芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术的实施例公开了一种芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，用以在IP改动后集成到SoC之前对IP进行验收，避免因IP质量不过关而把问题带入SoC。所述芯片IP准入验证方法包括：获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。允许所述待验证版本集成到SoC。允许所述待验证版本集成到SoC。

【技术实现步骤摘要】
芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着设计与工艺技术的不断发展，集成电路设计的规模越来越大，组成SoC(片上系统)的IP模块种类和数量也越来越多。系统上进行SoC验证的复杂度也呈现指数级的增长。因此一个高效的验证平台使得验证迅速收敛显得尤为重要。为了缩短芯片的上市时间，节约开发成本，大部分芯片设计采用第三方IP与已有传承(legacy)设计混合开发的方式，典型SoC架构如图1所示。
[0003]各个IP模块层次结构在SoC的划分，及大规模集成电路版图布局的优化等，使得芯片上数据网络的结构和设计在项目中需要进行多次调整，每次调整都要进行相应的验证操作。相关技术中，大规模集成电路的验证通常采用IP(模块)级验证和SoC级验证分别进行的方式，即各子系统在IP级验证通过后直接集成到SoC，由于IP级验证与SoC级验证存在较大差异，常常出现已经通过IP级验证的IP模块无法通过SoC级验证的情况，从而浪费了宝贵的验证资源，大大增加了验证迭代周期。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种能够减少芯片验证迭代周期的芯片IP准入验证方法、装置、电子设备及存储介质。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种芯片IP准入验证方法，包括：
[0006]获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；
[0007]搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；
[0008]根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；
[0009]在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。
[0010]结合第一方面，在第一方面的一种实施方式中，所述获取目标IP的待验证版本之前包括：
[0011]设定数据库DB架构，所述DB架构用于存放至少两个项目的IP DB和SoC DB，所述数据库的目录采用嵌套子系统架构，所述数据库包括一个公用库、至少两个IP主数据库、至少两个IP分支数据库和至少两个SoC数据库，其中：
[0012]每个项目所使用的文件目录分类按照IP DB和SoC DB所使用的方式，公共的及多个IP需要共享的资源放置于所述公用库的目录下，根据各个IP的属性不同，IP本身的资源放置于IP主数据库，需要使用别的IP的资源时以引进的方式从其他IP主数据库获取相应的
版本来进行；
[0013]IP分支数据库是在IP主数据库的基础上，按照不同的项目对各IP的定义需求生成得到，IP分支数据库是IP主数据库的直接镜像，拥有同样的目录结构，仅通过顶层的配置形成不同项目所需的IP分支数据库；
[0014]按照IP分支数据库的定义，配置需要的公用库内容、各IP分支数据库版本、以及SoC数据库的资源目录，即可形成不同项目所需的SoC数据库。
[0015]结合第一方面，在第一方面的另一种实施方式中，所述搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本，包括：
[0016]将所述待验证版本集成到所述IP分支数据库。
[0017]结合第一方面，在第一方面的再一种实施方式中，不同项目所需的IP分支数据库的形成，是基于IP主数据库本身资源对于不同项目有不同的定义参数，或者是不同的引进需求，或者是公用库里使用的不同目录。
[0018]结合第一方面，在第一方面的又一种实施方式中，所述待验证版本是基于IP主数据库最新回归测试通过的版本进行修改得到。
[0019]结合第一方面，在第一方面的又一种实施方式中，所述在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC，包括：
[0020]在所述SoC级验证环境中芯片的数据通路划分为数据总线子系统和内存子系统两个层次，其中：
[0021]针对芯片的数据总线子系统，所述可用性测试所使用的测试集包括以下至少一种：寄存器读写访问数据通路，包括寄存器模型的前门和后门的随机寄存器测试；从验证环境的主接口模块到从接口模块的完整数据访问通路；基于所述修改清单所提出的相关特征测试；
[0022]和/或，针对芯片的内存子系统，所述内存子系统是在芯片的数据总线子系统的基础上进一步扩展封装得到，所述可用性测试所使用的测试集包括以下至少一种：不同验证平台配置下寄存器读写访问数据通路，包括寄存器模型的前门和后门的随机寄存器测试；不同验证平台配置下从验证环境的主接口模块到从接口模块的完整数据访问通路；基于所述修改清单所提出的相关特征测试；针对所述内存子系统的特殊性提取的典型特征测试。
[0023]第二方面，本专利技术实施例提供一种芯片IP准入验证装置，包括：
