一种引线框架检验用夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路引线框架技术领域，具体涉及一种引线框架检验用夹具，旨要解决的技术问题在于克服现有技术中夹具尺寸限定且夹持力不适当的缺陷，主要是通过以下技术方案得以实现的：一种引线框架检验用夹具，包括：调整块、定轨和调整栓，调整块设在引线框架四角，调整块均呈L型且底部均垂直延伸有承接板，调整块滑移设在定轨上，定轨包括横向滑轨和纵向滑轨，调整栓螺接设在调整块侧壁，调整栓设有多个且每块调整块上至少设有两个调整栓，调整栓包括纵向调整和横向调整，将多种检验夹具整合成一个可调节的检验夹具，减少更换不同检验夹具的时间和生产不同检验夹具的成本，同时也减少了检验夹具的作业空间。同时也减少了检验夹具的作业空间。同时也减少了检验夹具的作业空间。

【技术实现步骤摘要】
一种引线框架检验用夹具


[0001]本技术涉及集成电路引线框架
，具体涉及一种引线框架检验用夹具。

技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料如金丝、铝丝、铜丝，实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]现有技术中，在引线框架生产成型后，需要对其进行视觉检验检测，检测其表面各处的尺寸、R角等是否符合规范，目前采用不同尺寸的夹具对应不同的尺寸的引线框架，这种检测方式适用麻烦，需要根据引线框架进行更换且更换起来比较麻烦、费时费力，同时多种夹具成本较高。除此之外，在对引线框架进行检验时，通过夹具进行夹持来保持位置稳定，现有的家具可能存在夹持不稳或者夹持力较大的情况，从而造成引线框架变形，从而影响到检验数据，甚至造成后期工艺方案不能准确制定，影响产品最终质量，直接导致产品报废等情况的产生。
[0004]因此，需要一种引线框架检验用夹具能够解决上述问题，使夹具尺寸可调的同时保证夹持力适当。

