一种纺织品瑕疵检测方法及装置制造方法及图纸

本说明书一个或多个实施例提供一种纺织品瑕疵检测方法及装置，包括根据待测纺织品的属性特征和/或瑕疵特征，确定目标光源模式，控制光源在目标光源模式下照射待测纺织品，控制图像采集单元采集待测纺织品的瑕疵图像；能够获得各种类型纺织品的高质量瑕疵图像，实现多种类型纺织品的瑕疵检测。种类型纺织品的瑕疵检测。种类型纺织品的瑕疵检测。

【技术实现步骤摘要】
一种纺织品瑕疵检测方法及装置


[0001]本说明书一个或多个实施例涉及纺织品检测
，尤其涉及一种纺织品瑕疵检测方法及装置。

技术介绍

[0002]在纺织品加工过程中，瑕疵检测和分类统计是生产的关键步骤，直接影响着织物品质。采用人工目视检测方法，不仅效率低下且准确性较差；一些验布装置能够对单一类别纺织品进行瑕疵检测，无法满足各种纺织品的检测需求。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本说明书一个或多个实施例的目的在于提出一种纺织品瑕疵检测方法及装置，能够实现多种纺织品的瑕疵检测。
[0004]基于上述目的，本说明书一个或多个实施例提供了一种纺织品瑕疵检测方法，包括：
[0005]根据待测纺织品的属性特征和/或瑕疵特征，确定目标光源模式；
[0006]控制光源在所述目标光源模式下照射所述待测纺织品；
[0007]控制图像采集单元采集所述待测纺织品的瑕疵图像。
[0008]可选的，所述根据待测纺织品的属性特征，确定目标光源模式为：
[0009]根据所述待测纺织品的厚度和织成工艺，确本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种纺织品瑕疵检测方法，其特征在于，包括：根据待测纺织品的属性特征和/或瑕疵特征，确定目标光源模式；控制光源在所述目标光源模式下照射所述待测纺织品；控制图像采集单元采集所述待测纺织品的瑕疵图像。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测纺织品的属性特征，确定目标光源模式为：根据所述待测纺织品的厚度和织成工艺，确定反射照明或者透射照明。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述待测纺织品的厚度和织成工艺，确定反射照明或者透射照明，包括：对于厚度大于预定厚度值、密度大于第一密度值的待测纺织品，采用反射照明；对于厚度小于预定薄度值、密度小于第二密度值的待测纺织品，采用透射照明。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测纺织品的属性特征，确定目标光源模式为：根据所述待测纺织品的颜色，确定光源强度。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测纺织品的瑕疵特征，确定目标光源模式为：根据瑕疵大小，确定光源波段，和/或发射照明与透射照明相互切换。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据瑕疵大小，确定光源波段，和/或发射...

【专利技术属性】
技术研发人员：王颖，郝灿，王国名，王博，高超，董登峰，李洋，
申请(专利权)人：海宁集成电路与先进制造研究院，
类型：发明
国别省市：