【技术实现步骤摘要】
一种基于电镜的提高颗粒分析速度的颗粒识别方法
[0001]本专利技术属于电镜物质识别分析
,具体涉及一种基于电镜的提高颗粒分析速度的颗粒识别方法。
技术介绍
[0002]电镜的自动物质识别分析系统一般是通过电镜API先采集样品的BSE图像帧,然后手动设定区分图像前景和背景的灰度值,再通过逐像素处理去掉背景像素,最后通过连通算法实现颗粒的识别。识别颗粒位置后通过能谱X射线采集颗粒的元素成分。最终实现颗粒物质的识别。
[0003]申请号为201410413256.5 的中国专利技术专利公开了一种基于扫描电镜的颗粒物形态识别方法,适用于对空气中悬浮的颗粒物质进行识别。利用扫描电镜获取被测空气中放大5000倍的悬浮颗粒图像,并对颗粒图像二值化,针对二值化图像中存在粘连颗粒图案,在二值化图像中找出的楔形像素,并作为分离点的始端楔形像素,寻找始端楔形像素对应的终端楔形像素,然后采用Bresenham算法画分离线,完成粘连颗粒图像的分割,之后通过等效直径和形状因子方法对已经完成粘连颗粒分割后的各个颗粒图案的形态特征进行识别。 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于电镜的提高颗粒分析速度的颗粒识别方法,其特征在于,将去掉背景后所有待识别的颗粒根据平均灰度分组,每组选择一小部分大颗粒进行X射线分析,使金属颗粒被快速识别出来,其步骤如下:1)获得所有待测量帧图的位置,并对待测量帧图进行排序;2)控制电镜移动样品台到某一指定位置;3)拍摄待测量帧图的BSE图像,对电镜的工作位置进行坐标定位,并拍摄BMP图像;4)设定或计算图像帧的背景灰度范围,根据背景灰度范围去掉帧图背景像素;5)提取去除背景后的所有颗粒坐标;6)根据颗粒的平均灰度值分组;7)选择每组中的大颗粒进行X射线分析;8)将分析结果应用于整个组;9)重复步骤2)
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步骤8),直到完成其他组的分析。2.根据权利要求1所述的一种基于电镜...
【专利技术属性】
技术研发人员:高士鹏,皮晓宇,
申请(专利权)人:欧波同科技产业有限公司,
类型:发明
国别省市:
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