目标测试不通过注入制造技术

本申请案是针对目标测试不通过注入。存储器装置可包含被配置成测试存储器阵列的一或多个存储器单元的自测试电路系统。所述自测试电路系统可被配置成基于来自所述存储器装置的模式寄存器的指示而存储在所述存储器阵列的测试期间未通过的一或多个地址。所述自测试电路系统可被配置成不通过所述所存储的一或多个地址而不考虑所述一或多个存储器地址处的所述测试的结果。举例来说，当所存取的地址在测试期间匹配存储的地址时，所述自测试电路系统可产生所述所存取的地址未通过所述自测试程序的一或多个测试的指示。基于所述自测试电路系统不通过所述所存储的地址，可验证所述存储器阵列的测试。存储器阵列的测试。存储器阵列的测试。

【技术实现步骤摘要】
目标测试不通过注入
[0001]交叉引用
[0002]本专利申请案主张2020年10月16日由佩希(Pecha)等人申请的标题为“目标测试不通过注入(TARGETED TEST FAIL INJECTION)”的第17/073,126号美国专利申请案的优先权，所述美国专利申请案转让给本受让人且明确地以全文引用的方式并入本文中。


[0003]
涉及目标测试不通过注入(targeted test fail injection)。

技术介绍

[0004]存储器装置广泛用于将信息存储在例如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等的各种电子装置中。通过将存储器装置内的存储器单元编程为各种状态来存储信息。举例来说，二进制存储器单元可编程到两个支持状态中的一个，常常由逻辑1或逻辑0来标示。在一些实例中，单个存储器单元可支持多于两个状态，可存储所述状态中的任一个。为了存取所存储信息，组件可以读取或感测存储器装置中的至少一个所存储状态。为了存储信息，组件可在存储器装置中写入状态或对状态进行编程。
[0005]存在各种类型的存储器装置和存储器单元，包含磁性硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、动态RAM(DRAM)、同步动态RAM(SDRAM)、铁电RAM(FeRAM)、磁性RAM(MRAM)、电阻式RAM(RRAM)、快闪存储器、相变存储器(PCM)、自选存储器、硫属化物存储器技术和其它。存储器单元可为易失性的或非易失性的。非易失性存储器，例如FeRAM，可维持其所存储的逻辑状态很长一段时间，即使无外部电源存在也是这样。例如DRAM的易失性存储器装置在与外部电源断开连接时可能会丢失其所存储的状态。

