【技术实现步骤摘要】
版图数据验证方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及版图数据
，尤其涉及一种版图数据验证方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]DRC文件是半导体设计生产中不可或缺的文件，开发不同工具或者不同版本DRC文件时，二者之间对比一直是通过人工手动方式对比，而坐标数据成千上万，基本无法全部逐点对比，最终根本不能保证不同工具之间的统一性以及不同版本之间的继承性。现有技术中为了保证版图验证规则文件的正确性，通用的方法是：由人工构造多个测试向量，然后分析测试向量的计算结果是否与预期一致。人工构造测试用例的方法进行版图数据的对比存在工作量大，效率低的显著缺点。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的在于提供了一种版图数据验证方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中人工进行版图数据验证导致工作量大、效率低的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种版图数据验证方法，所述方法包括以下步骤：
[0006]获取待校验版图数据和预设版图校验文件；
[0007]根据所述待校验版图数据确定待校验版图的图层信息；
[0008]根据所述图层信息将所述待校验版图划分为多个不同图层的基础图形；
[0009]通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果。>[0010]可选地，所述根据所述图层信息将所述待校验版图划分为多个不同图层的基础图形的步骤，包括：
[0011]根据所述图层信息获取所述待校验版图的层数；
[0012]根据所述层数将所述待校验版图划分为多个初始图形；
[0013]对所述多个初始图形分别进行划分，获得多个不同图层的基础图形。
[0014]可选地，所述通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果的步骤，包括：
[0015]建立预设坐标系，获取所述基础图形在所述预设坐标系中的坐标点信息；
[0016]获取所述预设校验文件中的目标坐标点信息；
[0017]将所述坐标点信息与所述目标坐标点信息进行对比，获得对比结果；
[0018]根据所述对比结果确定基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果。
[0019]可选地，所述通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果的步骤之后，还包括：
[0020]根据所述最终校验结果获取目标坐标点；
[0021]根据所述预设校验文件获取所述目标坐标点对应的基准坐标点信息；
[0022]获取所述目标坐标点在所述待校验版图中的实际坐标点信息；
[0023]根据所述基准坐标点信息在所述待校验版图中对所述实际坐标点信息进行调整。
[0024]可选地，所述根据所述待校验版图数据确定待校验版图的图层信息的步骤之后，还包括：
[0025]根据所述图层信息获取所述待校验版图的图层属性信息；
[0026]根据所述待校验版图数据获取所述待校验版图对应的工艺标准；
[0027]根据所述工艺标准确定图层设计规则；
[0028]根据所述图层设计规则对所述图层属性信息进行验证，获得图层验证结果。
[0029]可选地，所述根据所述图层设计规则对所述图层属性信息进行验证，获得图层验证结果的步骤，包括：
[0030]判断所述图层设计规则中是否包含必备层设计规则，所述必备层设计规则为版图数据中所包含的器件在生产制造时必须包含的层次对应的设计规则；
[0031]在所述图层设计规则中包含所述必备层设计规则时，根据所述图层属性信息判断所述待校验版图是否满足所述必备层设计规则；
[0032]在所述待校验版图不满足所述必备层设计规则时，判定图层验证结果为图层验证不合格。
[0033]可选地，所述获取待校验版图数据和预设版图校验文件的步骤之后，还包括：
[0034]将所述待校验版图数据模块化，以获得多个待校验版图模块；
[0035]确定所述待校验版图模块的中心位置信息；
[0036]根据所述中心位置信息与所述预设校验文件对所述待校验版图数据进行验证，获得验证结果。
[0037]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种版图数据验证装置，所述装置包括：
[0038]获取模块，用于获取待校验版图数据和预设版图校验文件；
[0039]图层信息确定模块，用于根据所述待校验版图数据确定待校验版图的图层信息；
[0040]待校验版图划分模块，用于根据所述图层信息将所述待校验版图划分为多个不同图层的基础图形；
[0041]校验模块，用于通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果。
[0042]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种版图数据验证设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的版图数据验证程序，所述版图数据验证程序配置为实现如上文所述的版图数据验证方法的步骤。
[0043]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有版图数据验证程序，所述版图数据验证程序被处理器执行时实现如上文所述的版图数据验证方法的步骤。
[0044]本专利技术获取待校验版图数据和预设版图校验文件；根据待校验版图数据确定待校验版图的图层信息；根据图层信息将待校验版图划分为多个不同图层的基础图形；通过预设版图校验文件分别对基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果。由于本专利技术是根据待校验版图的图层信息将待校验版图划分为多个基础图形，通过预设版图校验文件对基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据基础图形校验结果确定最终校验结果。相对于现有的通过人工对比进行版图数据校验的方式，本专利技术上述方式能够提高版图数据校验的速度，且减少校验成本。
附图说明
[0045]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的版图数据验证设备的结构示意图；
[0046]图2为本专利技术版图数据验证方法第一实施例的流程示意图；
[0047]图3为本专利技术版图数据验证方法第二实施例的流程示意图；
[0048]图4为本专利技术版图数据验证装置第一实施例的结构框图。
[0049]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0050]应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0051]参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种版图数据验证方法，其特征在于，所述版图数据验证方法包括以下步骤：获取待校验版图数据和预设版图校验文件；根据所述待校验版图数据确定待校验版图的图层信息；根据所述图层信息将所述待校验版图划分为多个不同图层的基础图形；通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果。2.如权利要求1所述的版图数据验证方法，其特征在于，所述根据所述图层信息将所述待校验版图划分为多个不同图层的基础图形的步骤，包括：根据所述图层信息获取所述待校验版图的层数；根据所述层数将所述待校验版图划分为多个初始图形；对所述多个初始图形分别进行划分，获得多个不同图层的基础图形。3.如权利要求1所述的版图数据验证方法，其特征在于，所述通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果的步骤，包括：建立预设坐标系，获取所述基础图形在所述预设坐标系中的坐标点信息；获取所述预设校验文件中的目标坐标点信息；将所述坐标点信息与所述目标坐标点信息进行对比，获得对比结果；根据所述对比结果确定基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果。4.如权利要求1所述的版图数据验证方法，其特征在于，所述通过所述预设版图校验文件分别对所述基础图形进行校验，获得基础图形校验结果，根据所述基础图形校验结果确定待校验版图的最终校验结果的步骤之后，还包括：根据所述最终校验结果获取目标坐标点；根据所述预设校验文件获取所述目标坐标点对应的基准坐标点信息；获取所述目标坐标点在所述待校验版图中的实际坐标点信息；根据所述基准坐标点信息在所述待校验版图中对所述实际坐标点信息进行调整。5.如权利要求1所述的版图数据验证方法，其特征在于，所述根据所述待校验版图数据确定待校验版图的图层信息的步骤之后，还包括：根据所述图层信息获取所述待校验版图的图层属性信息；根据所述待校验版图数据获取所述待校验...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗达雄，涂萌颖，
申请(专利权)人：汉中砺芯半导体有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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