【技术实现步骤摘要】
一种用于老化寿命试验的老化板结构
[0001]本技术涉及老化板
,具体为一种用于老化寿命试验的老化板结构。
技术介绍
[0002]为了达到满意的合格率,几乎所有的产品在出厂前都要进行老化测试,与其他产品一样,半导体器件随时都有可能因为各种原因而出现故障,老化就是籍由让半导体器件在给定的超负荷状态下工作而使其缺陷在较短的时间内出现,避免再使用早期发生故障,老化之后的器件基本上要求100%消除有这段时间产生的故障。
[0003]现有技术中,一般老化板都是很薄的,如此使得工作人员在完成老化寿命试验后拿取老化板时很容易出现拿取操作不便的情况,从而容易导致操作效率降低。
技术实现思路
[0004]本技术提供了一种用于老化寿命试验的老化板结构,具备便于操作的优点,以解决拿取移动老化板不便而导致操作效率降低的问题。
[0005]为实现便于操作的目的,本技术提供如下技术方案:一种用于老化寿命试验的老化板结构,包括老化板本体,所述老化板本体的表面设置有测试工位块,所述老化板本体的左右两侧分别设置有对接金手指和 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于老化寿命试验的老化板结构,包括老化板本体(1),其特征在于:所述老化板本体(1)的表面设置有测试工位块(2),所述老化板本体(1)的左右两侧分别设置有对接金手指(3)和固定块(4),所述固定块(4)的表面活动设置有限位板(5);所述固定块(4)的内部固定安装有贴合限位板(5)一侧底部的支撑块(9),所述固定块(4)的内部固定安装有支撑弹簧(10),所述支撑弹簧(10)的顶部固定连接有贴合限位板(5)另一侧底部的操作把手框(11),所述固定块(4)的内壁中固定连接有两个连接弹簧(13),所述连接弹簧(13)的一端固定连接有连接杆(14),所述连接杆(14)与限位板(5)之间设置有限位弹簧(15)。2.根据权利要求1所述的一种用于老化寿命试验的老化板结构,其特征在于:所述限位板(5)的底部中心固定安装有固定套(6),所述固定块(4)的内部固定安装有贯穿固定套(6)的固定轴(7),所述限位板(5)的表面开设有两个固定槽(8)。3.根据权利要求1所述的一种用于老化寿命试验的老化板结构,其特征在于:所述固定块(...
【专利技术属性】
技术研发人员:崔红,李黎明,张新慧,杨帆,
申请(专利权)人:迪赛康科技深圳有限公司,
类型:新型
国别省市:
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