一种同轴检测光源制造技术

本实用新型专利技术公开了一种同轴检测光源，包括光源外壳，所述光源外壳的底部设有出光口，所述光源外壳的顶部设有拍摄窗口，所述拍摄窗口对准于所述出光口设置；所述光源外壳的侧面设有灯板，沿所述灯板的出光路径设有分光镜，所述分光镜倾斜于所述出光路径设置，使所述灯板的出射光线经所述分光镜反射，形成射入所述出光口的第一反射光线；所述同轴检测光源还包括：第一消光面，所述灯板的出射光线经所述分光镜折射，形成射入所述第一消光面的折射光线。本实用新型专利技术通过在同轴光源中设置第一消光面，使得经过分光镜折射后的光线得以消除，避免形成干扰光线，有利于确保照射至被测表面上光线的均匀性，从而提高了缺陷检测的准确性。从而提高了缺陷检测的准确性。从而提高了缺陷检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种同轴检测光源


[0001]本技术涉及机器视觉
，尤其涉及一种同轴检测光源。

技术介绍

[0002]为了确保产品的生产质量，在生产过程中需要对其进行缺陷检测，而机器视觉检测则是现如今应用得最广泛的检测技术，机器视觉检测是一种利用机器代替人眼以实现检测的方法，其结合了光学、机械及计算机等多个领域的技术，具有比人眼更准确的检测效果。
[0003]在进行机器视觉检测时，利用光源照射于待检测的产品表面，再通过摄像头拍摄成像，最后在计算机中进行处理分析，以获得缺陷特征，其中，同轴光源具有更均匀的照射效果，成为视觉检测系统中最常用的光源之一。同轴光源包括用于发射平行光的灯板，以及设置于灯板出光路径上的分光片，利用分光片反射至待检测的产品表面。由于分光镜为半透半反镜，其中有部分光线未能反射至待检测产品上，这部分光线可能会造成对检测的干扰，影响了检测结果的准确性。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供一种，解决现有技术中同轴光源存在干扰光线，会造成对检测的干扰，影响检测结果准确性的问题。/>[0005]为实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种同轴检测光源，其特征在于，包括光源外壳(10)，所述光源外壳(10)的底部设有出光口(101)，所述光源外壳(10)的顶部设有拍摄窗口(102)，所述拍摄窗口(102)对准于所述出光口(101)设置；所述光源外壳(10)的侧面设有灯板(11)，沿所述灯板(11)的出光路径设有分光镜(13)，所述分光镜(13)倾斜于所述出光路径设置，使所述灯板(11)的出射光线经所述分光镜(13)反射，形成射入所述出光口(101)的第一反射光线；所述同轴检测光源还包括：第一消光面(21)，所述灯板(11)的出射光线经所述分光镜(13)折射，形成射入所述第一消光面(21)的折射光线。2.根据权利要求1所述的同轴检测光源，其特征在于，还包括：第二消光面(22)，所述折射光线经所述第一消光面(21)的反射后，形成射入所述第二消光面(22)的第二反射光线。3.根据权利要求2所述的同轴检测光源，其特征在于，所述第一消光面(21)和所述第二消光面(22)的表面均涂...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟超，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：