一种芯片功耗测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片功耗测试电路，包括电压检测单元和高低电流检测单元以及功耗统计单元,电压检测单元和高低电流检测单元均与功耗统计单元连接；功耗统计单元与显示单元连接；使用电压检测单元检测待检测芯片的工作电压，高低电流检测单元检测待检测芯片的工作电流，以及使用功耗统计单元根据工作电压和工作电流统计出待检测芯片的功耗，还通过显示单元显示待检测芯片的功耗；实现对待检测芯片的功耗检测，且电路简单，成本低，体积小，使用方便，适用性广泛。性广泛。性广泛。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片功耗测试电路


[0001]本技术涉及芯片测试
，更具体地说，涉及一种芯片功耗测试电路。

技术介绍

[0002]现有的芯片测试电路大多通过模数转换电路和电流检测电阻以及分压电路检测芯片的电压及电流以计算出功耗，存在着电路结构复杂、检测精度低，已经无法满足人们的使用需求。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电路简单，成本低，体积小，使用方便适用性广泛的芯片功耗测试电路。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]构造一种芯片功耗测试电路，包括电压检测单元和高低电流检测单元以及功耗统计单元；其中，所述电压检测单元用于检测待检测芯片的工作电压，所述高低电流检测单元用于检测所述待检测芯片的工作电流，所述功耗统计单元用于根据所述工作电压和所述工作电流统计出所述待检测芯片的功耗；
[0006]所述电压检测单元和所述高低电流检测单元均与所述功耗统计单元连接；
[0007]所述功耗统计单元还连接有显示单元，所述显示单元用于显示所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片功耗测试电路，包括电压检测单元和高低电流检测单元以及功耗统计单元；其特征在于，所述电压检测单元用于检测待检测芯片的工作电压，所述高低电流检测单元用于检测所述待检测芯片的工作电流，所述功耗统计单元用于根据所述工作电压和所述工作电流统计出所述待检测芯片的功耗；所述电压检测单元和所述高低电流检测单元均与所述功耗统计单元连接；所述功耗统计单元还连接有显示单元，所述显示单元用于显示所述待检测芯片的功耗。2.根据权利要求1所述的芯片功耗测试电路，其特征在于，所述电压检测单元包括第一运算放大器和第一电阻以及第二电阻，所述第一电阻和所述第二电阻均与所述第一运算放大器的同相输入端连接；所述第一电阻的另一端为所述电压检测单元的正极检测端，所述第二电阻的另一端为所述电压检测单元的负极检测端；所述第一运算放大器的反向输入端与输出端连接，所述第一运算放大器的输出端还连接有第三电阻，所述第三电阻的另一端为所述电压检测单元的电压值输出端且还连接有第一电容，所述第一电容的另一端接地。3.根据权利要求2所述的芯片功耗测试电路，其特征在于，所述高低电流检测单元包括可调零运放、第二运算放大器、第四电阻和第五电阻以及接触器；所述可调零运放的VIN
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端连接有第六电阻，所述第六电阻的另一端为所述高低电流检测单元的电流检测输出端且与所述第四电阻连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第五电阻和所述接触器的第一常闭端、第二常闭端连接，所述第五电阻的另一端为所述高低电流检测单元的电流检测输入端；所述接触器的第二公共端和第一常开端均与所述高低电流检测单元的电流检测输入端连接；所述可调零运放的VIN+端连接有第七电阻，所述第七电阻的另一端与所述接触器的第一公共端连接；所述可调零运放的V+端与电源的正极连接且V
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端、REF端均接地，所述可调零运放的1引脚与8引脚并联有第八电阻；所述可调零运放的VO端连接有第九电阻，所述第九电阻的另一端与所述第二运算放大器的同相输入端连接，所述第二运算放大器的反向输入端与输出端连接，所述第二运算放大器的输出端连接有第九电阻，所述第九电阻的另一端连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾胜，
申请(专利权)人：深圳市浩宇电子有限公司，
类型：新型
国别省市：