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本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片功耗测试电路，包括电压检测单元和高低电流检测单元以及功耗统计单元,电压检测单元和高低电流检测单元均与功耗统计单元连接；功耗统计单元与显示单元连接；使用电压检测单元检测待检测芯片的工作电...
该专利属于深圳市浩宇电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市浩宇电子有限公司授权不得商用。

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