一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统，涉及环境保护领域。该方法包括：在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息，根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查，设置采样参数，根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样，获得采样结果，根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析，并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分，根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案，实现调查和评估以在产企业为主的典型工业园区土壤环境风险状况，为土壤环境管理部门提供对策建议。土壤环境管理部门提供对策建议。土壤环境管理部门提供对策建议。

【技术实现步骤摘要】
一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统


[0001]本专利技术涉及环境保护领域，尤其涉及一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着工业企业的快速发展，不断产生一定的污染物排放，最终通过空气沉降、污水下渗等途径迁移、富集到厂区土壤中，造成土壤污染。土壤污染不仅产生直接的人体健康风险，还可能通过生物吸收和食物链富集产生生态环境危害，在局部区域甚至可能通过降水淋溶等作用，威胁地下水环境安全。特别是针对工业集中区发展带来的土壤和地下水环境问题，现有的土壤污染状况调查与管理技术方案还不完善，导致工业园区及周边生态环境持续恶化。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统。
[0004]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：
[0005]一种基于工业园区的土壤污染分析方法，包括：
[0006]在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息；
[0007]根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查；
[0008]设置采样参数，根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样，获得采样结果；
[0009]根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析，并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分；
[0010]根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案。
[0011]本专利技术的有益效果是：本方案通过在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息，并进行土壤污染风险筛查、样品采集、检测分析和等级划分来建立典型工业园区土壤污染风险等级综合评价方法，调查和评估以在产企业为主的典型工业园区土壤环境风险状况，为土壤环境管理部门提供对策建议。
[0012]进一步地，还包括：
[0013]通过预设方式收集各区域的土壤环境信息；
[0014]对所述各区域的土壤环境信息进行核查验证；
[0015]将验证通过的土壤环境信息存入土壤环境信息数据库。
[0016]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过收集各区域的土壤环境信息构建数据库，可以形成有效的、可进行量化评估的土壤环境信息数据库。
[0017]进一步地，所述根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查具体包括：
[0018]根据第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类；
[0019]根据多个筛查指标将分类后的土壤环境信息进行量化计算；
[0020]根据第二筛查因子将量化计算后的土壤环境信息进行等级划分，获得筛查结果则完成筛查。
[0021]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类，将分类后的土壤环境信息进行量化计算，再进行等级划分，实现对企业地块的相对风险水平进行定量化计算，最终确定企业地块的关注度。
[0022]根据筛查结果划分、采样点数量、采样点位布设过程，确保风险筛查结果、布点采样工作的科学性和合理性。
[0023]进一步地，还包括：
[0024]根据不同采样参数配置对应的采样方式。
[0025]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过不同的采样方式实现污染分布、污染溯源、污染累积等不同角度的全面分析。
[0026]进一步地，所述采样参数包括：采样点数量、采样点位置和检测指标。
[0027]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过设置采样点数量、采样点位置和检测指标等采样参数，综合运用信息调查结果和采样结果，进行污染分布、污染溯源、污染累积等分析。
[0028]本专利技术解决上述技术问题的另一种技术方案如下：
[0029]一种基于工业园区的土壤污染分析系统，包括：信息收集模块、筛查模块、采样模块、等级划分模块和方案分配模块；
[0030]所述信息收集模块用于在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息；
[0031]所述筛查模块用于根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查；
[0032]所述采样模块用于设置采样参数，根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样，获得采样结果；
[0033]所述等级划分模块用于根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析，并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分；
[0034]所述方案分配模块用于根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案。
[0035]本专利技术的有益效果是：本方案通过在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息，并进行土壤污染风险筛查、样品采集、检测分析和等级划分来建立典型工业园区土壤污染风险等级综合评价方法，调查和评估以在产企业为主的典型工业园区土壤环境风险状况，为土壤环境管理部门提供对策建议。
[0036]进一步地，还包括数据构建模块，用于通过预设方式收集各区域的土壤环境信息；
[0037]对所述各区域的土壤环境信息进行核查验证；
[0038]将验证通过的土壤环境信息存入土壤环境信息数据库。
[0039]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过收集各区域的土壤环境信息构建数据库，可以形成有效的、可进行量化评估的土壤环境信息数据库。
[0040]进一步地，所述筛查模块具体用于根据第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类；
[0041]根据多个筛查指标将分类后的土壤环境信息进行量化计算；
[0042]根据第二筛查因子将量化计算后的土壤环境信息进行等级划分，获得筛查结果则完成筛查。
[0043]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类，将分类后的土壤环境信息进行量化计算，再进行等级划分，实现对企业地块的相对风险水平进行定量化计算，最终确定企业地块的关注度。
[0044]根据筛查结果划分、采样点数量、采样点位布设过程，确保风险筛查结果、布点采样工作的科学性和合理性。
[0045]进一步地，还包括：配置模块，用于根据不同采样参数配置对应的采样方式。
[0046]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过不同的采样方式实现污染分布、污染溯源、污染累积等不同角度的全面分析。
[0047]进一步地，所述采样参数包括：采样点数量、采样点位置和检测指标。
[0048]采用上述进一步方案的有益效果是：本方案通过设置采样点数量、采样点位置和检测指标等采样参数，综合运用信息调查结果和采样结果，进行污染分布、污染溯源、污染累积等分析。
[0049]本专利技术附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术实践了解到。
附图说明
[0050]图1为本专利技术的实施例提供的一种基于工业园区的土壤污染分析方法的流程示意图；
[0051]图2为本专利技术的实施例提供的一种基于工业园区的土壤污染分析系统本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，包括：在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息；根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查，获得筛查结果；设置采样参数，根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样，获得采样结果；根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析，并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分；根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案。2.根据权利要求1所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，还包括：通过预设方式收集各区域的土壤环境信息；对所述各区域的土壤环境信息进行核查验证；将验证通过的土壤环境信息存入土壤环境信息数据库。3.根据权利要求1或2所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，所述根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查具体包括：根据第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类；根据多个筛查指标将分类后的土壤环境信息进行量化计算；根据第二筛查因子将量化计算后的土壤环境信息进行等级划分，获得筛查结果则完成筛查。4.根据权利要求1所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，还包括：根据不同采样参数配置对应的采样方式。5.根据权利要求1或4所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，所述采样参数包括：采样点数量、采样点位置和检测指标。6.一种基于工业园区的土壤污染分析系统，其特征在于，包括：信息收集模块、筛查模块、采样...

【专利技术属性】
技术研发人员：荣立明，李培中，吴乃瑾，李翔，张骥，王海见，魏文侠，王珍霞，宋久浩，
申请(专利权)人：北京市科学技术研究院资源环境研究所，
类型：发明
国别省市：