一种可调节的平面度规制造技术

本发明专利技术公开了一种可调节的平面度规，包括：刻度标尺柱、阻尼套筒、中央卡扣和旋转轴，所述阻尼套筒内部中央设有刻度标尺柱，所述阻尼套筒一侧外壁中央设有中央卡扣，所述阻尼套筒外壁另一侧位于中央卡扣上下两端设有端卡扣，本发明专利技术通过将串联好的阻尼套筒放置在待测平面上方，按压各个刻度标尺柱，使得刻度标尺柱底端与待测平面顶面相接触，此时读取最高刻度标尺柱和最低刻度标尺柱的读数，两者相减即可得出平面的平面度，通过旋转轴的连接，各个阻尼套筒能够转至不同的角度，便于适用于形状各异的平面的平面度测量，通过各个刻度标尺柱的刻度，能够反应平面上各个部位的变形量，为后续的平面校正带来数据支撑。后续的平面校正带来数据支撑。后续的平面校正带来数据支撑。

【技术实现步骤摘要】
一种可调节的平面度规


[0001]本专利技术涉及测量器具
，特别是涉及一种可调节的平面度规。

技术介绍

[0002]平面度是指基片具有的宏观回凸高度相对理想平面的偏差。平面度是限制实际平面对其理想平面变动量的一项指标，用来控制被测实际平面的形状误差。平面度的测量有打表测量法。打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。
[0003]传统的平面度测量规往往需要在平面上的多点进行测量，测量速度慢的同时，测量点位多不易标记，无法对平面不平整部位进行后续的辅助校正。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种可调节的平面度规，以解决上述
技术介绍
中提出的传统的平面度测量规测量速度慢的同时，测量点位多不易标记，无法对平面不平整部位进行后续的辅助校正的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种可调节的平面度规，包括：刻度标尺柱、阻尼套筒、中央卡扣和旋转轴，所述阻尼套筒内部中央设有刻度标尺柱，所述阻尼套筒一侧外本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调节的平面度规，包括：刻度标尺柱(1)、阻尼套筒(2)、中央卡扣(3)和旋转轴(5)，其特征在于：所述阻尼套筒(2)内部中央设有刻度标尺柱(1)，所述阻尼套筒(2)一侧外壁中央设有中央卡扣(3)，所述阻尼套筒(2)外壁另一侧位于中央卡扣(3)上下两端设有端卡扣(4)，所述端卡扣(4)内部设有旋转轴(5)。2.根据权利要求1所述的一种可调节的平面度规，其特征在于：所述刻度标尺柱(1)一侧刻有刻度。3.根据权利要求1所述的一种可调节的平面度规，其特征在于：所述阻尼套筒(2)内部两端位于刻度标尺柱(1)插接部位设有密封垫。4.根据权利要求1所述的一种可调节的平面度规，其特征在于：所述刻度标尺柱(1)与阻尼套筒(2)之间为过渡配合。5.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢宇轩，陈品俊，
申请(专利权)人：广东鸿特精密技术台山有限公司，
类型：发明
国别省市：