一种偏振光片的偏光率检测辅助工装制造技术

本实用新型专利技术公开一种偏振光片的偏光率检测辅助工装，包括定位板，定位板上开设有用于定位偏振光片的第一容置凹槽和第二容置凹槽，第一容置凹槽和第二容置凹槽相互垂直且部分重合以形成两边等长的L形结构，在第一容置凹槽和第二容置凹槽底部一体成型有略向内延伸的限位台阶凸缘，且第一容置凹槽的端部边角处形成有与偏振光片上的预制防呆斜边相适配的第一防呆斜角，而在第二容置凹槽的端部与第一防呆斜角间隔90

【技术实现步骤摘要】
一种偏振光片的偏光率检测辅助工装


[0001]本技术涉及偏振光片检具
，具体涉及一种偏振光片的偏光率检测辅助工装。

技术介绍

[0002]现有技术中，偏振光片的偏光率检测方法通常是在产品上才裁刀冲切裁出两片偏光轴方向相同的偏振光片样品，然后将两偏振光片重叠放置并通过旋转两偏振光片的重叠角度，在光谱测试仪上测得光的最大透过值和最小透过值两偏振光片的偏光轴相互平行时具有最大透过值，而两偏振光片的偏光轴相互垂直时具有最小透过值，并通过相应的计算公式得出此产品的偏光率。但在检测过程中，两偏振光片样品由于没有专用的定位治具，导致两偏振光片较难快速定位至完全相互平行和相互垂直的两个状态，进而影响了检测效率以及检测数据准确性。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本技术提供了一种偏振光片的偏光率检测辅助工装，其主要解决的是现有技术中由于没有专用的定位治具来定位两偏振光片，导致两偏振光片较难快速定位至完全相互平行和相互垂直的两个状态，进而影响了检测效率以及检测数据准确性的技术问题。
[0004]为达到上述目的，本技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]一种偏振光片的偏光率检测辅助工装，包括定位板，定位板上开设有用于定位偏振光片的第一容置凹槽和第二容置凹槽，第一容置凹槽和第二容置凹槽相互垂直且部分重合以形成两边等长的L形结构，在第一容置凹槽和第二容置凹槽底部一体成型有略向内延伸的限位台阶凸缘，且第一容置凹槽的端部边角处形成有与偏振光片上的预制防呆斜边相适配的第一防呆斜角，而在第二容置凹槽的端部与第一防呆斜角间隔90
°
的对应边角位置处形成有第二防呆斜角。
[0006]进一步，第一容置凹槽和第二容置凹槽的槽深尺寸与偏振光片的厚度尺寸的比值为1.5～2.5。
[0007]进一步，第一容置凹槽和第二容置凹槽的槽深尺寸与偏振光片的厚度尺寸的比值为2，以使两片偏振光片上下叠置在一起并嵌入到第一容置凹槽或第二容置凹槽中时，且处在上方的偏振光片的表面与定位板的表面齐平。
[0008]进一步，在限位台阶凸缘上设置有与第一容置凹槽和第二容置凹槽的两非重合部分之一对应设置的垫高结构，且垫高结构的厚度被配置为与偏振光片的厚度相适配。
[0009]进一步，在限位台阶凸缘上设置有与第一容置凹槽的非重合部分对应设置的垫高结构，使当其一偏振光片适配嵌入第二容置凹槽时，该偏振光片的上表面与垫高结构的表面齐平，以便于另一偏振光片能够平稳嵌置在第一容置凹槽中。
[0010]进一步，垫高结构为与定位板上的限位台阶凸缘分体设置的垫片。
[0011]进一步，垫高结构为与定位板上的限位台阶凸缘一体成型的增高部。
[0012]上述技术方案具有如下优点或有益效果：
[0013]本技术所述的偏振光片的偏光率检测辅助工装中，由于在定位板上开设有两个相互垂直且部分重合以形成两边等长的L形结构的第一容置凹槽和第二容置凹槽，当在产品上通过裁刀冲切裁出两片偏光轴方向完全相同的偏振光片后，可先将其中任意一片偏振光片对应第一容置凹槽进去，然后将第二片偏振光片与第一片的偏振光片呈相互垂直状地适配嵌入到第一容置凹槽中去，而后便可通过光谱测试仪对其光的最小透过值进行测量，接着，将位于上方的第二片的偏振光片从第一容置凹槽中取出，顺时针旋转90
°
，并适配嵌入到第二容置凹槽中，使得上下叠置在一起的两偏振光片呈相互平行状，而后通过光谱测试仪便可对其光的最大透过值进行测量，两偏振光片的相互垂直与平行状态的旋转切换方便快捷迅速，有利于提高两偏振光片的定位效率以及定位精度。
附图说明
