域316和产品转接区域318，测试标准区域316上规则排列设置有阵列式焊盘PAD点317，产品转接区域318上设置有晶元接触单元319，晶本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种超声波探头晶元测量装置，其特征在于：包括测试机柜和自动测试平台，自动测试平台包括运动测试头模组、转换连接治具和承载平台，承载平台设置在测试机柜的柜体上，运动测试头模组设置在承载平台上，包括三轴运动机构和设置于其上的测试头，转换连接治具可拆卸的设置在承载平台上，转换连接治具包括转换连接电路板和用于夹持固定转换连接电路板的测试夹具，转换连接电路板夹放于测试夹具中，转换连接电路板上具有测试标准区域和产品转接区域，测试标准区域上规则排列设置有阵列式焊盘PAD点，产品转接区域上设置有晶元接触单元，晶元接触单元用来连接超声波探头晶元，晶元接触单元与测试标准区域的焊盘PAD点通过印刷导线对应连接。2.根据权利要求1所述的超声波探头晶元测量装置，其特征在于，测试夹具上层盖板上开有测试窗口和产品连接口，测试标准区域对应位于测试夹具的测试窗口处，产品转接区域对应位于测试夹具的产品连接口处。3.根据权利要求2所述的超声波探头晶元测量装置，其特征在于，所述晶元接触单元可以设置成插槽结构或贴片接触式结构。4.根据权利要求2所述的超声波探头晶元测量装置，其特征在于，所述测试夹具上的测试窗口并列的设置有两个，测试标准区域的数量与测试窗口相同。5.根据权利要求3所述的超声波探头晶元测量装置，其特征在于，测试标准...
【专利技术属性】
技术研发人员：汤奇峰，刘慧，丁森，
申请(专利权)人：苏州欧菲特电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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