技术实现思路

[0006]描述一种设备。所述设备可包含存储器阵列；模式寄存器，其被配置成存储地址是否被强制不通过应用于所述存储器阵列的一或多个测试的指示；和测试电路，其被配置成对所述存储器阵列执行所述一或多个测试，所述测试电路包含第一电路，其被配置成识别被强制不通过所述存储器阵列的所述一或多个测试的所述地址；和第二电路，其被配置成对所述存储器阵列执行测试并且至少部分地基于存储于所述模式寄存器中的所述指示而不通过所述地址。
[0007]描述了一种方法。所述方法可包含识别地址是否被强制不通过应用于存储器装置的一或多个测试的指示的值；至少部分地基于识别所述指示的所述值，存储所述存储器装置的存储器阵列的地址；接收至少部分地基于存储所述地址而对所述存储器阵列执行测试的命令；和作为所述测试的部分，至少部分地基于所述指示的所述值和存储所述地址，确定所述地址包含一或多个错误。
[0008]描述另一种设备。所述设备可包含存储器阵列；和控制器，其与所述存储器阵列耦合并且可操作以致使所述设备：识别地址是否被强制不通过应用于所述存储器阵列的一或
多个测试的指示的值；基于识别所述指示的所述值，存储所述存储器阵列的所述地址；接收基于存储所述地址而对所述存储器阵列执行测试的命令；和作为所述测试的部分，基于所述指示的所述值和存储所述地址，确定所述地址包含一或多个错误。
附图说明
[0009]图1和2说明根据本文所公开的实例的支持目标测试不通过注入的系统的实例。
[0010]图3说明根据本文所公开的实例的支持目标测试不通过注入的框图的实例。
[0011]图4说明根据本文所公开的实例的支持目标测试不通过注入的过程流的实例。
[0012]图5示出根据本文所公开的实例的支持目标测试不通过注入的存储器装置的框图。
[0013]图6示出说明根据本文所公开的实例的支持目标测试不通过注入的一或多种方法的流程图。
具体实施方式
[0014]一些存储器装置可包含可使得存储器装置能够执行自测试程序以识别或修复存储器装置中的缺陷的自测试电路系统，例如存储器内置式自测试(MBIST)电路系统。在一些实例中，自测试电路系统可被配置成产生用于测试存储器阵列的测试向量和存储器寻址序列。自测试电路系统可被配置成逐步通过用于以下操作的指令序列：将测试向量值写入到存储器阵列；从存储器阵列读取回所述值；和基于从存储器阵列读取的值是否对应于写入到存储器阵列的值确定存储器阵列是否有错误(例如，其是否包含一或多个错误)。
[0015]在一些情况下，可为有利的是验证或检验自测试电路系统如所配置地进行操作。举例来说，如果自测试电路系统不被验证，那么识别存储器装置中无缺陷的自测试程序可指示存储器阵列不包含错误，或自测试程序的结果可指示自测试程序有错误(例如，自测试电路系统可包含一或多个错误或缺陷)。
[0016]根据本文中所描述的技术，存储器装置可包含被配置成在测试程序期间有意不通过存储器阵列的一或多个地址的自测试电路系统。自测试电路系统可基于来自存储器装置的模式寄存器的指示存储所述一或多个地址。自测试电路系统可被配置成不通过所存储的地址而不考虑在所存储的地址处写入的数据(例如，值)。举例来说，当对存储器阵列执行自测试程序时，可将存取的地址与所存储的地址进行比较。当所存取的地址匹配存储的地址时，自测试电路系统可基于所述比较产生所存取的地址未通过自测试程序的一或多个测试的指示。在一些实例中，自测试电路系统可被配置成在所产生的指示中识别的地址处执行修复操作。基于自测试电路系统不通过所存储的地址，可验证测试程序和/或自测试电路系统。
[0017]首先在如参考图1和2所描述的系统和裸片的上下文中描述本公开的特征。在如参考图3和4所描述的框图和过程流的上下文中描述本公开的特征。通过涉及参考图5和6所描述的涉及目标测试不通过注入的设备图和流程图进一步说明并且参考所述设备图和流程图进一步描述本公开的这些和其它特征。
[0018]图1说明根据本文所公开的实例的支持目标测试不通过注入的系统100的实例。系统100可包含主机装置105、存储器装置110以及将主机装置105与存储器装置110耦合的多
个信道115。系统100可包含一或多个存储器装置110，但所述一或多个存储器装置110的方面可在单个存储器装置(例如，存储器装置110)的上下文中描述。
[0019]系统100可包含如计算装置、移动计算装置、无线装置、图形处理装置、车辆或其它系统的电子装置的部分。举例来说，系统100可说明计算机、手提式计算机、平板计算机、智能电话、蜂窝电话、可穿戴装置、互联网连接装置、车辆控制器等的各方面。存储器装置110可以是可用于存储用于系统100的一或多个其它组件的数据的系统的组件。
[0020]系统100的至少部分可为主机装置105的实例。主机装置105可以是使用存储器执行过程的装置内的处理器或其它电路的实例，例如在计算装置、移动计算装置、无线装置、图形处理装置、计算机、手提式计算机、平板计算机、智能电话、蜂窝式电话、可穿戴装置、因特网连接装置、车辆控制器、芯片上系统(SoC)或某一其它固定或便携式电子装置以及其它实例内。在一些实例中，主机装置105可指代实施外部存储器控制器120的功本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备，其包括：存储器阵列；模式寄存器，其被配置成存储地址是否被强制不通过应用于所述存储器阵列的一或多个测试的指示；和测试电路，其被配置成对所述存储器阵列执行所述一或多个测试，所述测试电路包括：第一电路，其被配置成识别被强制不通过所述存储器阵列的所述一或多个测试的所述地址；和第二电路，其被配置成对所述存储器阵列执行测试并且至少部分地基于存储于所述模式寄存器中的所述指示而不通过所述地址。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一电路包括：寄存器，其被配置成存储被强制不通过的所述地址。3.根据权利要求2所述的设备，其中所述第一电路包括：逻辑，其被配置成接收指示所述地址是否被强制不通过的第一输入和指示所述地址是否包含一或多个错误的第二输入并且被配置成至少部分地基于所述第一输入或所述第二输入产生所述地址未通过所述一或多个测试的旗标。4.根据权利要求2所述的设备，其中所述寄存器至少部分地基于所述模式寄存器存储所述指示而存储所述地址。5.根据权利要求4所述的设备，其中所述第二电路至少部分地基于所述寄存器存储所述地址而执行所述测试。6.根据权利要求1所述的设备，其中：所述指示是指示一或多个地址是否被强制不通过应用于所述存储器阵列的所述一或多个测试，所述一或多个地址包括所述地址；且所述第二电路被进一步配置成至少部分地基于存储于所述模式寄存器中的所述指示而不通过所述一或多个地址。7.根据权利要求1所述的设备，其中所述第二电路被进一步配置成至少部分地基于不通过所述地址而执行修复操作。8.根据权利要求1所述的设备，其中所述第二电路被进一步配置成至少部分地基于存储于所述模式寄存器中的所述指示而不通过所述地址。9.根据权利要求1所述的设备，其中所述测试电路被进一步配置成在所述测试电路的所述第二电路已执行所述测试之后致使所述设备重置所述指示。10.根据权利要求1所述的设备，其中所述模式寄存器被进一步配置成至少部分地基于负载模式寄存器命令而存储所述指示。11.一种方法，其包括：识别地址是否被强制不通过应用于存储器装置的一或多个测试的指示的值；至少部分地基于识别所述指示的所述值，存储所述存储器装置的存储器阵列的地址；接收至少部分地基于存储所述地址而对所述存储器阵列执行测试的命令；和作为所述测试的部分，至少部分地基于所述指示的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：B，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：