一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及图像处理技术领域，具体涉及一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法及系统，该方法首先对屏蔽盒图像进行处理得到目标图像，重构目标图像得到多张特征图。获取特征图中的局部区域；计算局部区域的异常程度，并从局部区域中选取待选区域。对待选区域分类得到多个缺陷簇。计算缺陷簇内待选区域的差异程度和聚集程度；聚集程度和差异程度之比为符合程度。根据符合程度和异常程度计算特征图的适配程度；由适配程度从特征图中选取目标特征图。对目标特征图进行缺陷检测得到屏蔽盒评价值。本发明专利技术通过计算LBP算子与特征图的适配程度，从特征图中选取目标特征图进行缺陷检测，提高了缺陷检测的准确性。提高了缺陷检测的准确性。提高了缺陷检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及图像处理
，具体涉及一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法及系统。

技术介绍

[0002]屏蔽盒是利用导电或者导磁材料制成的壳、板、套等各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空间范围内，用于抑制辐射干扰的金属体。屏蔽盒一般使用金属材料制作，但是金属长时间暴露在空气中时容易被腐蚀，所以经常会对屏蔽盒表面进行喷漆处理。但金属腐蚀是不可逆转的自发过程，即使是优质的喷漆涂装，也难于保护金属不发生腐蚀，尤其是当金属表面喷漆涂装层结合不良，受到损坏，或有针孔，鼓泡、龟裂、脱落等缺陷，喷漆涂层的保护作用将大大下降，甚至加剧金属腐蚀的后果。
[0003]目前，常用的对屏蔽盒涂装质量进行检测的方法为使用缺陷检测神经网络确定缺陷的位置。这种方法在采集到的屏蔽盒图像对应的屏蔽盒中有大面积的低频信号的时候可以准确检测出缺陷，但当有针孔等细小的高频的缺陷时就难以准确检测出来。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术的目的在于提供一种基于图像处理的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集屏蔽盒图像，对所述屏蔽盒图像进行语义分割得到目标图像；采用半径不同的LBP算子分别重构所述目标图像，得到多张特征图；根据所述特征图中各像素点的坐标和灰度值对像素点分类，得到多个局部区域；根据各局部区域内像素点的像素均值的差值和局部区域的面积占比得到局部区域的异常程度，根据所述异常程度从多个局部区域中筛选出待选区域；根据各待选区域之间的距离对各特征图中的待选区域进行分类得到多个缺陷簇；根据所述缺陷簇内的待选区域数量、待选区域面积和待选区域内像素点的方差得到差异程度；计算缺陷簇内各待选区域的聚集程度；所述聚集程度和所述差异程度的比值为符合程度；根据各缺陷簇对应的所述符合程度和缺陷簇内各待选区域对应的异常程度得到特征图的适配程度；根据所述适配程度从多个特征图中选取出目标特征图；对所述目标特征图进行缺陷检测，得到屏蔽盒评价值。2.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法，其特征在于，所述根据所述特征图中各像素点的坐标和灰度值对像素点分类，得到多个局部区域，包括：由所述特征图中各像素点的坐标和灰度值构建各像素点对应的样本集；利用均值漂移聚类将所述样本集进行聚类得到多个聚类类别，属于同一聚类类别的样本集对应的像素点为同一类得到多个局部类别；所述局部类别包含多个像素点；每个局部类别对应一个局部区域。3.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法，其特征在于，所述根据各局部区域内像素点的像素均值的差值和局部区域的面积占比得到局部区域的异常程度，包括：选取任意局部区域作为目标局部区域；获取所述目标局部区域内像素点的像素均值和其他各局部区域内像素点的像素均值的差值的第一绝对值；计算多个所述第一绝对值的第一均值；所述第一均值和目标局部区域的面积占比的倒数相乘得到目标局部区域的异常程度。4.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的屏蔽盒涂装质量检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷簇内的待选区域数量、待选区域面积和待选区域内像素点的方差得到差异程度，包括：获取各待选区域的待选区域面积；计算缺陷簇内的最大待选区域面积和最小待选区域面积的差值为缺陷簇的最大面积差；获取各待...

【专利技术属性】
技术研发人员：危宾，
申请(专利权)人：武汉市富甸科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：