一种基于电镜的颗粒分类计数方法技术

本发明专利技术公开了一种基于电镜的颗粒分类计数方法，其分类计数方法包括以下步骤：A、获取所有要测量帧图位置，并判断是否已完成所有帧处理；B、是，则直接结束，否，则控制电镜移动样品台到指定位置；C、拍摄BSE图，并根据设定或自动计算获得BSE图的背景灰度范围。本发明专利技术设定几个不同灰阶，这些灰阶覆盖常见的要分析物质的灰度，这样在去掉背景后，根据这些灰阶对颗粒进行二次提取合成，从而避免了不同灰度颗粒粘连一起被识别成一个颗粒的情况，使得最终的颗粒分析结果准确性大为提高，且对整体测量速度没有太大影响，但对于提高结果的准确性有很大的效果，并能快速进行分类和计数。并能快速进行分类和计数。并能快速进行分类和计数。

【技术实现步骤摘要】
一种基于电镜的颗粒分类计数方法


[0001]本专利技术涉及电镜
，具体为一种基于电镜的颗粒分类计数方法。

技术介绍

[0002]电镜又称电子显微镜（简称EM），经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具，电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成，电镜的自动物质识别分析系统一般是通过电镜API先采集样品的BSE图像帧，然后手动设定区分图像前景和背景的灰度值，再通过逐像素处理去掉背景像素，最后通过连通算法实现颗粒的识别，识别颗粒位置后通过能谱Ｘ射线采集颗粒的元素成分，最终实现颗粒物质的识别，但上述方法对于去掉背景后，前景颗粒是分散的情况可以很好的识别，但如果前景颗粒比较大而且有粘连在一起的情况就无法很好的识别，因为去掉背景后粘连在一起的颗粒就被识别为一个颗粒，从而造成最终的颗粒识别不准确的结果，且无法对颗粒进行分类与计数处理，从而为人们的使用带来不便，为此，我们提出一种基于电镜的颗粒分类计数方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于电镜的颗粒分类计数方法，以解决上述
技术介绍
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于电镜的颗粒分类计数方法，其特征在于：其分类计数方法包括以下步骤：A、获取所有要测量帧图位置，并判断是否已完成所有帧处理；B、是，则直接结束，否，则控制电镜移动样品台到指定位置；C、拍摄BSE图，并根据设定或自动计算获得BSE图的背景灰度范围；D、根据背景范围去除背景像素，然后循环提取不同灰阶的物质颗粒；E、提取剩余的其他颗粒后，汇总所有获得的颗粒进行X射线分析；F、采用CCD相机对物质颗粒按尺寸大小进行分类；G、采用计数器对各类别中的物质颗粒进行计数处理。2.根据权利要求1所述的一种基于电镜的颗粒分类计数方法，其特征在于：所述采用数据储存器将计数器对各类别中的物质颗粒进行计数处理中的信息以及CCD相机对物质颗粒进行分类处理中的信息进行储存。3.根据权利要求1所述的一种基于电镜的颗粒分类计数方法，其特征在于：所述电镜移动样品台包括工作台（1），且工作台（1）顶部的左端固定连接有第一滑座（15），同时，第一滑座（15）的顶部滑动连接有第一滑动器（7）。4.根据权利要求3所述的一种基于电...

【专利技术属性】
技术研发人员：皮晓宇，高士鹏，
申请(专利权)人：欧波同科技产业有限公司，
类型：发明
国别省市：