一种深度测量方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:32884288 阅读:13 留言:0更新日期:2022-04-02 12:18
本申请公开了一种深度测量方法、装置、设备及介质,涉及三维重建技术领域,该方法包括:通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像;从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点对应的基线方向修正值;所述基线方向修正值为基于所述散斑结构光系统中的相机畸变参数确定的用于对在基线方向上受相机畸变影响的参数进行修正的修正值;基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差;基于所述视差确定所述待测物体对应的深度信息。本申请通过预设修正表的建立有效加快对相机畸变矫正的计算速度,解决了每次在深度测量时都需要对图片进行畸变修正计算而导致计算量大的问题。而导致计算量大的问题。而导致计算量大的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种深度测量方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及三维重建
,特别涉及一种深度测量方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]当前,三维重建技术在生产生活中得到广泛的应用。三维重建技术需要通过相机标定来进行深度测量从而建立有效的成像模型,结合图像的匹配结果得到空间中的三维点坐标,从而达到进行三维重建的目的。在深度测量过程中,会产生由于相机存在镜头畸变而导致的成像几何失真的问题进而导致深度测量不准确。然而,在进行畸变矫正时需要通过畸变公式计算来对畸变图像进行处理,会存在计算量较大的问题。因此,在深度测量过程中如何避免因反复使用畸变公式而导致的计算量较大的问题有待进一步解决。

