芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用技术

本发明专利技术公开了一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用，涉及芯片开发技术领域。所述方法包括步骤：获取待验证的波形生成语言WGL文件，通过脚本将其转成仿真testbench文件和可综合testbench文件；通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testbench文件接收到启动命令后启动运行，向待测芯片发送IO激励，并获取待测芯片的响应输出信息；将前述响应输出信息与预设的标准输出数据进行比对以验证前述WGL文件的正确性。本发明专利技术能够确保提供给ATE测试端的WGL文件的正确性，降低了ATE测试的误判率，进而可以缩短芯片的整个开发周期。芯片的整个开发周期。芯片的整个开发周期。

【技术实现步骤摘要】
芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用


[0001]本专利技术涉及芯片开发
，尤其涉及一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用。

技术介绍

[0002]ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)包括可操作在集成电路(IC)芯片上执行高速测试的装置，可以核查存储器、逻辑和其他IC器件在其开发、加工、制造和生成过程中以及在其开发、加工、制造和生成过程之后能正常运转。具体的，ATE运用芯片设计仿真文件，将其作为芯片输入激励，通过ATE测试平台提供芯片测试环境，将芯片的输出和测试结果进行比较，以此来判定芯片的好坏。
[0003]在芯片领域，芯片量产之前，必须通过ATE测试向量(ATE pattern)进行自动化芯片测试和筛选。在芯片设计过程中，仿真文件一般是由EDA(Electronic Design Automation，电子设计自动化)仿真工具产生，由于EDA仿真工具生成的仿真文件一般不能直接为ATE所用，需要转换才能成为ATE所能识别的测试文件。目前，通常是由芯片EDA验证人员提供用于ATE测试的VCD(Value Change Dump)波形文件，ATE测试人员获取VCD波形文件后，将其转成WGL(Waveform Generation Language，波形生成语言)文件，再将WGL文件转成ATE pattern。其中，VCD波形文件是一种基于ASCII码的文件格式，用于记录由EDA仿真工具产生的信号信息，VCD波形文件是现阶段测试程序开发过程中最广泛使用的仿真文件，它以零时刻为起点，时间为横轴，主要包含0、1、x、z等电平信号的事件集合。每个信号在下一次状态发生跳变之前，一直保持上一状态，内部包含了丰富的时序信息。WGL文件则主要描述测试所需要用到的输入输出(IO)管脚信号名，以及测试过程的信息。WGL是一种数据描述性语言，描述扫描结构和状态，以及测试图形部分的时序和数值，WGL语法能够支持器件内的硬件扫描结构和测试程序的生成，允许变量定义和内嵌方程表达式，可以使用二进制格式替换ASCII码的图形数据表示。WGL的主体语法结构包括波形块、定时块、信号块、子例程块和扫描链块等。
[0004]对于VCD波形文件到WGL文件的转换，以及WGL文件到ATE pattern的转换，目前通常是通过转换脚本或购买的转换软件进行转换。然而，由于VCD文件转换后难以比对，VCD文件包含了每个管脚的全部信息，必须使用固定的周期使之周期化，在对每个周期确定时序格式时，可能会有某些时序信息的遗漏，如此转换后的信号将会跟原始的信号不同，使得转换后的WGL文件出现错误。由于转换后的WGL文件错误，使得WGL文件转换得到的ATE pattern中也包含错误，导致ATE测试结果会认为是芯片逻辑功能出现问题，产生芯片不合格的误判。上述情况属于芯片实际合格，但由于WGL文件转换存在问题导致ATE机台误筛，认为芯片不合格，导致芯片不良率增加(良率降低)，延误了芯片量产。
[0005]针对上述情况，当前往往需要排查EDA验证信息和ATE测试信息，以判断芯片是真的不合格，还是EDA文件转换成ATE pattern时出现问题导致的ATE机台误筛。但目前上述工作往往由测试人员人工侦错和排查，对于集成度高且功能复杂的芯片，其测试数据庞大，花
费了测试人员大量时间。同时，依赖于人工排查也会导致排查速度和效率低，影响整个芯片开发周期。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于：克服现有技术的不足，提供了一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用。本专利技术通过将WGL文件为仿真testbench文件和可综合testbench文件，并基于生成的仿真testbench和可综合testbench对待测芯片(DUT)进行仿真以验证WGL文件的正确性，从而能够对不正确的WGL文件进行筛查，确保提供给ATE测试端的WGL文件的正确性，能够提前排除因WGL文件转换错误而导致的芯片ATE测试结果不符合实际，降低了ATE测试的误判率，进而可以缩短芯片的整个开发周期。
[0007]为实现上述目标，本专利技术提供了如下技术方案：
[0008]一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法，包括如下步骤：
