一种FGF22的RNAm6A修饰作为γ射线辐射标志物的应用制造技术

技术编号:33135322 阅读:14 留言:0更新日期:2022-04-17 00:59
本发明专利技术公开了一种FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在制备检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射产品中的应用。本发明专利技术采用上述的一种FGF22的RNA m6A修饰作为γ射线辐射标志物的应用,更精确、迅速和灵敏的检测或辅助检测待测对象是否遭受了γ射线的辐照,对于受照射剂量的评估、伤员处理和事故救援具有重要的意义。的意义。的意义。

【技术实现步骤摘要】
一种FGF22的RNA m6A修饰作为
γ
射线辐射标志物的应用


[0001]本专利技术涉及生物
,尤其是涉及一种FGF22的RNA m6A修饰作为γ射线辐射标志物的应用。

技术介绍

[0002]核辐射事故和核灾难中放射伤员的准确、长时程诊断是事故救援和医学救治的重要基础。目前,可用于检测是否遭受γ射线辐射的生物学方法,包括临床指征、外周血淋巴细胞计数和细胞遗传学技术。其中,蛋白γ

H2AX的表达量是一个特异性很高的辐射标志物,是一个常用的生物剂量计,在各类辐射样品的检测中发挥了“金标准”的作用。
[0003]但是,由于的双链断裂能够很快得到修复,γ

H2AX表达量随时间延后而逐渐消失,无法应用于照射后期的剂量估算。因此,亟需一种稳定长时效的生物标志物。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种FGF22的RNA m6A修饰作为γ射线辐射标志物的应用,更精确、迅速和灵敏的检测或辅助检测待测对象是否遭受了γ射线的辐照。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供了一种FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在制备检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射产品中的应用。
[0006]一种FGF22的RNA m6A修饰作为标志物的检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射的系统在制备检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射的产品中的应用。
[0007]一种检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平系统,所述检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统为利用RNA m6A芯片技术检测所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统或利用MeRIP

qPCR技术检测所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统。
[0008]优选的,检测所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统包括引物和/或试剂和/或试剂盒和/或仪器。
[0009]优选的,所述利用MeRIP

qPCR检测所述RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统包括引物、试剂盒和/或进行MeRIP

qPCR所需的其他试剂和/或仪器。
[0010]优选的,所述检测RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统还包括数据处理系统,所述数据处理系统用于将来自待测对象的所述RNA m6A修饰水平或相对修饰水平转换为所述待测对象的检测结果。
[0011]其中,数据处理系统包括数据输入模块、数据比较模块和结论输出模块;所述数据输入模块用于将待测对象的所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的数值输入;所述数据比较模块用于将待测对象的所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平与未遭受γ射线辐射的对象进行比较;结论输出模块用于输出结论:若待测对象的FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平大于未遭受γ射线辐射对象的FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平,则结论是待测对象遭受了γ射线辐射;若待测对象的FGF22的RNA m6A修饰水
平或相对修饰水平小于或等于未遭受γ射线辐射对象的FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平,则结论是待测对象未遭受γ射线辐射。
[0012]优选的,所述FGF22基因的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平为血液或细胞中FGF22基因的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平。
[0013]优选的,所述FGF22基因的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平为小鼠的外周血分离的外周血单个核细胞或人的Hela细胞中Fgf22/FGF22基因的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平。
[0014]优选的,扩增小鼠外周血单个核细胞的Fgf22的引物由Seq ID No.1和SeqID No.2所示的两个单链DNA组成。
[0015]优选的,扩增Hela细胞的FGF22的引物由Seq ID No.3和Seq ID No.4所示的两个单链DNA组成。用于扩增FGF22的引物和进行定量PCR所需要的其它试剂均可独立包装。
[0016]优选的,所述遭受γ射线辐射是指遭受钴60

γ射线辐射。
[0017]优选的,所述Fgf22/FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平是所述Fgf22/FGF22的RNA m6A修饰经m6A抗体富集后(m6A

IP)相对于RNA量(Input)的m6A修饰的百分比。
[0018]因此,本专利技术采用上述一种FGF22的RNA m6A修饰作为γ射线辐射标志物的应用,FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平能检测到待测对象是否遭受γ射线辐射和受辐射剂量的评估,有助于及时进行事故救援和伤员处理,对辐射处理具有重要的意义。本专利技术提供了一种检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对的m6A修饰水平的系统,所述系统用于检测或辅助检测待测对象是否遭受γ射线辐照。上述FGF22的RNA m6A修饰作为标志物的检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射的系统可应用于制备检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射的产品中。
[0019]本专利技术通过用γ射线辐射处理的小鼠外周血单个核细胞进行RNA m6A

seq,通过多种分析软件和算法分析辐射后RNA m6A修饰显著差异的基因,发现Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在辐射后的多个时间点均显著升高。并且,独立的小鼠外周血单个核细胞样本队列中利用MeRIP

qPCR,发现γ射线辐射处理后Fgf22的RNA m6A修饰随辐射剂量和辐射后时间的变化规律。另外,在人的Hela细胞中利用MeRIP

qPCR,发现与未遭受γ射线辐射组相比,γ射线辐射处理后FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平显著升高。
[0020]另外,本专利技术中Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平随γ射线辐照剂量的变化特征和相同的辐照剂量下Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平随时间的变化特征,所述特征用于评估待测对象遭受γ射线辐照的剂量或受照射后的时间。具体的,与未遭受γ射线辐射的正常组相比,Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平随辐射剂量的增加显著升高,后随时间逐渐降低;与未遭受γ射线辐射的正常组相比,当辐射剂量≥2Gy时,Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在受辐射后1天内显著升高,14天后恢复正常;与未遭受γ射线辐射的正常组相比,当辐射剂量≥4Gy时,Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在受辐射后3天内显著升高,28天恢复正常;当辐射剂量≥6.5Gy时,Fgf22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在受辐射后7天内显著升高,然后逐渐降低,28天恢复正常。
[0021]下面通过附图和实施例,对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平在制备检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射产品中的应用。2.一种FGF22的RNA m6A修饰作为标志物的检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射的系统在制备检测或辅助检测是否遭受γ射线辐射的产品中的应用。3.一种检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平系统,其特征在于:所述检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统为利用RNA m6A芯片技术检测所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统或利用MeRIP

qPCR技术检测所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统。4.根据权利要求3所述的一种检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平系统,其特征在于:检测所述FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统包括引物和/或试剂和/或试剂盒和/或仪器。5.根据权利要求3所述的一种检测FGF22的RNA m6A修饰水平或相对修饰水平系统,其特征在于:所述利用MeRIP

qPCR检测所述RNA m6A修饰水平或相对修饰水平的系统包括引物、试剂盒和/或进行MeRIP

qPCR所需的其他试剂和/或仪器。6.根据权利要求3所述的一种检测FGF22的RN...

【专利技术属性】
技术研发人员:周钢桥陈红霞卢一鸣赵曦张琦胡磊
申请(专利权)人:中国人民解放军军事科学院军事医学研究院
类型:发明
国别省市:

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