技术实现思路

[0003]有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种深度测量方法、装置、设备及介质,可以减小在深度测量过程当中因需要进行畸变校正而产生的计算量。其具体方案如下:
[0004]第一方面,本申请公开了一种深度测量方法,包括:
[0005]通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像;
[0006]从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点对应的基线方向修正值;所述基线方向修正值为基于所述散斑结构光系统中的相机畸变参数确定的用于对在基线方向上受相机畸变影响的参数进行修正的修正值;
[0007]基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差;
[0008]基于所述视差确定所述待测物体对应的深度信息。/>[0009]可选的,所述通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像,包括:
[0010]通过单目散斑结构光系统或双目散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像。
[0011]可选的,所述从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点分别对应的基线方向修正值之前,还包括:
[0012]通过散斑结构光系统对预设目标物体进行成像,以得到相应的目标图像;
[0013]获取所述散斑结构光系统中的相机内参和相机畸变参数,并基于所述相机内参、所述相机畸变参数以及预设畸变公式,对所述目标图像中的像素点坐标进行修正,以得到修正后图像;
[0014]基于所述修正后图像的基线方向上的像素点坐标和所述目标图像的基线方向上的像素点坐标确定所述预设修正表中的所述基线方向修正值。
[0015]可选的,所述获取所述散斑结构光系统中的相机内参和相机畸变参数,包括:
[0016]通过相机标定方式,确定所述散斑结构光系统中的相机内参和相机畸变参数。
[0017]可选的,所述基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差,包括:
[0018]获取与所述待测图像对应的参照图像,并利用所述基线方向修正值分别对所述待测图像中的散斑像素点和所述参照图像中的散斑像素点进行坐标修正,以得到相应的第一修正图像和第二修正图像;
[0019]基于所述第一修正图像中的修正后坐标和所述第二修正图像中的修正后坐标进行视差计算,以得到所述待测图像中散斑像素点对应的视差。
[0020]可选的,所述基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差,包括:
[0021]获取与所述待测图像对应的参照图像,并基于所述待测图像中的坐标和所述参照图像中的坐标进行视差计算,以得到所述待测图像中散斑像素点对应的匹配视差;
[0022]利用所述基线方向修正值对所述匹配视差进行修正,以得到所述待测图像中散斑像素点对应的视差。
[0023]可选的,所述从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点对应的基线方向修正值,包括:
[0024]从所述待测图像中识别出所述待测物体所在区域,以得到目标区域;
[0025]从预设修正表中查找与所述目标区域中散斑像素点对应的基线方向修正值;
[0026]相应的,所述基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差,包括:
[0027]基于所述基线方向修正值和所述目标区域中散斑像素点的坐标,确定所述目标区域中散斑像素点对应的视差。
[0028]第二方面,本申请公开了一种深度测量装置,包括:
[0029]散斑结构光成像模块,用于通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像;
[0030]修正值查找模块,用于从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点对应的基线方向修正值;所述基线方向修正值为基于所述散斑结构光系统中的相机畸变参数确定的用于对在基线方向上受相机畸变影响的参数进行修正的修正值;
[0031]视差确定模块,用于基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差;
[0032]深度确定模块,用于基于所述视差确定所述待测物体对应的深度信息。
[0033]第三方面,本申请公开了一种电子设备,包括:
[0034]存储器,用于保存计算机程序;
[0035]处理器,用于执行所述计算机程序,以实现前述公开的所述的深度测量方法的步骤。
[0036]第四方面,本申请公开了一种计算机可读存储介质,用于存储计算机程序;其中,所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的所述的深度测量方法的步骤。
[0037]本申请在进行深度测量时,先通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像,并从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点对应的基线方向修正值,所述基线方向修正值为基于所述散斑结构光系统中的相机畸变参数确定的用于对在
基线方向上受相机畸变影响的参数进行修正的修正值,然后基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差,最后基于所述视差确定所述待测物体对应的深度信息。可见,在本申请进行深度测量时,通过预先建立的预设修正表来对基线方向上收相机畸变影响的参数进行修正。由此,本申请中在进行深度测量时,通过预设修正表的建立,能够有效地加快对相机畸变矫正的计算速度,改善了每次在深度测量时都需要对图片进行畸变修正计算而导致的计算量大的问题。
附图说明
[0038]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0039]图1为本申请提供的一种深度测量方法流程图;
[0040]图2为本申请提供的一种具体的深度测量方法流程图;
[0041]图3为本申请提供的一种具体的深度测量方法流程图;
[0042]图4为本申请提供的一种具体的深度测量方法流程图;
[0043]图5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种深度测量方法,其特征在于,包括:通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像;从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点对应的基线方向修正值;所述基线方向修正值为基于所述散斑结构光系统中的相机畸变参数确定的用于对在基线方向上受相机畸变影响的参数进行修正的修正值;基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差;基于所述视差确定所述待测物体对应的深度信息。2.根据权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,所述通过散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像,包括:通过单目散斑结构光系统或双目散斑结构光系统对待测物体进行成像,以得到相应的待测图像。3.根据权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,所述从预设修正表中查找与所述待测图像中散斑像素点分别对应的基线方向修正值之前,还包括:通过散斑结构光系统对预设目标物体进行成像,以得到相应的目标图像;获取所述散斑结构光系统中的相机内参和相机畸变参数,并基于所述相机内参、所述相机畸变参数以及预设畸变公式,对所述目标图像中的像素点坐标进行修正,以得到修正后图像;基于所述修正后图像的基线方向上的像素点坐标和所述目标图像的基线方向上的像素点坐标确定所述预设修正表中的所述基线方向修正值。4.根据权利要求3所述的深度测量方法,其特征在于,所述获取所述散斑结构光系统中的相机内参和相机畸变参数,包括:通过相机标定方式,确定所述散斑结构光系统中的相机内参和相机畸变参数。5.根据权利要求1所述的深度测量方法,其特征在于,所述基于所述基线方向修正值和所述待测图像中散斑像素点的坐标,确定所述待测图像中散斑像素点对应的视差,包括:获取与所述待测图像对应的参照图像,并利用所述基线方向修正值分别对所述待测图像中的散斑像素点和所述参照图像中的散斑像素点进行坐标修正,以得到相应的第一修正图像和第二修正图像;基于所述第一修正图像中的修正后坐标和所述第二修正图像中的修正后坐标进行视差计算,以得到所述待测图...

【专利技术属性】
技术研发人员:温志乐汤永亮
申请(专利权)人:合肥瑞识智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1