一种电镜二值化图像对比分析方法技术

本发明专利技术公开了一种电镜二值化图像对比分析方法，其对比分析方法包括以下步骤：A、获取所有要测量帧图位置，并根据背景范围去除背景像素，再对去除背景后的图像进行二值化处理；B、识别图像中所有的线段，合成图像中所有的特征，并计算特征的图像属性；C、把特征转化为颗粒，并对颗粒进行其他处理和分析后，将这些结构化数据储存到数据库；D、选择大颗粒进行X射线分析；E、将图像缩放到一定大小，并转化为灰阶，再计算所有像素平均值。本发明专利技术先对图像进行二值化处理，并将特征转化为颗粒，再对大颗粒进行X射线分析，比较像素的灰度后计算哈希值，可有效提高对图像的对比分析效果，从而为人们的使用带来极大的便利。人们的使用带来极大的便利。

【技术实现步骤摘要】
一种电镜二值化图像对比分析方法


[0001]本专利技术涉及电镜
，具体为一种电镜二值化图像对比分析方法。

技术介绍

[0002]电镜又称电子显微镜（简称EM），经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具，电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成，但现有的电镜在对图像进行分析过程中，其分析效果不理想，从而为人们的使用带来不便，为此，我们提出一种电镜二值化图像对比分析方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种电镜二值化图像对比分析方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电镜二值化图像对比分析方法，其对比分析方法包括以下步骤：A、获取所有要测量帧图位置，并根据背景范围去除背景像素，再对去除背景后的图像进行二值化处理；B、识别图像中所有的线段，合成图像中所有的特征，并计算特征的图像属性；C、把特征转化为颗粒，并对颗粒进行其他处理和分析后，将这些结构化数据储存到数据库；D、选择大颗粒进行X射线分析；E、将图像缩放到一定大小，并转本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：其对比分析方法包括以下步骤：A、获取所有要测量帧图位置，并根据背景范围去除背景像素，再对去除背景后的图像进行二值化处理；B、识别图像中所有的线段，合成图像中所有的特征，并计算特征的图像属性；C、把特征转化为颗粒，并对颗粒进行其他处理和分析后，将这些结构化数据储存到数据库；D、选择大颗粒进行X射线分析；E、将图像缩放到一定大小，并转化为灰阶，再计算所有像素平均值；F、比较像素的灰度，并计算哈希值。2.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤A中的图像二值化处理方式为：读取降质文档图像，并对降质文档图像进行灰度变换，从而输出灰度级为256的灰度图像。3.根据权利要求1所述的一种电镜二值化图像对比分析方法，其特征在于：所述步骤D中的X射线分析方式为：按Bragg方程进行色散，并测量第一级光谱n=1，检测器角度=2，分光晶体与检测器同步转动进行扫描，扫描过程中需要使用到X射线管（光源）、晶体分光器、检测器和记录显示，且X射线管（光源）包括分析重元素：钨靶，分析轻元素：铬靶，靶材的原子序数越大，X光管压越高，连续谱强度越大；晶体分光器包括晶体色散作用，λ=2dsin，平面晶体分光器，弯面晶体分光器；检测器包括闪烁计数器，瞬间发光—光电倍增管，正比计数器（充气型），工作气为空...

【专利技术属性】
技术研发人员：皮晓宇，高士鹏，
申请(专利权)人：欧波同科技产业有限公司，
类型：发明
国别省市：