[0024]获取模块，用于获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；
[0025]第一测试模块，用于搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；
[0026]组建模块，用于根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；
[0027]第二测试模块，用于在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。
[0028]结合第二方面，在第二方面的一种实施方式中，所述装置还包括：
[0029]设定模块，用于设定数据库DB架构，所述DB架构用于存放至少两个项目的IP DB和
SoC DB，所述数据库的目录采用嵌套子系统架构，所述数据库包括一个公用库、至少两个IP主数据库、至少两个IP分支数据库和至少两个SoC数据库，其中：
[0030]每个项目所使用的文件目录分类按照IP DB和SoC DB所使用的方式，公共的及多个IP需要共享的资源放置于所述公用库的目录下，根据各个IP的属性不同，IP本身的资源放置于IP主数据库，需要使用别的IP的资源时以引进的方式从其他IP主数据库获取相应的版本来进行；
[0031]IP分支数据库是在IP主数据库的基础上，按照不同的项目对各IP的定义需求生成得到，IP分支数据库是IP主数据库的直接镜像，拥有同样的目录结构，仅通过顶层的配置形成不同项目所需的IP分支数据库；
[0032]按照IP分支数据库的定义，配置需要的公用库内容、各IP分支数据库版本、以及SoC数据库的资源目录，即可形成不同项目所需的SoC数据库。
[0033]结合第二方面，在第二方面的另一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片IP准入验证方法，其特征在于，包括：获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本；根据所述待验证版本相对所述前一版本的修改清单，完成SoC配置组建；在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标IP的待验证版本之前包括：设定数据库DB架构，所述DB架构用于存放至少两个项目的IP DB和SoC DB，所述数据库的目录采用嵌套子系统架构，所述数据库包括一个公用库、至少两个IP主数据库、至少两个IP分支数据库和至少两个SoC数据库，其中：每个项目所使用的文件目录分类按照IP DB和SoC DB所使用的方式，公共的及多个IP需要共享的资源放置于所述公用库的目录下，根据各个IP的属性不同，IP本身的资源放置于IP主数据库，需要使用别的IP的资源时以引进的方式从其他IP主数据库获取相应的版本来进行；IP分支数据库是在IP主数据库的基础上，按照不同的项目对各IP的定义需求生成得到，IP分支数据库是IP主数据库的直接镜像，拥有同样的目录结构，仅通过顶层的配置形成不同项目所需的IP分支数据库；按照IP分支数据库的定义，配置需要的公用库内容、各IP分支数据库版本、以及SoC数据库的资源目录，即可形成不同项目所需的SoC数据库。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所述待验证版本为IP级验证通过的版本，包括：将所述待验证版本集成到所述IP分支数据库。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，不同项目所需的IP分支数据库的形成，是基于IP主数据库本身资源对于不同项目有不同的定义参数，或者是不同的引进需求，或者是公用库里使用的不同目录。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待验证版本是基于IP主数据库最新回归测试通过的版本进行修改得到。6.根据权利要求1
‑
5中任一所述的方法，其特征在于，所述在所述IP级验证环境的基础上，搭建SoC级验证环境对所述SoC进行可用性测试，并在所述可用性测试通过的情况下，允许所述待验证版本集成到SoC，包括：在所述SoC级验证环境中芯片的数据通路划分为数据总线子系统和内存子系统两个层次，其中：针对芯片的数据总线子系统，所述可用性测试所使用的测试集包括以下至少一种：寄存器读写访问数据通路，包括寄存器模型的前门和后门的随机寄存器测试；从验证环境的主接口模块到从接口模块的完整数据访问通路；基于所述修改清单所提出的相关特征测试；和/或，针对芯片的内存子系统，所述内存子系统是在芯片的数据总线子系统的基础上
进一步扩展封装得到，所述可用性测试所使用的测试集包括以下至少一种：不同验证平台配置下寄存器读写访问数据通路，包括寄存器模型的前门和后门的随机寄存器测试；不同验证平台配置下从验证环境的主接口模块到从接口模块的完整数据访问通路；基于所述修改清单所提出的相关特征测试；针对所述内存子系统的特殊性提取的典型特征测试。7.一种芯片IP准入验证装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取目标IP的待验证版本，其中所述待验证版本是在前一版本的基础上修改得到，所述前一版本为IP级验证通过的版本；第一测试模块，用于搭建IP级验证环境，对所述待验证版本进行测试，确保所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佩，高红莉，潘于，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：