一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统，涉及环境保护领域。该方法包括：在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息，根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查，设置采样参数，根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样，获得采样结果，根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析，并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分，根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案，实现调查和评估以在产企业为主的典型工业园区土壤环境风险状况，为土壤环境管理部门提供对策建议。土壤环境管理部门提供对策建议。土壤环境管理部门提供对策建议。

【技术实现步骤摘要】
一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统


[0001]本专利技术涉及环境保护领域，尤其涉及一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着工业企业的快速发展，不断产生一定的污染物排放，最终通过空气沉降、污水下渗等途径迁移、富集到厂区土壤中，造成土壤污染。土壤污染不仅产生直接的人体健康风险，还可能通过生物吸收和食物链富集产生生态环境危害，在局部区域甚至可能通过降水淋溶等作用，威胁地下水环境安全。特别是针对工业集中区发展带来的土壤和地下水环境问题，现有的土壤污染状况调查与管理技术方案还不完善，导致工业园区及周边生态环境持续恶化。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种基于工业园区的土壤污染分析方法和系统。
[0004]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：
[0005]一种基于工业园区的土壤污染分析方法，包括：
[0006]在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息；
[0007]根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，包括：在土壤环境信息数据库中收集目标区域的土壤环境信息；根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查，获得筛查结果；设置采样参数，根据所述采样参数通过相应的采样方式结合所述筛查结果进行采样，获得采样结果；根据预设污染因子对所述采样结果进行污染分析，并根据污染分析结果结合预设风险因子进行污染风险等级划分；根据污染风险等级划分结果给所述目标区域分配对应的预设处理方案。2.根据权利要求1所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，还包括：通过预设方式收集各区域的土壤环境信息；对所述各区域的土壤环境信息进行核查验证；将验证通过的土壤环境信息存入土壤环境信息数据库。3.根据权利要求1或2所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，所述根据预设风险筛查模型对所述土壤环境信息进行筛查具体包括：根据第一筛查因子对所述土壤环境信息进行分类；根据多个筛查指标将分类后的土壤环境信息进行量化计算；根据第二筛查因子将量化计算后的土壤环境信息进行等级划分，获得筛查结果则完成筛查。4.根据权利要求1所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，还包括：根据不同采样参数配置对应的采样方式。5.根据权利要求1或4所述的一种基于工业园区的土壤污染分析方法，其特征在于，所述采样参数包括：采样点数量、采样点位置和检测指标。6.一种基于工业园区的土壤污染分析系统，其特征在于，包括：信息收集模块、筛查模块、采样...

【专利技术属性】
技术研发人员：荣立明，李培中，吴乃瑾，李翔，张骥，王海见，魏文侠，王珍霞，宋久浩，
申请(专利权)人：北京市科学技术研究院资源环境研究所，
类型：发明
国别省市：