[0009]获取待验证的波形生成语言WGL文件；
[0010]通过脚本将前述WGL文件转成基于verilog语言的仿真testbench文件和基于可综合verilog语言的可综合testbench文件，所述可综合testbench文件能够综合成网表；
[0011]通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testbench文件接收到启动命令后启动运行，向待测芯片发送IO激励，并获取待测芯片的响应输出信息；
[0012]将前述响应输出信息与预设的标准输出数据进行比对以验证前述WGL文件的正确性。
[0013]进一步，当前述响应输出信息与预设的标准输出数据比对一致时，判定前述WGL文件验证通过，触发将所述WGL文件转换为ATE机台文件，所述ATE机台文件包括测试向量ATE pattern信息和时序信息。
[0014]进一步，当前述响应输出信息与预设的标准输出数据比对不一致时，判定前述WGL文件验证失败，通过用户图形界面GUI输出WGL文件错误的提醒信息。
[0015]进一步，所述脚本为python脚本。
[0016]进一步，对前述可综合testbench文件的综合网表进行功能验证，包括如下步骤，
[0017]对综合网表进行插入逻辑测试和布局布线处理以得到PR网表，将PR网表转换为bitfile文件后，将bitfile文件烧写到FPGA子板上；
[0018]上电复位启动后，通过FPGA子板将IO激励信息通过插槽发送给socket底板上的芯片，并通过FPGA子板获取前述芯片输出的实际返回值；
[0019]FPGA子板将获取的前述实际返回值与预设的理想返回值进行比对以验证可综合testbench文件的正确性。
[0020]进一步，当实际返回值与理想返回值一致时，可综合testbench文件验证测试通过，触发FPGA子板上提示灯点亮，否则判定验证测试结果为失败。
[0021]进一步，所述可综合testbench文件启动后，通过计数器将IO激励的每个周期值发送至待测芯片。
[0022]本专利技术还提供了一种芯片ATE测试中的WGL文件处理装置，包括如下结构：
[0023]接收单元，用于获取待验证的波形生成语言WGL文件；
[0024]文件转换单元，用于通过前述转换脚本将前述WGL文件转成基于verilog语言的仿真testbench文件和基于可综合verilog语言的可综合testbench文件，所述可综合testbench文件能够综合成网表；
[0025]文件验证单元，用于通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testben本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法，其特征在于包括步骤：获取待验证的波形生成语言WGL文件；通过脚本将前述WGL文件转成基于verilog语言的仿真testbench文件和基于可综合verilog语言的可综合testbench文件，所述可综合testbench文件能够综合成网表；通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testbench文件接收到启动命令后启动运行，向待测芯片发送IO激励，并获取待测芯片的响应输出信息；将前述响应输出信息与预设的标准输出数据进行比对以验证前述WGL文件的正确性。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：当前述响应输出信息与预设的标准输出数据比对一致时，判定前述WGL文件验证通过，触发将所述WGL文件转换为ATE机台文件，所述ATE机台文件包括测试向量ATE pattern信息和时序信息。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：当前述响应输出信息与预设的标准输出数据比对不一致时，判定前述WGL文件验证失败，通过用户图形界面GUI输出WGL文件错误的提醒信息。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述脚本为python脚本。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：对前述可综合testbench文件的综合网表进行功能验证，包括如下步骤，对综合网表进行插入逻辑测试和布局布线处理以得到PR网表，将PR网表转换为bitfile文件后，将bitfile文件烧写到FPGA子板上；上电复位启动后，通过FPGA子板将IO激励信息通过插槽发送给socket底板上的芯片，并通过FPGA子板获取前述芯片输出的实际返回值；FPGA子板将获取的前述实际返回值与预设的理想返回值进行比对以验证可综合testbench文件的正确性。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：当实际返回值与理想返回值一致时，可综合testbench文件验证测试通过，触发FPGA子板上提示灯点亮，否则判定验证测试结果为失败。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述可综合testbench文件启动后，通过计数器将IO端口的每个周期值发出...

【专利技术属性】
技术研发人员：高胜，赵毅辰，胡扬央，
申请(专利权)人：眸芯科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：