【技术实现步骤摘要】
用于去除BGA封装半导体器件金属盖板的装置
[0001]本技术涉及半导体器件检测,具体而言是用于去除BGA封装半导体器件金属盖板的装置。
技术介绍
[0002]BGA封装半导体器件具有体积小、良好的散热性和电性能等优势而广泛应用于高强度工作条件需求的军工或航天领域。BGA封装半导体器件在使用前必须检测其可靠性,包括根据DPA试验标准进行内部检查,因此需要去除器件顶部的金属盖板。现有去除BGA封装半导体器件金属盖板的方式为手工机械方法,操作人员用锋利的刀具插入金属盖板和PCB板之间的缝隙,撬动金属盖板,使金属盖板发生形变,以撕开金属盖板与PCB板上芯片之间的硅胶,使金属盖板与PCB板和芯片分离。在此过程中,不可避免地会以PCB板作为支撑点受力,产生机械应力作用在PCB板上,使PCB板同时发生明显形变,往往容易损伤器件内部结构,甚至导致PCB板上的芯片因过应力破碎,对后续试验产生不可逆的影响。
[0003]针对现有技术的上述不足,本技术提出了一种结构简单、组装容易、使用方便、夹持稳定并且有利于保护内部结构、提高工作效率的用于BGA封装半导体器件金属盖板的去除装置。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是提供一种结构简单、组装容易、使用方便、夹持稳定并且有利于保护内部结构、提高工作效率的用于BGA封装半导体器件金属盖板的去除装置。
[0005]为实现上述目的,本技术采用如下技术方案:一种用于去除BGA封装半导体器件金属盖板的装置,包括筒身、中柱杆、旋转组件和刀具,其特征是筒身上部的两侧对称设置 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于去除BGA封装半导体器件金属盖板的装置,包括筒身(1)、中柱杆(2)、旋转组件(3)和刀具(4),其特征在于:筒身(1)上部的两侧对称设置有耳帽(1.1),筒身(1)下部的两侧对称设置有螺杆(1.2),中柱杆(2)包括自上而下连接成一体的扣手(2.1)、齿杆(2.2)和光杆(2.3),中柱杆(2)插入筒身(1),对称布置的旋转组件(3)包括齿轮(3.1)和把手(3.2),齿轮(3.1)固定在把手(3.2)的端部,齿轮(3.1)铰接在耳帽(1.1)上并与齿杆(2.2)配合,刀具(4)为L型,刀具(4)通过安装孔(4.1)套接在螺杆(1.2)上并通过第一螺母(5.1)和第二螺母(5.2)与螺杆(1.2)的配合定位,刀具(4)的刀口相向。2.根据权利要求1所述的用于去除BGA封装半导体器件金属盖板的装置,其特征在于:所述螺杆(1.2)的轴线垂直于耳帽(1.1)。3.根据权利要求1或2所述的用于去除BGA封装半导体器件金属盖板的装置,其特征在于:所述螺杆(1.2)的横截面为D型,所述安装孔(4.1)的孔径与螺杆(1.2)的外径相应,所述安装孔(4.1)的横截面为D型。...
【专利技术属性】
技术研发人员:陆洋,袁云华,田健,李先亚,马清桃,王伯淳,王瑞崧,杨帆,邓昊,
申请(专利权)人:湖北航天技术研究院计量测试技术研究所,
类型:新型
国别省市:
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