[0014]图1是本技术实施例一的立体结构示意图。
[0015]图2是本技术实施例一的第一使用状态示意图。
[0016]图3是本技术实施例一的第二使用状态示意图。
[0017]图4是本技术实施例二的立体结构示意图。
[0018]图5是本技术实施例二的偏振光片嵌入第二容置凹槽中时的结构示意图。
[0019]图6是本技术实施例三的立体结构示意图。
[0020]标号说明：
[0021]1、定位板，2、垫片，3、偏振光片，11、第一容置凹槽，12、第二容置凹槽，13、限位台阶凸缘，31、预制防呆斜边，111、第一防呆斜角，121、第二防呆斜角，131、增高部。
具体实施方式
[0022]下面结合附图及实施例对本技术作进一步描述。
[0023]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0024]实施例一
[0025]请参照附图1至附图3，本技术的一种实施例提供一种偏振光片的偏光率检测辅助工装，包括定位板1，定位板1上开设有用于定位偏振光片3的第一容置凹槽11和第二容置凹槽12，第一容置凹槽11和第二容置凹槽12相互垂直且部分重合以形成两边等长的L形结构，在第一容置凹槽11和第二容置凹槽12底部一体成型有略向内延伸的限位台阶凸缘13，且第一容置凹槽11的端部边角处形成有与偏振光片3上的预制防呆斜边31相适配的第一防呆斜角111，而在第二容置凹槽12的端部与第一防呆斜角111间隔90
°
的对应边角位置处形成有第二防呆斜角121。可以理解的是，本实施例中，由于在定位板1上开设有两个相互垂直且部分重合以形成两边等长的L形结构的第一容置凹槽11和第二容置凹槽12，当在产品上通过裁刀冲切裁出两片偏光轴方向完全相同的偏振光片3(两偏振光片3上均形成有预
制防呆斜边31)后，可先将其中任意一片偏振光片3对应第一容置凹槽11或第二容置凹槽12嵌入进去(本实施例中以第一个偏振光片3嵌入第二容置凹槽12为例说明)，然后将第二片偏振光片3与第一片的偏振光片3呈相互垂直状地适配嵌入到第一容置凹槽11中去(如附图2所示)，而后便可通过光谱测试仪对其光的最小透过值进行测量，接着，将位于上方的第二片的偏振光片3从第一容置凹槽11中取出，顺时针旋转90
°
，并适配嵌入到第二容置凹槽12中，使得上下叠置在一起的两偏振光片3呈相互平行状(如附图3所示)，而后通过光谱测试仪便可对其光的最大透过值进行测量，两偏振光片3的相互垂直与平行状态的旋转切换方便快捷迅速，有利于提高两偏振光片3的定位效率以及定位精度，且通过预制防呆斜边31与第一防呆斜角111或第二防呆斜角121的相互配合形成防呆结构有利于快速准确放置相应的偏振光片3，进而有利于提高检测数据的准确性。
[0026]请参照附图1至附图3，其中一种较优实施例中，第一容置凹槽11和第二容置凹槽12的槽深尺寸与偏振光片3的厚度尺寸的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种偏振光片的偏光率检测辅助工装，其特征在于：包括定位板(1)，定位板(1)上开设有用于定位偏振光片(3)的第一容置凹槽(11)和第二容置凹槽(12)，第一容置凹槽(11)和第二容置凹槽(12)相互垂直且部分重合以形成两边等长的L形结构，在第一容置凹槽(11)和第二容置凹槽(12)底部一体成型有略向内延伸的限位台阶凸缘(13)，且第一容置凹槽(11)的端部边角处形成有与偏振光片(3)上的预制防呆斜边(31)相适配的第一防呆斜角(111)，而在第二容置凹槽(12)的端部与第一防呆斜角(111)间隔90
°
的对应边角位置处形成有第二防呆斜角(121)。2.根据权利要求1所述的偏振光片的偏光率检测辅助工装，其特征在于：第一容置凹槽(11)和第二容置凹槽(12)的槽深尺寸与偏振光片(3)的厚度尺寸的比值为1.5～2.5。3.根据权利要求2所述的偏振光片的偏光率检测辅助工装，其特征在于：第一容置凹槽(11)和第二容置凹槽(12)的槽深尺寸与偏振光片的厚度尺寸的比值为2，以使两片偏振光片(3)上下叠置在一起并嵌入到第...

【专利技术属性】
技术研发人员：周博彦，庄敬国，
申请(专利权)人：京钻厦门科技有限公司，
类型：新型
国别省市：