技术实现思路

[0005]因此，本技术要解决的技术问题在于克服现有技术中夹具尺寸限定且夹持力不适当的缺陷，从而提供一种引线框架检验用夹具。
[0006]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
[0007]一种引线框架检验用夹具，包括：
[0008]调整块，所述调整块设在引线框架四角且调整块之间构成容纳腔，所述容纳腔内容纳引线框架，所述调整块均呈L型且底部均垂直延伸有承接板，所述调整块滑移设在定轨上；
[0009]定轨，所述定轨包括横向滑轨和纵向滑轨，所述横向滑轨设有两根且分别穿过两个横向相对设置的调整块，所述纵向滑轨也设有两根且分别穿过两个相对纵向设置的调整块；
[0010]调整栓，所述调整栓螺接设在调整块侧壁，所述调整栓设有多个且每块调整块上至少设有一个调整栓，所述调整栓包括纵向调整和横向调整。
[0011]通过采用上述技术方案，该检验夹具可以把多种检验夹具整合成一个可调节的检验夹具，减少更换不同检验夹具的时间和生产不同检验夹具的成本，同时也减少了检验夹具的作业空间。该检验夹具使用方便，且夹持力适当，不会造成引线框架受力时位置和形状的变化，同时也能够对后续起到导向作用。
[0012]进一步的，所述调整块包括第一定块、第二动块、第三动块和第四动块，所述第一定块、第二动块、第三动块和第四动块结构相同，所述第一定块和第二动块、第三动块和第四动块均纵向相对设置，所述第一定块和第三动块、第二动块和第四动块均横向相对设置。
[0013]通过采用上述技术方案，设置第一定块、第二动块、第三动块和第四动块构成矩形容纳槽，从而适应引线框架外形，且第一定块、第二动块、第三动块和第四动块之间的相对位置可以进行调整，从而使检验夹具能够重复使用，降低成本；第一定块、第二动块、第三动块和第四动块之间移动由定轨限定，确保其最终仍与不同尺寸的引线框架适配，确保检验的准确性。
[0014]进一步的，所述第一定块和第二动块、第三动块和第四动块相互远离的一侧边上分别穿设有不同纵向滑轨，两个所述纵向滑轨平行设置且伸出第二动块和第四动块，所述第二动块远离第一定块的一侧螺接有纵向调整，所述第四动块远离第三动块的一侧也螺接有纵向调整，所述纵向调整在同一水平面内。
[0015]通过采用上述技术方案，纵向滑轨上的第一定块和第二动块、第三动块和第四动块实现纵向位移，从而可以控制第二动块纵向远离或靠近第一定块，第四动块纵向远离或靠近第三动块，实现纵向调节使得纵向上尺寸贴合引线框架外形。
[0016]进一步的，所述第一定块和第三动块、第二动块和第四动块相互远离的一侧边上分别穿设有不同横向滑轨，两个所述横向滑轨平行设置且伸出第三动块和第四动块，所述第三动块远离第一定块的一侧螺接有横向调整，所述第四动块远离第二动块的一侧也螺接有横向调整，所述横向调整在同一水平面内。
[0017]通过采用上述技术方案，横向滑轨上的第一定块和第三动块、第二动块和第四动块实现横向位移，从而可以控制第三动块纵向远离或靠近第一定块，第四动块纵向远离或靠近第二动块，实现横向调节使得纵向上尺寸贴合引线框架外形。
[0018]进一步的，所述第一定块、第二动块、第三动块和第四动块上顶面均向下开设有导入槽，所述导入槽内表面为斜面设置，所述导入槽深度不超过容纳槽深度的五分之一。
[0019]通过采用上述技术方案，设置导入槽便于引线框架顺势划入，从而提升操作者的便利性，在调整好第一定块、第二动块、第三动块和第四动块相互距离后，后续的引线框架检验可以更加省时省力。
[0020]进一步的，所述第一定块、第二动块、第三动块和第四动块内底部承接板内嵌设有支撑垫，所述支撑垫的上表面与承接板上表面在同一水平面内。
[0021]通过采用上述技术方案，设置支撑垫与承接板共面，确保引线框架在夹具内被夹设时的平整度，确保引线框架的平稳性，方便检验，同时承接板的宽度小于承接板的长度，从而避免遮挡引线框架上的孔影响到检验效果。
[0022]进一步的，所述第一定块、第二动块、第三动块和第四动块各部位锐边均设置为圆角。
[0023]通过采用上述技术方案，第一定块、第二动块、第三动块和第四动块各锐边圆滑过渡，避免使用者使用时造成划伤等事故。
[0024]进一步的，所述第一定块和第二动块、第三动块和第四动块相互靠近的内侧壁上沿高度方向设有刻度条，所述刻度条零线与承接板上表面齐平。
[0025]通过采用上述技术方案，设置刻度条便于对印象框架侧边进行测量，使用方便准
确。
[0026]综上所述，本技术技术方案，具有如下优点：
[0027]1.本技术提供的引线框架检验用夹具，将多种检验夹具整合成一个可调节的检验夹具，减少更换不同检验夹具的时间和生产不同检验夹具的成本，同时也减少了检验夹具的作业空间。
[0028]2.本技术提供的引线框架检验用夹具，调整块各锐边圆滑过渡，避免使用者使用时造成划伤等事故；同时增设刻度条便于测量检验。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0030]图1为本技术的一种实施方式中提供的一种引线框架检验用夹具的整体结构示意图。
[0031]附图标记说明：
[0032]1、调整块；11、第一定块；12、第二动块；13、第三动块；14、第四动块；15、导入槽；16、承接板；161、支撑垫；17、容纳腔；18、刻度条；2、定轨；21、横向滑轨；2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种引线框架检验用夹具，其特征在于，包括：调整块(1)，所述调整块(1)设在引线框架四角且调整块(1)之间构成容纳腔(17)，所述容纳腔(17)内容纳引线框架，所述调整块(1)均呈L型且底部均垂直延伸有承接板(16)，所述调整块(1)滑移设在定轨(2)上；定轨(2)，所述定轨(2)包括横向滑轨(21)和纵向滑轨(22)，所述横向滑轨(21)设有两根且分别穿过两个横向相对设置的调整块(1)，所述纵向滑轨(22)也设有两根且分别穿过两个相对纵向设置的调整块(1)；调整栓(3)，所述调整栓(3)螺接设在调整块(1)侧壁，所述调整栓(3)设有多个且每块调整块(1)上至少设有一个调整栓(3)，所述调整栓(3)包括纵向调整(31)和横向调整(32)。2.根据权利要求1所述的一种引线框架检验用夹具，其特征在于，所述调整块(1)包括第一定块(11)、第二动块(12)、第三动块(13)和第四动块(14)，所述第一定块(11)、第二动块(12)、第三动块(13)和第四动块(14)结构相同，所述第一定块(11)和第二动块(12)、第三动块(13)和第四动块(14)均纵向相对设置，所述第一定块(11)和第三动块(13)、第二动块(12)和第四动块(14)均横向相对设置。3.根据权利要求2所述的一种引线框架检验用夹具，其特征在于，所述第一定块(11)和第二动块(12)、第三动块(13)和第四动块(14)相互远离的一侧边上分别穿设有不同纵向滑轨(22)，两个所述纵向滑轨(22)平行设置且伸出第二动块(12)和第四动块(14)，所述第二动块(12)远离第一定块(11)的一侧螺接有纵向调整(31)，所述第四动块(14)远离第...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈杰华，熊俊，张欣，朱怀亮，殷杰，
申请(专利权)人：泰兴市永志电子器件有限公司，
类型：新型
国别省市：