一种传感器测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及传感器测试技术领域，公开了一种传感器测试治具，包括电路板，所述电路板上设有微处理芯片、扩展芯片、电源模块、显示模块和若干个IC测试座，所述微处理芯片和所述扩展芯片均与所述电源模块连接，若干个所述IC测试座通过所述扩展芯片与所述微处理芯片连接，所述显示模块与所述微处理芯片连接，所述IC测试座用于放置待测传感器。本实用新型专利技术的一种传感器测试治具，能够同时对多个传感器进行测试，且能够快速获取待测传感器的测试结果，无需上位机的参与以及专业测试软件的安装，结构紧凑，便于携带，能够实时测试且测试成本低，尤其适用于市场上对传感器进行批量购买及回收时的测试验收。收时的测试验收。收时的测试验收。

【技术实现步骤摘要】
一种传感器测试治具


[0001]本技术涉及传感器测试
，特别是一种传感器测试治具。

技术介绍

[0002]目前三轴加速度传感器的测试一般采用的是单个产品测试治具，即仅通过一个IC(Integrated Circuit Chip)测试座对单个三轴加速度传感器进行测试，现有的测试治具测试效率低，无法实现对多个三轴加速度传感器同时测试，而且专用的测试平台复杂笨拙，需上位机进行参与并需要安装专用测试软件，不便于携带，测试结果慢且测试成本高。
[0003]当前三轴加速度传感器的市场需求大，但旧料翻新的情况严重，三轴加速度传感器的质量难以保证，在市场上进行大量购买或回收三轴加速度传感器时，需要进行大量的测试并快速获取测试结果，且需要携带测试治具用于外出收购，故现有的测试治具难以满足使用需求，迫切需求一种更为实用的测试治具用于市场上的传感器测试。

技术实现思路

[0004]本技术的专利技术目的在于：针对现有技术中的测试治具，无法同时测试多个三轴加速度传感器，存在测试成本高，不易携带，测试需上位机参与并安装专用测试软件，测试结果慢等问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种传感器测试治具，其特征在于，包括电路板(1)，所述电路板(1)上设有微处理芯片(3)、扩展芯片(4)、电源模块(5)、显示模块和若干个IC测试座(2)，所述微处理芯片(3)和所述扩展芯片(4)均与所述电源模块(5)连接，若干个所述IC测试座(2)通过所述扩展芯片(4)与所述微处理芯片(3)连接，所述显示模块与所述微处理芯片(3)连接，所述IC测试座(2)用于放置待测传感器(11)。2.根据权利要求1所述的一种传感器测试治具，其特征在于，所述显示模块为LED灯(6)，且每个所述IC测试座(2)均对应有所述LED灯(6)。3.根据权利要求1所述的一种传感器测试治具，其特征在于，所述电源模块(5)连接有电源接口(7)。4.根据权利要求3所述的一种传感器测试治具，其特征在于，所述电源接口(7)与所述电源模块(5)之间还设有开关一(8)。5.根据权利要求1所述的一种传感器测试治具，其特征在于，所述微处理芯片(3)的复位控制端连接有开关二(9)，所述开关二(9)接地。6.根据权利要求1所述的一种传感器测试治具，其特征在于，所述微处理芯片(3)的型号为MCU STM32F，所述扩展芯片(4)的型号为Switch ...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏波，张国良，王贵松，王鑫，
申请(专利权)人：成都万创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：