一种可调节视觉检测设备制造技术

本实用新型专利技术属于视觉检测技术领域，公开了一种可调节视觉检测设备，包括两组摄像装置、两组棱镜调节机构和两组光源调节机构，可配合半导体晶粒取出存放设备同时进行半导体晶粒的筛选和将筛选后合格的半导体晶粒放入相对应的等级序列中的工作。摄像装置上设有一个摄像组件并且可对摄像组件的位置沿X轴和Z轴可调。棱镜调节机构上设有一个棱镜，并且可对棱镜的转动角度和沿X轴和Y轴的位置可调。光源调节机构上设有一组光源，并且可对光源转动角度以及沿X轴的位置可调。每组摄像装置、每组棱镜调节结构和每组光源调节机构均可单独调节，使得半导体晶粒筛选的更加灵活和准确，结构简单，操作方便，占地面积小。占地面积小。占地面积小。

【技术实现步骤摘要】
一种可调节视觉检测设备


[0001]本技术属于视觉检测
，公开了一种可调节视觉检测设备。

技术介绍

[0002]半导体在收音机、电视、显示屏以及测温等多个领域有着广泛的应用，给人们的生活带来了极大的便利。
[0003]目前人们常见的显示屏等均由可以发出不同颜色光的半导体晶粒组成，可发出不同颜色的半导体晶粒共同发光得到人们所看到的图案。测试与分选是半导体晶粒制造生产过程中的一项必要工序。半导体晶圆在切割成半导体晶粒后，会使用具有半导体晶粒分选功能的装置，例如半导体晶粒分选机，进行半导体晶粒测试和分选的动作。通常针对主波长、发光强度、光通量、色温、工作电压、反向击穿电压等几个关键参数来进行测试和分选，根据使用的要求选取相应规格的半导体晶粒，以满足高精度的使用要求。
[0004]视觉检测设备是半导体晶粒分选机的重要组成部分，对是否能筛选到准确型号的半导体晶粒起着至关重要的作用。现有的视觉检测设备是通过用光源照射半导体晶粒，使得半导体晶粒发出不同的光，摄像组件采集到半导体晶粒发出的光后对这些光进行成像以得到被检测的半导体晶粒的图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调节视觉检测设备，包括：设备架(100)和设置于所述设备架(100)上的摄像装置(400)，其特征在于，所述摄像装置(400)设置两组，每组所述摄像装置(400)均包括摄像组件(430)，所述摄像组件(430)沿X轴和Z轴的位置可调；所述可调节视觉检测设备还包括：两组棱镜调节机构(200)，设置于所述设备架(100)上，每组所述棱镜调节机构(200)上均设置有一组棱镜(500)，每组所述棱镜(500)均与一组所述摄像组件(430)的镜头(4021)对应设置，所述棱镜调节机构(200)被配置为能够调节其上设置的所述棱镜(500)的转动角度和沿所述X轴和Y轴的位置；以及两组光源调节机构(300)，设置于所述设备架(100)上，并位于所述棱镜调节机构(200)的两侧，每组所述光源调节机构(300)上均设置有一组光源(600)，所述光源调节机构(300)被配置为能够调节其上设置的所述光源(600)的转动角度以及沿所述X轴的位置。2.根据权利要求1所述的可调节视觉检测设备，其特征在于，所述光源调节机构(300)包括：安装架(310)和连接轴(320)，所述连接轴(320)与所述安装架(310)相连，所述连接轴(320)转动并沿所述X轴移动设置于所述设备架(100)上，所述安装架(310)上设置有一组所述光源(600)。3.根据权利要求2所述的可调节视觉检测设备，其特征在于，所述设备架(100)上设置有第一安装孔，所述第一安装孔沿所述X轴方向延伸，所述连接轴(320)转动设置于所述第一安装孔内，并能够沿所述第一安装孔的延伸方向移动；所述设备架(100)上设置有螺纹孔，所述螺纹孔与所述第一安装孔垂直连通，所述光源调节机构(300)还包括锁定件，所述锁定件连接于所述螺纹孔内，且与所述连接轴(320)相抵接。4.根据权利要求1所述的可调节视觉检测设备，其特征在于，所述棱镜调节机构(200)包括：第一位置调节件(210)，沿所述X轴移动设置于所述设备架(100)上；及第二位置调节件(230)，沿所述Y轴方向移动设置于所述第一位置调节件(210)上，所述第二位置调节件(230)上转动设置有一组所述棱镜(500)。5.根据权利要求4所述的可调节视觉检测设备，其特征在于，所述第一位置调节...

【专利技术属性】
技术研发人员：李小强，杨少刚，
申请(专利权)人：深圳市八零联合装备有限公司，
类型：新型
国别省市：