面板亮度校正方法、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种面板亮度校正方法、装置及计算机可读存储介质，其中，所述方法包括：获取待处理图像；所述待处理图像是指通过拍摄装置拍摄显示面板得到的图像；将所述待处理图像输入识别模型，通过所述识别模型输出识别结果；所述识别结果用于表示所述待处理图像上各个像素区域为子像素的概率；所述子像素是指由一个高亮度像素与多个低亮度像素构成的像素区域；根据所述识别结果，对所述显示面板进行亮度校正。旨在提高对面板亮度校正的准确度。旨在提高对面板亮度校正的准确度。旨在提高对面板亮度校正的准确度。

【技术实现步骤摘要】
面板亮度校正方法、装置及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及移动通信
，尤其涉及一种面板亮度校正方法、装置及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着国内面板厂工艺的逐渐成熟，主流的OLED面板的产能也随之提升，但由于小尺寸OLED屏幕材料的物理特性，导致生产出产品的良率较低。Demura(去除亮暗不均)是一种以外部补偿的方式来提升显示面板的显示一致性的技术，但补偿精度、运行效率分别受屏幕子像素亮度提取算法、灰阶校正算法影响较大。
[0003]对于同一型号的面板产品，其子像素阵列排布固定。但随着摆放位置、成像环境、表面灰尘数量、不同面板生产用料的变化，传统的屏幕子像素亮度提取算法的参数调整显得尤为复杂、繁琐，且边缘部分的处理精度低，从而导致面板亮度校正的准确度不高。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种面板亮度校正方法、装置及计算机可读存储介质，旨在达成提高对面板亮度校正的准确度的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面板亮度校正方法，其特征在于，所述面板亮度校正方法包括以下步骤：获取待处理图像；所述待处理图像是指通过拍摄装置拍摄显示面板得到的图像；将所述待处理图像输入识别模型，通过所述识别模型输出识别结果；所述识别结果用于表示所述待处理图像上各个像素区域为子像素的概率；所述子像素是指由一个高亮度像素与多个低亮度像素构成的像素区域；根据所述识别结果，对所述显示面板进行亮度校正。2.如权利要求1所述的面板亮度校正方法，其特征在于，所述根据所述识别结果，对所述显示面板进行亮度校正的步骤包括：根据所述识别结果确定所述待处理图像中的多个目标子像素；将多个所述目标子像素中最大亮度值对应的像素点作为中心像素；通过曲线拟合，对多个所述中心像素进行灰阶校正，得到校正数据；根据所述校正数据，对所述显示面板进行亮度校正。3.如权利要求2所述的面板亮度校正方法，其特征在于，所述根据所述识别结果确定所述待处理图像中的目标子像素的步骤包括：根据所述识别结果，确认所述待处理图像上各个区域为子像素的概率；当所述概率大于或等于阀值时，确认所述概率对应的像素区域为目标子像素；当所述概率小于阀值时，确认所述概率对应的像素区域为非目标子像素。4.如权利要求1所述的面板亮度校正方法，其特征在于，在所述获取待处理图像的步骤之前，还包括：获取训练图像组以及所述训练图像组对应的标签；所述训练图像组包括若干训练图像；将所述训练图像输入所述识别模型，得到由所述识别模型输出的第一特征图像；选取不同大小的卷积核对所述第一特征图像进行池化处理，并对池化结果进行特征融合，得到所述第一特征图像对应的第二特征图像；基于所述第二特征图像，在所述识别模型中进行后续的识...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛锦洲，
申请(专利权)人：南京汇川工业视觉技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：