【技术实现步骤摘要】
读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装
[0001]本专利技术涉及光栅测量领域，具体而言，涉及一种读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装。
技术介绍
[0002]工件台的位移主要是依靠工件台平面光栅测量系统来测量的，因此，工件台平面光栅位置测量系统的测量精度直接会影响到工件台定位精度，而读数头是工件台平面光栅位置测量系统的主要部件，其是否正常运行，直接影响着测量精度。
[0003]然而，一旦读数头发生故障，现场无法确定故障原因，需要返厂检测，导致维护维修周期长，成本高。
[0004]综上，如何克服现有的读数头检修方法的上述缺陷是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装，以缓解现有技术中的读数头检修方法存在的无法在现场确定读数头故障原因的技术问题。
[0006]本专利技术提供的读数头检修方法，包括：
[0007]获取读数头的第一参数，根据所述第一参数，判断读数头是否损坏；
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种读数头检修方法，其特征在于，包括：获取读数头(120)的第一参数，根据所述第一参数，判断读数头(120)是否损坏；若判断结果为否，则获取读数头(120)的第二参数，若所述第二参数在读数头工作转角范围内小于第一阈值，或所述第二参数在读数头(120)转动到极限位置时小于第二阈值，则均判断为读数头(120)异常，对读数头(120)进行调试，直到所述第二参数达到预定值以上，所述第一阈值大于所述第二阈值；否则，判断为读数头(120)正常；若判断结果为是，则更换读数头(120)并对更换后的读数头(120)进行调试，直到所述第二参数达到预定值以上。2.根据权利要求1所述的读数头检修方法，其特征在于，所述对读数头(120)进行调试，直到所述第二参数达到预定值以上的步骤包括：将工件台(100)从整机框架转移至框架标定工装(200)处，利用框架标定工装(200)上的第一平面光栅(220)为读数头(120)的信号提供参考基准；调试读数头(120)，直到所述第二参数达到预定值以上；将工件台(100)复位。3.根据权利要求1所述的读数头检修方法，其特征在于，所述更换读数头(120)并对更换后的读数头(120)进行调试，直到所述第二参数达到预定值以上的步骤包括：当损坏的读数头(120)为一个或相邻的两个时，先更换损坏的读数头(120)，然后，将工件台(100)从整机框架转移至框架标定工装(200)处，利用框架标定工装(200)上的第一平面光栅(220)为读数头(120)的信号提供参考基准；调试读数头(120)，直到所述第二参数达到所述预定值以上；将工件台(100)复位。4.根据权利要求1所述的读数头检修方法，其特征在于，所述更换读数头(120)并对更换后的读数头(120)进行调试，直到所述第二参数达到预定值以上的步骤包括：当损坏的读数头(120)为三个、四个或相对的两个时，先拆下损坏的读数头(120)，然后，将工件台(100)转移到维修工位；将读数头标定工装(300)安装到工件台(100)的缺失读数头(120)的部位；利用读数头标定工装(300)上的第二平面光栅(320)为读数头(120)的信号提供参考基准；安装并调试读数头(120)，直到所述第二参数达到所述预定值以上；拆下读数头标定工装(300)；将工件台(100)复位。5.根据权利要求4所述的读数头检修方法，其特征在于，所述将读数头标定工装(300)安装到工件台(100)的缺失读数头(120)的部位的步骤，与所述利用读数头标定工装(300)上的第二平面光栅(320)为读数头(120)的信号提供参考基准的步骤之间，还包括：利用三坐标测量仪测量读数头标定工装(300)的位置精度，并依据三坐标测量仪的测量结果，调整读数...
【专利技术属性】
技术研发人员：付大为，焦健，解昊，高立冬，
申请(专利权)人：北京华卓精科科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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