一种超声波探头晶元测量装置制造方法及图纸

技术编号:33203740 阅读:32 留言:0更新日期:2022-04-24 00:45
本发明专利技术提供一种超声波探头晶元测量装置,包括测试机柜和自动测试平台,自动测试平台包括运动测试头模组、转换连接治具和承载平台,承载平台设置在测试机柜的柜体上,运动测试头模组设置在承载平台上,转换连接治具设置在承载平台上,转换连接治具包括转换连接电路板和测试夹具,转换连接电路板夹放于测试夹具中,转换连接电路板上具有测试标准区域和产品转接区域,测试标准区域上规则排列设置有阵列PAD点,产品转接区域上设置有晶元接触单元,晶元接触单元用来连接超声波探头晶元,晶元接触单元与测试标准区域的PAD点通过印刷导线对应连接。使用该设备对超声波探头晶元进行检测,能极大提高整体生产效率,完全满足自动化生产线的成本控制。线的成本控制。线的成本控制。

【技术实现步骤摘要】
一种超声波探头晶元测量装置


[0001]本专利技术属于自动化检测领域,具体涉及一种超声波探头晶元测量装置。

技术介绍

[0002]超声波感应晶元作为超声波探头的核心元件,为防止有功能不合格的产品流入成品组装工序,在组装前需要做功能测试,以便清楚每个晶元的电学特性,确定感应晶元功能达到合格标准才能地进入下一工艺制程。
[0003]目前,传统的测试方式是依靠人工用LCR测量仪器手动探测,并手工记录每个通道的测试结果是Pass或是Fail,这种测试方式存在以下几点问题:1、人工测量记录,测试效率低下,测试每个产品大约需要20分钟。2、测量记录的真实性受人为的因素影响较大。3、人工测量会受人为操作习惯的影响,导致出现偏差,不能精确反映晶元的特性。4、正常的超声波探头通道数量要在128通道以上,由此会导致的人工测试劳动强度太大。

技术实现思路

[0004]鉴于以上,本专利技术提供一种超声波探头晶元测量装置,使用该设备对超声波探头晶元进行自动检测,能极大提高整体生产效率,完全满足自动化生产线的成本控制。
[0005]具体技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声波探头晶元测量装置,其特征在于:包括测试机柜和自动测试平台,自动测试平台包括运动测试头模组、转换连接治具和承载平台,承载平台设置在测试机柜的柜体上,运动测试头模组设置在承载平台上,包括三轴运动机构和设置于其上的测试头,转换连接治具可拆卸的设置在承载平台上,转换连接治具包括转换连接电路板和用于夹持固定转换连接电路板的测试夹具,转换连接电路板夹放于测试夹具中,转换连接电路板上具有测试标准区域和产品转接区域,测试标准区域上规则排列设置有阵列式焊盘PAD点,产品转接区域上设置有晶元接触单元,晶元接触单元用来连接超声波探头晶元,晶元接触单元与测试标准区域的焊盘PAD点通过印刷导线对应连接。2.根据权利要求1所述的超声波探头晶元测量装置,其特征在于,测试夹具上层盖板上开有测试窗口和产品连接口,测试标准区域对应位于测试夹具的测试窗口处,产品转接区域对应位于测试夹具的产品连接口处。3.根据权利要求2所述的超声波探头晶元测量装置,其特征在于,所述晶元接触单元可以设置成插槽结构或贴片接触式结构。4.根据权利要求2所述的超声波探头晶元测量装置,其特征在于,所述测试夹具上的测试窗口并列的设置有两个,测试标准区域的数量与测试窗口相同。5.根据权利要求3所述的超声波探头晶元测量装置,其特征在于,测试标准...

【专利技术属性】
技术研发人员:汤奇峰刘慧丁森
申请(专利权)人:苏州欧菲特电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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